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作  者:(瑞士)彼得·塞茨(Peter Seitz),(荷)艾伯特 J.P.塞尤維森(Albert J.P.Theuwissen) 著；孫誌斌 等 譯 定  價:89 齣 版 社:國防工業齣版社 齣版日期:2015年08月01日 頁  數:304 裝  幀:平裝 ISBN:9787118102451 ●第1章光電子噪聲基礎
●1.1引言
●1.2束縛體係中電磁輻射、電子電荷和能級的量子錶徵
●1.3泊鬆分布的基本特性
●1.4輻射與物質的相互作用
●1.5光源的噪聲特性
●1.5.1相乾光（單模激光器）
●1.5.2熱（白熾的）光源
●1.5.3部分相乾光（氣體放電燈）
●1.5.4發光二極管
●1.6“單光子成像”的意義
●1.7固態物質的能帶模型
●1.8電磁輻射的半導體探測
●1.8.1量子效率和能帶結構
●1.8.2熱平衡和非平衡時的載流子濃度
●1.8.3暗電流
●1.8.4雪崩效應和過噪聲係數
●1.9電荷的電子探測
●1.9.1電子及其噪聲的基本特性
●1.9.2電子電荷探測的基本電路
●部分目錄

內容簡介

本書內容涵蓋單光子成像的基本概念、理論及其相關分析，本書還對單光子成像探測器件種類、結構、性能和技術的深入剖析，而且還就單光子成像在X射綫探測、宇宙高能粒子、測距成像、天文觀測和分子生物學等方麵的應用技術和方法。本書對單光子成像理論、技術和應用進行全麵、係統、透徹的分析和講解。 (瑞士)彼得·塞茨(Peter Seitz),(荷)艾伯特 J.P.塞尤維森(Albert J.P.Theuwissen) 著；孫誌斌 等 譯 孫誌斌，*國科學院國傢空間科學中心副研究員。主要研究方嚮為空間光電子技術和空間科學實驗技術等。
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