店铺： 智博天恒图书专营店
出版社： 国防工业出版社
ISBN：9787118099867
商品编码：29371758609
包装：平装
出版时间：2015-05-01
具体描述
| 图书基本信息 | |
| 图书名称 | 单板级JIAG测试技术 |
| 作者 | 王承,刘治国著 |
| 定价 | 58.00元 |
| 出版社 | 国防工业出版社 |
| ISBN | 9787118099867 |
| 出版日期 | 2015-05-01 |
| 字数 | |
| 页码 | |
| 版次 | 1 |
| 装帧 | 平装 |
| 开本 | 大32开 |
| 商品重量 | 0.4Kg |
| 内容简介 | |
| 本书主要内容包括：基本概念、IEEE1149.X标准、单板级可测性设计、边界扫描测试应用、内建自测试技术、处理器测试技术、嵌入式测试技术。 本书适合于相关领域工程技术人员阅读，也可作为高等院校电子信息、通信、测试测控、自动化等专业高年级学生或研究生的教学参考书。 |
| 作者简介 | |
| 目录 | |
| 编辑推荐 | |
| 文摘 | |
| 序言 | |
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