數字集成電路測試優化 李曉維 9787030278944 pdf epub mobi txt 電子書 下載 2025

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李曉維 著

圖書標籤:

• 數字電路
• 集成電路
• 測試
• 優化
• VLSI
• EDA
• 芯片測試
• 故障診斷
• 可靠性
• 半導體

店鋪： 天樂圖書專營店

齣版社： 科學齣版社

ISBN：9787030278944

商品編碼：29689339414

包裝：精裝

齣版時間：2010-06-01

基本信息

書名：數字集成電路測試優化

定價：58.00元

作者：李曉維

齣版社：科學齣版社

齣版日期：2010-06-01

ISBN：9787030278944

字數：

頁碼：

版次：1

裝幀：精裝

開本：16開

商品重量：0.740kg

編輯推薦

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內容提要

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本書內容涉及數字集成電路測試優化的三個主要方麵：測試壓縮、測試功耗優化、測試調度。包括測試數據壓縮的基本原理，激勵壓縮的有效方法，測試響應壓縮方法和電路結構；測試功耗優化的基本原理，靜態測試功耗優化方法，動態測試功耗優化；測試壓縮與測試功耗協同優化方法；測試壓縮與測試調度協同優化方法；並以國産64位高性能處理器(龍芯2E和2F)為例介紹瞭相關成果的應用。
全書闡述瞭作者及其科研團隊自主創新的研究成果和結論，對緻力於數字集成電路測試與設計研究的科研人員(尤其是在讀研究生)具有較大的學術參考價值，也可用作集成電路專業的高等院校教師、研究生和高年級本科生的教學參考書。

目錄

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作者介紹

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文摘

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序言

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《現代集成電路設計與驗證》 內容簡介 在信息時代飛速發展的浪潮中，集成電路（IC）作為現代電子係統的核心，其性能、功耗和可靠性直接關係到整個科技産業的進步。從智能手機到高性能服務器，從汽車電子到航空航天，集成電路無處不在，深刻地改變著我們的生活和工作方式。然而，隨著集成電路設計的復雜度呈指數級增長，如何高效、準確地完成設計和驗證，確保芯片能夠順利流片並滿足預期的功能和性能要求，已成為當前集成電路領域麵臨的重大挑戰。《現代集成電路設計與驗證》正是聚焦於這一核心議題，旨在為讀者提供一套係統、深入的集成電路設計與驗證方法論和實踐指南。 本書從理論基礎齣發，循序漸進地闡述瞭現代集成電路設計的全流程，涵蓋瞭從係統級規範到最終版圖輸齣的每一個關鍵環節。首先，本書深入探討瞭數字集成電路設計的基本原理，包括邏輯設計、狀態機設計、時序分析、功耗優化等核心概念。讀者將學習如何使用硬件描述語言（HDL），如Verilog或VHDL，來抽象描述電路的功能，並理解如何將高層次的抽象設計轉化為低層次的門級網錶。 在邏輯設計之後，本書詳細介紹瞭集成電路的綜閤（Synthesis）過程。綜閤是將HDL代碼轉化為由標準邏輯門組成的網錶的過程，是連接設計到物理實現的橋梁。本書將深入講解綜閤的優化目標，例如麵積（Area）、時序（Timing）和功耗（Power）的權衡，以及如何通過調整綜閤選項和約束來指導綜閤工具達到最佳結果。讀者將理解不同綜閤策略的優缺點，並學會如何根據項目需求選擇閤適的綜閤方案。 時序分析（Timing Analysis）是保證集成電路穩定運行的關鍵環節。本書將詳盡闡述靜態時序分析（STA）的原理，包括建立時間（Setup Time）和保持時間（Hold Time）違例的産生原因、檢測方法和修復策略。讀者將學習如何解讀STA報告，識彆關鍵路徑，並掌握通過邏輯修改、時鍾調整或插入緩衝器等手段來解決時序問題。此外，對於動態時序分析（DTA）在某些復雜場景下的應用，本書也將有所涉獵。 功耗分析與優化是現代集成電路設計中越來越受到重視的方麵，尤其是在移動設備和物聯網領域。本書將全麵介紹數字集成電路的功耗來源，包括動態功耗和靜態功耗，並深入探討各種功耗優化技術，如時鍾門控（Clock Gating）、功率門控（Power Gating）、動態電壓頻率調整（DVFS）以及低功耗設計技術（如多閾值電壓CMOS，MTCMOS）。讀者將學會如何利用仿真和靜態分析工具來評估電路的功耗，並掌握如何在設計早期就采取有效的功耗管理措施。 布局布綫（Place and Route）是集成電路物理設計中的核心任務，它將綜閤後的門級網錶映射到實際的芯片版圖上。本書將詳細介紹布局（Placement）和布綫（Routing）的基本算法和策略，包括標準單元布局、宏單元布局、全局布綫、詳細布綫以及信號完整性（Signal Integrity）和電源完整性（Power Integrity）的考慮。讀者將理解不同布局布綫技術的特點，以及如何通過優化設計和調整工具參數來獲得高性能、低功耗和高良率的物理實現。 驗證（Verification）是確保集成電路設計正確性的關鍵步驟。本書將係統介紹集成電路驗證的各個層麵，從功能驗證到形式驗證，再到最後的物理驗證。功能驗證是驗證過程中最耗時和最復雜的部分，本書將重點介紹基於仿真（Simulation-based）的驗證方法，包括測試平颱（Testbench）的構建、激勵的生成、檢查點（Checkpoints）的設置以及覆蓋率（Coverage）的度量。讀者將學習如何利用先進的驗證方法學，如事務級建模（TLM）、約束隨機驗證（Constrained-Random Verification）和斷言（Assertions），來提高驗證的效率和有效性。 形式驗證（Formal Verification）作為一種強大的驗證手段，能夠提供完備的功能正確性證明。本書將介紹關鍵的形式驗證技術，如模型檢查（Model Checking）和等價性檢查（Equivalence Checking），並闡述它們在驗證芯片設計中的應用場景和優勢。 物理驗證（Physical Verification）是驗證集成電路物理實現是否符閤設計規則（DRC）和電氣規則（ERC）的過程。本書將深入講解DRC檢查、LVS（Layout Versus Schematic）檢查、以及金屬填充（Metal Fill）和天綫效應（Antenna Effect）的修復等物理驗證環節。讀者將理解物理驗證對流片成功的重要性，並學會如何使用相關的驗證工具來發現和修復潛在的物理設計缺陷。 此外，本書還將涵蓋一些與現代集成電路設計驗證緊密相關的重要主題。例如，在係統級設計方麵，本書將介紹係統級建模和仿真技術，以及如何從係統級規格齣發，逐步細化到RTL設計，從而提高設計的早期可控性。對於先進工藝節點下的設計挑戰，本書也將有所探討，包括寄生參數提取、串擾（Crosstalk）效應、以及可靠性（Reliability）等問題。 為瞭幫助讀者更好地理解和掌握所學知識，本書在每個章節都配有豐富的實例和練習，並結閤瞭行業內常用的EDA（Electronic Design Automation）工具的使用技巧。通過理論學習與實踐操作相結閤，讀者將能夠逐步構建起堅實的集成電路設計與驗證知識體係，並具備獨立完成中小型集成電路項目設計和驗證的能力。 《現代集成電路設計與驗證》不僅適閤於高等院校的電子工程、微電子學、計算機科學等相關專業的學生，也能夠為從事集成電路設計、驗證、工藝開發等工作的工程師提供寶貴的參考和指導。通過學習本書，讀者將能夠深刻理解現代集成電路設計與驗證的復雜性與重要性，掌握先進的設計和驗證方法，從而在快速發展的集成電路行業中取得成功。

評分☆☆☆☆☆

我最近淘到一本關於集成電路測試和優化的書，名字叫《數字集成電路測試優化》，作者是李曉維，書號是9787030278944。說實話，我對這個領域一直抱有濃厚的興趣，但市麵上很多教材要麼過於理論化，要麼不夠貼近實際工程應用。這本書的齣現，著實讓我眼前一亮。它不像那種堆砌公式的教科書，而是真正深入到瞭實際的測試流程和優化策略中去。尤其讓我印象深刻的是，書中對設計中潛在的測試難題進行瞭深入剖析，並提齣瞭切實可行的解決方案。比如，在處理高復雜度的SoC（係統級芯片）設計時，如何高效地生成測試嚮量，如何降低測試成本，這些都是工程師們頭疼的問題，而這本書裏給齣瞭不少獨到的見解和算法上的改進。我感覺作者不僅是理論功底紮實，更重要的是，他非常理解業界的需求，行文風格上，既有學術的嚴謹性，又不失工程實踐的靈活性，讀起來一點也不枯燥，反而像是在跟一位經驗豐富的同行交流心得。那種把復雜問題層層剝開，直到看到本質的寫作手法，非常能激發讀者的學習熱情。

評分☆☆☆☆☆

坦率地說，一開始拿到這本《數字集成電路測試優化》時，我還有點擔心它會太偏嚮於理論推導，畢竟涉及到優化的內容，往往容易變得枯燥乏味。但事實證明我的顧慮是多餘的。這本書在理論與實踐的平衡上拿捏得恰到好處。它不僅僅是告訴我們測試很重要，而是深入到瞭如何通過優化手段，在保證測試質量的前提下，最大程度地縮短測試時間並降低測試成本。我特彆欣賞作者對於“成本效益”這一工程核心理念的貫徹。比如，在討論掃描鏈設計時，它不僅給齣瞭最優化的拓撲結構，還詳細分析瞭不同結構對測試時間和功耗的影響。這種全方位的考量，體現瞭作者對整個芯片生命周期管理的深刻理解。讀完前幾章後，我立刻迴去審視瞭我們現有項目中的測試策略，發現瞭很多可以改進的空間，特彆是關於片上自測（BIST）部分的講解，給瞭我不少啓發，感覺自己的技術視野一下子開闊瞭很多，不再局限於固有的思維定式。

評分☆☆☆☆☆

作為一名資深工程師，我閱讀過不少關於EDA工具和IC流程的書籍，但很少有能像《數字集成電路測試優化》這樣，將“優化”二字做到如此細緻入微的。書中對測試壓縮技術和BIST參數選擇的詳細論述，給我留下瞭極其深刻的印象。特彆是關於如何利用統計學原理來優化測試序列生成，這部分內容深入淺齣，讓我對原本感覺高不可攀的優化理論有瞭更實際的把握。此外，書中對不同工藝節點下的測試挑戰也有所涉及，這對於身處快速迭代的半導體行業中的人來說至關重要。它不是一本停留在理論層麵的“睡前讀物”，而是能讓你在實際工作中立刻找到應用的“工具箱”。每一次翻閱，都會有新的收獲，因為你會發現自己對某個細節的理解又加深瞭一層。這本書無疑是數字集成電路測試領域裏的一部力作，值得所有相關領域的專業人士珍藏和研讀。

評分☆☆☆☆☆

這本書的語言風格非常獨特，它不是那種刻闆的學術腔調，而更像是一位資深專傢在娓娓道來，字裏行間透露著他對這個領域的深刻洞察和熱愛。作者在解釋復雜概念時，總是能保持一種清晰、簡潔的敘述方式，避免瞭不必要的專業術語堆砌，使得即便是初次接觸這個領域的讀者，也能相對平順地進入狀態。我注意到書中很多關於“可測試性設計”（DfT）的章節，都融入瞭對未來趨勢的預測，比如對新興的存儲器測試技術和低功耗測試挑戰的討論，這讓這本書的時效性非常強，不像是齣版已有一段時間的書籍。更難能可貴的是，作者在提供解決方案的同時，也會探討每種方案的局限性，這是一種非常負責任的學術態度，它教會我們不要迷信任何單一的最佳方案，而是要根據具體的設計約束靈活選擇。這種辯證的思維方式，對提升讀者的批判性思維非常有幫助。

評分☆☆☆☆☆

這本書的結構編排真的值得稱贊，它沒有采用那種流水賬式的章節推進，而是非常有邏輯地將測試的各個關鍵環節串聯起來，形成瞭一個完整的知識體係。我特彆喜歡它在講解測試覆蓋率和故障模型時的深度和廣度。很多書隻是簡單提一下Stuck-at故障，但這本卻詳細闡述瞭更先進的延遲故障模型以及如何針對這些復雜故障設計有效的測試激勵。閱讀過程中，我發現作者在論述某些優化算法時，會穿插一些非常形象的比喻和類比，這極大地幫助我理解瞭那些抽象的數學概念。例如，在描述迭代優化過程時，他用瞭一個生活中的例子來類比，瞬間就讓晦澀的算法變得直觀易懂瞭。這本書的圖錶繪製得也十分精良，那些時序圖、流程圖和結構圖，無一不精確地服務於文字的闡述，讓人一眼就能抓住重點。對於正在從事或者準備從事IC設計驗證和DFT（設計可測性）工作的年輕工程師來說，這本書簡直就是一本實戰寶典，它教會你的不僅僅是“怎麼做”，更是“為什麼這樣做”。