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作  者:(瑞士)彼得·塞茨(Peter Seitz),(荷)艾伯特 J.P.塞尤维森(Albert J.P.Theuwissen) 著；孙志斌 等 译 定  价:89 出 版 社:国防工业出版社 出版日期:2015年08月01日 页  数:304 装  帧:平装 ISBN:9787118102451 ●第1章光电子噪声基础
●1.1引言
●1.2束缚体系中电磁辐射、电子电荷和能级的量子表征
●1.3泊松分布的基本特性
●1.4辐射与物质的相互作用
●1.5光源的噪声特性
●1.5.1相干光（单模激光器）
●1.5.2热（白炽的）光源
●1.5.3部分相干光（气体放电灯）
●1.5.4发光二极管
●1.6“单光子成像”的意义
●1.7固态物质的能带模型
●1.8电磁辐射的半导体探测
●1.8.1量子效率和能带结构
●1.8.2热平衡和非平衡时的载流子浓度
●1.8.3暗电流
●1.8.4雪崩效应和过噪声系数
●1.9电荷的电子探测
●1.9.1电子及其噪声的基本特性
●1.9.2电子电荷探测的基本电路
●部分目录

内容简介

本书内容涵盖单光子成像的基本概念、理论及其相关分析，本书还对单光子成像探测器件种类、结构、性能和技术的深入剖析，而且还就单光子成像在X射线探测、宇宙高能粒子、测距成像、天文观测和分子生物学等方面的应用技术和方法。本书对单光子成像理论、技术和应用进行全面、系统、透彻的分析和讲解。 (瑞士)彼得·塞茨(Peter Seitz),(荷)艾伯特 J.P.塞尤维森(Albert J.P.Theuwissen) 著；孙志斌 等 译 孙志斌，*国科学院国家空间科学中心副研究员。主要研究方向为空间光电子技术和空间科学实验技术等。
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