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内容简介

　　《现代化学专著系列：能量色散X射线荧光光谱》系统介绍了能量色散X射线荧光光谱分析所涉及的基础知识、探测器和激发源、不同类型（包括微束全聚焦、全反射等）谱仪的结构、谱处理技术、基体效应及校正、定性、半定量和定量分析测试技术、薄试样分析、样品制备、不确定度评定和标准方法及应用等。对现代能量色散和波长色散谱仪的性能作了较系统的比较，并对不同类型能量色散X射线荧光光谱在地质分析、电子电气产品中限用物质分析、文物分析和水泥原材料分析等领域的实际应用作了详细介绍。
　　《现代化学专著系列：能量色散X射线荧光光谱》基本概念清晰、图文并茂，通过实例阐述基本知识，又以基本原理解释实验现象，力求使能量色散X射线荧光光谱工作者知其所以然。《现代化学专著系列：能量色散X射线荧光光谱》可作为高等院校有关专业的教学用书，是从事X射线荧光光谱分析研究与应用人员和相关专业的研究者的一本有价值的参考书。

内页插图

目录

前言
绪论 能量色散和波长色散X射线荧光光谱的比较
§0．1 概述
§0．2 WDXRF和EDXRF谱仪色散方法
§0．3 用于WDXRF和EDXRF比较的谱仪
§0．3．1 通用EDXRF谱仪
§0．3．2 偏振和高能偏振EDXRF谱仪
§0．4 WDXRF和EDXRF谱仪本身引起的谱线干扰
§0．5 检出限
§0．6 分辨率
§0．7 准确度和精密度
§0．8 分析时间
§0．9 EDXRF和WDXRF谱仪比较小结
§0．10 EDXRF和WDXRF谱仪合为一体的谱仪
参考文献

第一章 X射线荧光光谱物理学基础
§1．1 X射线的本质和定义
§1．2 X射线与物质的相互作用
§1．2．1 光电效应和特征X射线荧光辐射的产生
§1．2．2 X射线在物质中的吸收
§1．2．3 X射线在物质中的散射
§1．2．4 X射线在物质中的衍射
§1．2．5 偏振
§1．2．6 反射和折射
§1．3 莫塞莱（Moseley）定律
§1．4 荧光产额
§1．5 谱线分数
参考文献

第二章 激发和激发源
§2．1 X射线管
§2．1．1 X射线管的基本结构
§2．1．2 X射线管靶材的选择
§2．2 原级谱激发
§2．2．1 连续谱
§2．2．2 特征X射线
§2．3 二次靶激发
§2．3．1 X射线荧光靶
§2．3．2 巴克拉（Barkla）靶
§2．3．3 布拉格靶
§2．4 放射性核素激发源
§2．5 同步辐射光源
§2．6 质子激发
参考文献

第三章 探测器
§3．1 概述
§3．2 X射线探测器的主要技术指标
§3．2．1 探测效率
§3．2．2 能量分辨率
§3．2．3 探测器的峰背比和峰尾比
§3．3 能量探测器组成
§3．4 常用的探测器简介
§3．4．1 正比计数器
§3．4．2 闪烁计数器
§3．4．3 半导体探测器
参考文献

第四章 能量色散X射线荧光光谱仪结构
§4．1 概述
§4．2 通用型和手持式EDXRF谱仪测量单元
§4．3 微束EDXRF谱仪测量单元
§4．3．1 X射线透镜及其性能
§4．3．2 微束EDXRF谱仪结构
§4．4 偏振EDXRF谱仪测量单元
§4．5 全反射EDXRF谱仪测量单元
§4．5．1 全反射EDXRF谱仪理论基础
§4．5．2 全反射EDXRF谱仪结构
§4．6 测量单元中激发系统
……
第五章 谱处理
第六章 基体效应
第七章 元素间吸收增强效应的校正
第八章 散射线在校正基体效应中的应用
第九章 定性和半定量分析
第十章 定量分析方法（1）——分析条件的设置
第十一章 定量分析方法（2）——校准曲线的制定
第十二章 定量分析（3）——镀层和薄膜材料分析
第十三章 XRF定量分析中不确定度评定
第十四章 XRF标准方法
第十五章 样品制备
第十六章 地质样品分析
第十七章 电子电气产品中限用物质分析
第十八章 文物分析
第十九章 水泥原材料分析
附录

前言/序言

　　近年来随着硅漂移探测器性能不断改进、基本参数法日益完善和谱处理电子学线路由模拟电路改为数字电路，能量色散X射线荧光光谱仪在小型化、智能化、专业化制造和应用方面有了质的飞跃，现已成为生产质量控制、生态环境监测、地质普查、医药食品检测和文物分析等诸多领域的首选分析仪器之一，被普遍应用于实验室分析、现场和原位分析。由于硅漂移探测器在300kcps情况下仍有130eV的分辨率，除超轻元素的分析外，能量色散谱仪在分析的精密度和准确度方面已基本达到波长色散谱仪的水平。
　　经过几代人的努力，我国国产的能量色散X射线荧光光谱仪已在国内市场中占有重要份额，甚至还销往多个国家，其中微束毛细管聚焦透镜的研制与生产，在国际X射线荧光学界受到普遍认可。
　　为适应X射线荧光光谱分析日益发展的需要，近十多年我国学者相继出版了一些专著，其中曹利国主编的《能量色散X射线荧光方法》于1998年出版，该书较系统地介绍方法的原理、低分辨率谱仪测试技术以及在矿山现场分析中的应用。梁钰编著的《X射线荧光光谱分析基础》（2007年9月）与罗立强等编著的《X射线荧光光谱仪》（2008年1月）相继出版。卓尚军等著的《X射线荧光光谱的基本参数法》亦于2010年11月出版。基于能量色散和波长色散X射线荧光光谱在基本原理、基体校正、定量分析和样品制备等方面有许多共性，这些书虽未对能量色散X射线荧光光谱作系统论述，但从事能量色散X射线荧光光谱的工作者依然可从上述著作中获得许多有益的知识。不过在许多方面如偏振、全反射、X光透镜、谱的接收和处理等基础知识以及在现场和原位分析中所涉及的问题等，上述专著涉及甚少或未予介绍，但这些问题对从事能量色散X射线荧光光谱工作者而言却是必不可少的。
　　作者于1974年开始从事X射线荧光光谱分析工作，主要从事基体校正和化学态等方面的应用性基础研究。1989年起在开展应用性基础研究的同时，自筹资金着手研制能量色散X射线荧光光谱仪，谱仪先后使用正比计数管、Si（Li）和Si-PIN探测器。并与中南大学赵新娜教授、满瑞林博士一起首次将偏最小二乘法用于低分辨率能量色散X射线荧光（EDXRF）光谱仪的谱处理和基体校正。经不断完善，这些仪器在20世纪90年代成功地应用于镀Zn层和ZnFe合金层生产质量控制、大洋锰结核和铜矿现场分析、不锈钢中多元素分析等。1998年12月我由中国科学院上海硅酸盐研究所退休，至2010年5月在帕纳科公司任顾问。在这期间虽以较多精力解决不同用户的实际问题与教学培训工作，但也积累了许多经验，接触了该公司最新产品信息和应用报告，这些均有助于对基础知识的理解和对实践中出现的问题的思考。与此同时这几年国内外学者在EDXRF谱仪的基础研究和应用研究取得了不少进展。基于上述诸点，我于2009年5月着手组织撰写本书，欲将多年的积累奉献给读者，希望对从事X射线荧光光谱研究与实际工作的科研技术人员能有所帮助。
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