| 圖書基本信息 | |||
| 圖書名稱 | 超大規模集成電路-基礎.設計.製造工藝 | 作者 | (日)電子信息通信學會 組編,岩田 穆,角南英 |
| 定價 | 42.00元 | 齣版社 | 科學齣版社 |
| ISBN | 9787030202789 | 齣版日期 | 2008-01-01 |
| 字數 | 頁碼 | ||
| 版次 | 1 | 裝幀 | 平裝 |
| 開本 | 16開 | 商品重量 | 0.422Kg |
| 內容簡介 | |
| 本書共分為上下兩篇,上篇為基礎設計篇,主要介紹VLSI的特徵及作用、VLSI的設計、邏輯電路、邏輯VLSI、半導體存儲器、模擬VLSI、VLSI的設計法與構成法、VLSI的實驗等;下篇為製造工藝篇,主要介紹集成工藝、平闆印刷、刻蝕、氧化、不純物導入、絕緣膜堆積、電極與配綫等。 本書內容豐富,條理清晰,實用性強,既可供超大規模集成電路研發和設計人員及半導體生産單位管理人員使用,也可作為各院校集成電路相關專業的本科生、研究生及教師的參考書。 |
| 作者簡介 | |
| 目錄 | |
| 上篇 基礎與設計 章 VLSl的特徵及任務 1.1 VLSl的概念與基本技術 1.1.1 VLSl的基本技術與發明 1.1.2 學科體係 1.2 VLSl的種類 1.2.1 按功能分類 1.2.2 按器件分類 1.3 半導體技術路綫圖 1.4 對係統的影響 1.4.1 計算機係統 1.4.2 通信網絡係統 1.4.3 數字傢電係統 第2章 VLSl的器件 2.1 VLSl的構成要素 2.2 MOS晶體管 2.2.1 MOS的基本構造 2.2.2 MOS的工作原理與工作區域 2.2.3 MOS的電流電壓特性 2.2.4 MOS的器件模型 2.2.5 MOS的等效電路模型 2.3 二極管 2.4 電阻 2.5 電容 2.6 電感 2.7 器件隔離 2.8 布綫 2.8.1 多層布綫 2.8.2 布綫電容 2.9 VLSl技術的比例縮小法則 第3章 邏輯電路 3.1 CMOS邏輯電路 3.1.1 倒相器 3.1.2 NAND門 3.1.3 NOR門 3.1.4 傳輸門 3.1.5 選擇器 3.1.6 異或門 3.1.7 CMOS復閤門 3.1.8 時鍾CMOS邏輯電路 3.1.9 動態CMOS邏輯電路 3.1.10 電流型邏輯電路 3.2 CMOS邏輯電路的工作速度 3.2.1 門延遲時間 3.2.2 布綫的延遲時間 3.3 CMOS邏輯電路的功率消耗 3.3.1 CMOS邏輯電路消耗功率的因素 3.3.2 CMOS-VLSl的功率消耗 3.4 控製電路 3.4.1 寄存器 3.4.2 同步係統 3.4.3 計數器 第4章 邏輯VLSl 4.1 數字運算電路 4.1.1 加法運算 4.1.2 減法電路 4.1.3 乘法運算 4.2 時鍾的發生與分配 …… 第5章 半導體存儲器 第6章 模擬VLSI 第7章 無綫通信電路 第8章 VLSI的設計方法及構成方法 第9章 VLSI的測試 下篇 製造工藝 0章 LSI的製造工藝及其課題 1章 集成化工藝 2章 平版印刷術 3章 腐蝕 4章 氧化 5章 摻雜 6章 澱積絕緣膜 7章 電極和布綫 8章 後工序——封裝 引用參考文獻 |
| 編輯推薦 | |
| 文摘 | |
| 序言 | |
說實話,選擇這本書是因為我需要一本能夠橫跨“基礎理論”到“先進製造”的橋梁書。我的背景更偏嚮於軟件和係統架構,但現在被要求參與到前端硬件選型和IP集成的決策中。我需要迅速建立起對現代半導體製造流程的整體認知,特彆是不同工藝節點之間的代際差異及其對邏輯門延時和功耗的影響機製。這本書的章節劃分似乎非常符閤這種需求,它不像某些純理論書籍那樣陷入晦澀的量子力學,也不像某些純工具手冊那樣缺乏原理支撐。我希望它能用一種清晰、結構化的方式,將復雜的半導體物理、光刻技術、薄膜沉積等工藝環節,與最終電路的性能指標(如頻率、麵積、功耗)清晰地關聯起來。如果書中包含瞭對先進封裝技術(如2.5D/3D集成)的初步探討,那就太棒瞭,因為這代錶著未來芯片設計的關鍵方嚮。這本書的廣度和深度,讓我相信它是一個能幫助我快速建立起完整領域地圖的優秀嚮導,而非僅僅是一本特定問題的解答手冊。
評分說實話,我購買這本書是衝著它在業內的一些口碑去的,大傢都說這是該領域的“聖經”之一。我最近在嘗試將一個復雜的算法模型部署到低功耗FPGA平颱上,遇到的最大瓶頸就是資源調度和功耗控製。這本書的第三部分——“設計流程與工具鏈集成”——的描述非常吸引我。我迫切想知道,書中是如何係統地闡述從RTL級代碼到最終版圖實現的每一步工藝約束和優化策略的。尤其是對於良率分析和測試性設計(DFT)的探討,這對我當前的項目至關重要,因為我們正麵臨批次間性能波動較大的問題。我希望書中能提供一些紮實的數學模型或案例分析,而不是僅僅停留在概念層麵。我翻閱瞭其中關於版圖布局與布綫算法的章節簡介,感覺內容非常詳實,涉及到瞭時序收斂和熱點分析的專業知識。如果能找到關於如何在高密度集成下有效管理信號串擾和電磁乾擾的深入論述,那對我來說絕對是物超所值。這本書的深度似乎能夠滿足我這種有一定經驗的設計師嚮更高階設計挑戰的需求,它更像是一個知識庫,隨時可以檢索和查閱疑難點。
評分這本書的裝幀和紙張質量給我留下瞭深刻的印象,它拿在手裏沉甸甸的,透著一股可靠感。我主要關注的是與下一代存儲技術相關的章節,因為我們團隊正在探索非易失性存儲器在AI加速器中的應用。我希望書中能對新型晶體管結構,比如FinFET之後的Gate-All-Around (GAA) 結構在集成電路中的具體應用和設計挑戰有詳盡的描述。我對那些理論性太強、脫離實際工藝限製的討論不感興趣,我更需要的是那些能在實際流片中被驗證和參考的經驗。這本書的理論深度與工程實踐的平衡性是決定我是否會長期保留它的關鍵。我注意到其中提到瞭幾位在半導體領域享有盛譽的專傢參與瞭編撰,這極大地增強瞭我對內容權威性的信任。我希望能從中找到關於如何在新工藝節點下進行低功耗、高性能設計的係統性指導方針,畢竟,每一個微小的設計決策在超大規模芯片上都會被放大。如果書中能加入一些現代EDA工具的使用心得或者流程自動化的討論,那就更完美瞭,畢竟手動處理萬億級晶體管的設計已不再現實。
評分我是在一個研討會上被推薦這本書的,當時的主題是關於芯片設計的可靠性問題。我是一個負責係統級驗證的工程師,對我而言,理解底層器件的缺陷和製造過程中的隨機變化,對於構建健壯的驗證環境至關重要。這本書中關於製造工藝容錯性和統計性設計(Statistical Design)的部分,我非常期待能有深入的解讀。我尤其關注它如何講解變異性(Variability)是如何影響時序和功耗的,以及設計人員應該如何通過設計手段來補償這些來自製造端的不可控因素。我傾嚮於那種能夠提供清晰的“如果A發生,那麼我們應該這樣做以保持B”的邏輯推導的書籍。這本書的結構似乎非常嚴謹,從材料科學的角度審視芯片的物理實現,這有助於我跳齣純粹的數字邏輯層麵,從更本質的角度去理解係統行為的潛在風險。如果書中能提供一些實際的故障注入和敏感度分析的案例,那將是對我日常工作效率的巨大提升,讓我能夠更早地發現那些潛伏在物理層麵的“定時炸彈”。
評分這本書的封麵設計真是讓人眼前一亮,那種深邃的藍色調,配上簡潔有力的白色字體,給人一種既專業又充滿科技感的印象。我拿到手的時候,首先吸引我的就是它的厚度,顯然,這不僅僅是一本入門讀物,更像是一本工具書級彆的存在。我本來對手頭的另一個項目有點迷茫,希望能找到一些關於係統架構優化的思路,翻開目錄時,我對那些宏大的章節標題感到非常振奮,比如“先進工藝節點的物理限製與突破”這種描述,立刻讓我意識到作者對整個領域的前沿動態有著深刻的洞察。雖然我目前的工作重心還不在製造工藝的底層細節上,但我相信,理解這些基礎原理,對於未來設計齣更具競爭力的芯片是至關重要的。這本書的排版也處理得非常到位,圖文並茂,很多關鍵概念都有清晰的示意圖輔助理解,這對於學習復雜技術非常有幫助。我尤其欣賞它在邏輯流程上的編排,似乎是從最基礎的半導體物理開始,層層遞進地構建起整個超大規模集成電路的知識體係,這讓初學者也能找到清晰的學習路徑,而無需被那些艱深的術語所嚇倒。我期待著深入研讀其中關於設計流程標準化的部分,希望能從中汲取一些改進我當前工作流程的靈感,讓我的設計驗證效率能再上一個颱階。
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