CMOS集成电路设计手册(第3版)(模拟电路篇) 畅销书籍 正版模拟电路篇(第3版)/CC

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美 R. Jacob Baker著 著
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店铺: 智胜图书专营店
出版社: 人民邮电出版社
ISBN:9787115337719
商品编码:29800354489
包装:平装
出版时间:2014-04-01

具体描述

基本信息
商品名称: CMOS集成电路设计手册(第3版)(模拟电路篇) 畅销书籍 正版模拟电路篇(第3版)/CCMOS集成电路设计手册 开本:
作者: (美) R. Jacob Baker著 页数:
定价: 89.00元 出版时间: 2014-04-01
ISBN号: 9787115337719 印刷时间:
出版社: 人民邮电出版社 版次: 1
商品类型: 印次:
插图














目录 内容提要 《CMOS集成电路设计手册》讨论了CMOS电路设计的工艺、设计流程、EDA工具手段以及数字、模拟集成电路设计,并给出了一些相关设计实例,内容介绍由浅入深。该著作涵盖了从模型到器件,从电路到系统的全面内容,是一本的、综合的CMOS电路设计的工具书及参考书。
《CMOS集成电路设计手册》是英文原版书作者近30年教学、科研经验的结晶,是CMOS集成电路设计领域的一本力作。《CMOS集成电路设计手册》已经过两次修订,目前为第3版,内容较第2版有了改进,补充了CMOS电路设计领域的一些新知识,使得本书较前一版内容更加详实。
为了方便读者有选择性地学习,将《CMOS集成电路设计手册》分成3册出版,分别为基础篇、数字电路篇和模拟电路篇,本书为模拟电路篇,介绍了电流源、电压源、放大器、数据转换器等电路的设计与实现。
《CMOS集成电路设计手册(第3版模拟电路篇)》可以作为CMOS模拟电路知识的重要参考书,对工程师、科研人员以及高校师生都有着较为重要的参考意义。
编辑推荐 《CMOS集成电路设计手册(第3版模拟电路篇)》是IEEE微电子系统经典图书、电子与计算机工程领域获奖作。《CMOS集成电路设计手册(第3版模拟电路篇)》是CMOS集成电路设计领域的书籍,特色鲜明:
深入讨论了模拟和数字晶体管级的设计技术;
结合使用了CMOSedu.(提供了许多计算机辅助设计工具的应用案例)的在线资源
详细讨论了锁相环和延迟锁相环、混合信号电路、数据转换器以及电路噪声
给出实际工艺参数、设计规则和版图实例
给出上百个设计实例、相关讨论以及章后习题
揭示了晶体管级设计中所需要考虑的各方面要求 作者介绍 R.Jacob(Jake)Baker是一位工程师、教育以及发明。他有超过20年的工程经验并在集成电路设计领域拥有超过200项的。Jake也是多本电路设计图书的作者。

《CMOS集成电路设计手册(第3版)(模拟电路篇)》是一本深入探讨CMOS模拟集成电路设计原理、技术与实践的权威参考书。本版在延续前两版严谨学术风格的基础上,大幅更新了内容,紧密结合当前CMOS工艺技术的最新发展和行业需求,为读者提供了一套全面、系统且极具实践指导意义的模拟电路设计知识体系。 本书分为多个章节,每个章节都围绕CMOS模拟电路设计的核心环节展开,力求为读者构建一个由浅入深、层层递进的学习路径。 第一章:CMOS器件模型与基础特性 本章是理解CMOS模拟电路设计的基础。它详细介绍了MOSFET(金属氧化物半导体场效应晶体管)在CMOS工艺中的基本结构、工作原理以及不同工作区(亚阈值区、线性区、饱和区)下的伏安特性。重点阐述了两种主要的MOSFET类型——NMOS和PMOS的特性差异与互补性,这对于设计高效率、高性能的模拟电路至关重要。 器件物理模型: 深入剖析了MOSFET的电流-电压关系,包括了短沟道效应、沟道长度调制、体效应、亚阈值跨导等关键非理想效应。通过对二阶模型和更精确的SPICE模型进行介绍,帮助读者理解这些效应在实际电路设计中的影响。 工艺参数与模型提取: 详细讲解了CMOS工艺参数(如阈值电压、氧化层厚度、载流子迁移率等)对器件特性的影响,以及如何通过模型提取过程获得准确的器件模型,从而进行精确的电路仿真。 寄生效应: 关注了CMOS工艺中不可避免的寄生效应,如衬底结电容、栅漏电容、源漏结电容以及金属互连线的电阻和电容,并分析了它们对电路性能(如频率响应、噪声、功耗)的影响。 CMOS晶体管的直流和交流特性: 对CMOS晶体管的跨导、输出电阻、输入电容、输出电容等关键参数进行了详细分析,为后续章节的电路设计提供了基础参数。 第二章:CMOS基本模拟电路模块 本章聚焦于CMOS模拟电路设计中最基本、最核心的构建模块,为读者打下坚实的电路设计基础。 电流源与电压源: 介绍了各种CMOS电流源和电压源的设计方法,包括简单的二极管连接、恒流源、恒压源,以及更加精确的、具有高输出阻抗和低输出阻抗的电流源和电压源。重点分析了这些源的精度、温度稳定性、电源抑制比(PSRR)和噪声性能。 放大器(Amplifier): 这是模拟电路的核心。本章详细介绍了CMOS技术下的各种放大器拓扑结构,包括: 共源放大器(Common-Source Amplifier): 分析其电压增益、输入电阻、输出电阻、频率响应和噪声。 共栅放大器(Common-Gate Amplifier): 讲解其电压增益、输入电阻、输出电阻以及在提高输出阻抗和频率性能方面的作用。 共漏放大器(Common-Drain Amplifier,也称源极跟随器): 重点分析其电压跟随特性、高输入电阻、低输出电阻以及在缓冲器设计中的应用。 差分放大器(Differential Amplifier): 详细探讨了差模增益、共模增益、共模抑制比(CMRR)、输入失调电压等关键参数,并介绍了全差分差分放大器的结构和优势。 多级放大器(Multi-stage Amplifier): 讲解如何通过级联放大器来获得更高的增益,并分析了级联带来的频率响应和稳定性问题。 有源负载(Active Load): 讲解了如何利用MOSFET自身构成有源负载,以替代高阻值的电阻,从而减小电路面积和功耗,并提高增益。介绍了电流镜(Current Mirror)作为一种重要的有源负载技术,包括其基本结构、精度限制(如输出电阻、失配效应)以及各种改进型电流镜。 第三章:CMOS运算放大器(Operational Amplifier)设计 运算放大器是模拟集成电路中最重要、应用最广泛的单元。本章将深入探讨CMOS运算放大器的设计细节。 基本运算放大器拓扑: 单级运算放大器(Single-Stage Op-Amp): 如共源-共栅(Cascode)结构的运算放大器,以及采用有源负载的单级放大器。 两级运算放大器(Two-Stage Op-Amp): 这是最常见的CMOS运放结构,包括输入差分对级和输出增益级。详细分析了这种结构在增益、带宽、相位裕度、输出摆幅等方面的权衡。 折叠式共源-共栅运算放大器(Folded Cascode Op-Amp): 讲解其在减小输入失调电压、提高输入共模范围方面的优势。 稳定性与补偿(Stability and Compensation): 频率响应分析: 讲解了单位增益带宽(GBW)、相位裕度(Phase Margin)等指标,以及它们对电路稳定性的重要性。 补偿技术: 详细介绍了多种补偿技术,如密勒补偿(Miller Compensation)、零点补偿(Zero Compensation)等,以确保放大器在各种负载条件下都能稳定工作。 性能指标与优化: 增益(Gain): 分析了直流增益、开环增益的来源和限制,以及提高增益的策略。 带宽(Bandwidth): 讨论了单位增益带宽与功耗、噪声的权衡,以及提高带宽的方法。 输出摆幅(Output Swing): 分析了输出电压范围的限制因素,如电源电压、器件工作区等。 功耗(Power Consumption): 讨论了不同结构和偏置条件下功耗的差异,以及低功耗设计技术。 噪声(Noise): 详细分析了CMOS放大器中的各种噪声源(热噪声、闪烁噪声),以及降低噪声的设计技巧。 失真(Distortion): 分析了谐波失真(HD)和互调失真(IMD),以及降低失真的设计方法。 共模抑制比(CMRR)和电源抑制比(PSRR): 讲解了这两个指标的重要性,以及如何通过电路设计来提高它们。 输入失调电压(Input Offset Voltage): 分析了失调电压的来源(器件失配),以及低失调电压设计技术。 第四章:CMOS线性电源与低压差线性稳压器(LDO) 本章专注于CMOS线性电源的设计,特别是低压差线性稳压器(LDO)。 LDO基本原理: 详细阐述了LDO的工作原理,包括误差放大器、带隙基准源、反馈网络和串联调整管。 LDO的性能指标: 重点分析了LDO的关键性能指标,如压差(Dropout Voltage)、负载调整率(Load Regulation)、线路调整率(Line Regulation)、纹波抑制比(PSRR)、瞬态响应(Transient Response)和输出噪声。 LDO的设计技巧: 介绍了各种提高LDO性能的设计方法,例如: 降低压差: 通过采用P沟道MOSFET作为调整管,以及设计低功耗、高增益的误差放大器。 提高PSRR: 利用多级反馈和优化误差放大器的频率响应。 改善瞬态响应: 通过优化补偿网络和采用快速响应的误差放大器。 低噪声设计: 关注基准源和误差放大器的噪声抑制。 各种LDO拓扑: 介绍了常见的LDO拓扑,如带PMOS调整管的LDO、带NMOS调整管的LDO、以及采用更先进技术的LDO。 第五章:CMOS数模混合信号电路的接口技术 本章将探讨CMOS模拟电路与数字电路相结合时的关键技术,特别是数模混合信号系统中的接口电路设计。 采样保持电路(Sample-and-Hold Circuit): 详细介绍采样保持电路的工作原理、关键性能指标(如采样时间、保持时间、开关损耗、电荷注入、跟踪误差、漏电效应)以及CMOS采样保持电路的设计。 数模转换器(DAC)与模数转换器(ADC)接口: ADC的输入接口: 讲解了ADC输入端的信号调理、驱动和缓冲电路的设计,以及对ADC性能的影响。 DAC的输出接口: 介绍了DAC输出信号的处理,如低通滤波、缓冲和电平转换。 数字控制模拟电路: 探讨了如何通过数字电路来控制模拟电路的参数,例如数字可调增益放大器、数字可调滤波器等,以及它们在自适应系统中的应用。 第六章:CMOS电路的低功耗设计技术 随着便携式设备和物联网的兴起,低功耗设计已成为CMOS模拟电路设计的重中之重。本章将深入探讨各种低功耗设计策略。 低功耗设计的基本原理: 分析了功耗的主要来源(动态功耗和静态功耗),以及降低功耗的通用方法。 亚阈值电路设计(Subthreshold Circuit Design): 介绍了在亚阈值区工作的CMOS电路,其功耗极低,但速度也较慢,探讨了亚阈值电路的设计原理和应用场景。 电源门控技术(Power Gating): 讲解了如何通过开关单元的电源来降低静态功耗,并讨论了其对电路恢复速度的影响。 多电压域设计(Multi-Voltage Domain Design): 介绍了在同一个芯片上采用不同电压域来优化功耗和性能。 动态电压频率调整(DVFS): 讲解了根据工作负载动态调整芯片工作电压和频率以降低功耗的方法。 高效偏置技术: 探讨了如何设计更高效的偏置电路,以减小偏置电流的消耗。 第七章:CMOS电路的噪声与干扰分析与抑制 噪声和干扰是影响CMOS模拟电路性能的关键因素。本章将提供系统性的分析方法和抑制策略。 噪声源的识别与建模: 热噪声(Thermal Noise): 分析电阻和MOSFET产生的热噪声。 闪烁噪声(Flicker Noise/1/f Noise): 讲解MOSFET在低频段产生的闪烁噪声,以及其与工艺的关系。 随机陷阱捕获噪声(Random Telegraph Noise): 介绍一种可能影响器件特性的噪声。 噪声在电路中的传播: 讲解如何计算电路的输出噪声,包括噪声的叠加方式(均方根叠加)和增益对噪声的影响。 噪声抑制技术: 器件尺寸优化: 如何通过选择合适的MOSFET尺寸来降低噪声。 电路拓扑的选择: 介绍一些低噪声的电路拓扑结构,如共源-共栅放大器、差分对等。 滤波器设计: 如何利用滤波器来抑制特定频段的噪声。 差分信号技术: 差分电路在抑制共模干扰方面的优势。 屏蔽与布局(Shielding and Layout): 强调良好的版图设计和屏蔽技术对于减少噪声耦合的重要性。 干扰分析: 讨论了电源线耦合、地线耦合、信号线串扰等常见的干扰来源,以及降低干扰的布局和布线技巧。 第八章:CMOS电路版图设计与工艺考虑 成功的CMOS模拟电路设计离不开对版图和工艺的深刻理解。本章将详细介绍这一方面的内容。 版图设计规则(Design Rules): 解释了CMOS工艺的版图设计规则,以及它们对器件性能和可靠性的影响。 匹配(Matching): 详细讨论了器件失配对模拟电路性能(如失调电压、增益偏差)的影响,以及提高器件匹配度的版图技术,如共质心(Common Centroid)布局、邻近匹配(Proximity Matching)等。 寄生效应的版图实现: 如何通过版图设计来减小寄生电阻、寄生电容和寄生电感,例如使用多晶硅栅、金属层来实现低阻抗连接,以及优化连线方式。 热效应与IR Drop: 分析大电流密度下产生的IR Drop和热效应,以及在版图设计中需要注意的事项。 ESD(静电放电)保护: 介绍CMOS电路的ESD保护设计原理和常用保护电路。 工艺文件的使用: 讲解如何阅读和使用CMOS工艺文件(如PDK,Process Design Kit)中的信息,进行精确的版图设计和仿真。 第九章:CMOS模拟电路的高级主题与前沿发展 本章将深入探讨一些CMOS模拟电路设计中的高级主题,并展望未来的发展趋势。 CMOS射频(RF)模拟电路设计基础: RF器件特性: 介绍MOSFET在高频下的特性,如fT、fmax。 RF电路模块: 如LNA(低噪声放大器)、混频器(Mixer)、振荡器(Oscillator)、锁相环(PLL)等在CMOS中的实现。 噪声系数(Noise Figure)与线性度(Linearity): 重点分析RF电路的关键性能指标。 CMOS精密模拟电路: 高精度ADC/DAC: 讨论提高分辨率和线性度的设计技术。 精密基准源: 如带隙基准源的精度提升。 CMOS MEMS(微机电系统)接口电路: 传感器接口: 如何设计CMOS电路来读取和处理MEMS传感器的信号。 CMOS新技术与发展趋势: FinFET、GAAFET等先进工艺: 探讨新一代晶体管结构对模拟电路设计的影响。 AI在模拟电路设计中的应用: 展望机器学习和人工智能在电路优化、参数提取、版图生成等方面的潜力。 低功耗、高性能的集成需求: 讨论在不断缩小的工艺节点下,如何在集成度、性能和功耗之间取得平衡。 总而言之,《CMOS集成电路设计手册(第3版)(模拟电路篇)》以其详尽的内容、严谨的逻辑和丰富的实践指导,成为CMOS模拟集成电路领域研究者、工程师和学生的宝贵资源。它不仅传授了扎实的理论基础,更提供了解决实际设计问题的实用方法和宝贵经验,帮助读者在瞬息万变的集成电路设计领域掌握核心技术,实现创新与突破。

用户评价

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我在一家新兴的AI芯片初创公司担任模拟IC设计工程师,负责公司核心模拟IP的开发。我们公司对功耗和性能的要求都非常苛刻,所以选择合适的模拟电路设计方法和工具至关重要。《CMOS集成电路设计手册(第3版)(模拟电路篇)》这本书,我是在一次公司内部的技术分享会上听我的资深同事推荐的,他称赞这本书是CMOS模拟电路设计的“圣经”,能够帮助我们快速掌握核心技术,并解决实际工程中的难题。我拿到书后,迫不及待地翻开了关于运算放大器(Op-amp)设计的章节。书中对各种CMOS运算放大器结构,如折叠式共源共栅、尾电流折叠式、Miller补偿运算放大器等,都进行了详细的分析,包括它们的增益、带宽、单位增益带宽、压摆率、输出电压摆幅、功耗以及噪声等关键性能指标的计算和优化方法。我特别欣赏书中关于稳定性分析的部分,它不仅讲解了Bode图和Nyquist图等经典分析方法,还结合CMOS电路的特点,给出了如何通过调整补偿电容、选择合适的偏置电流等方法来改善稳定性。这一点对于我们实际设计中,确保电路的稳定工作至关重要。此外,书中关于噪声抑制和电源抑制比(PSRR)的讲解也相当深入,它分析了各种噪声耦合路径,并给出了相应的电路设计策略来降低噪声。这本书给我最大的感觉是,它能够帮助我站在巨人的肩膀上,快速理解和掌握CMOS模拟电路设计的精髓,并且能够直接应用于我的日常工作中。

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我是一名在某大型半导体公司工作的资深模拟IC设计经理,我负责团队的技术方向和项目管理。在我多年的职业生涯中,我接触过大量的模拟电路设计书籍,但《CMOS集成电路设计手册(第3版)(模拟电路篇)》这本书,绝对是我认为最优秀的一本。它的内容涵盖了CMOS模拟电路设计的方方面面,从基础理论到高级应用,都写得非常详细和深入。我尤其欣赏书中关于版图设计和寄生效应的部分。在CMOS模拟IC设计中,版图设计的好坏直接影响到电路的性能,而寄生效应又是影响性能的关键因素。这本书在这方面给出了非常宝贵的指导,它详细分析了各种寄生效应,比如沟道长度调制效应、栅极电容、漏极电容、互感等,并给出了如何通过合理的版图设计来减小这些寄生效应的影响。这一点对于我们团队在开发高性能、高精度模拟IP时,至关重要。此外,书中关于版图设计规则(DRC)和设计可制造性(DFM)的讲解,也帮助我们更好地理解工艺限制,并避免设计中可能出现的制造问题。这本书不仅能够帮助我们的年轻工程师快速成长,也能够为我们这些资深工程师提供新的思路和技术参考。

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我是一名来自某知名大学电子工程系的博士生,我的研究方向是超低功耗模拟电路设计,尤其关注在物联网应用中的模拟信号处理。在我的研究生涯中,我已经阅读了不下数十本关于模拟电路设计的英文经典教材,但总觉得在CMOS工艺下的细节和实践经验方面,还有很多可以深挖的地方。《CMOS集成电路设计手册(第3版)(模拟电路篇)》这本书,我是在一次国内的集成电路技术研讨会上,听几位国内顶尖的教授推荐的,他们特别提到了这本书在CMOS工艺下的详细讲解,以及其在模拟电路设计中的权威性和实用性。我拿到书后,首先仔细地浏览了目录,发现它涵盖了从基本的MOSFET特性到各种高级模拟电路模块,如运算放大器、滤波器、ADC/DAC、PLL等,内容非常全面。我特别关注了书中关于低功耗设计的部分。它不仅仅是罗列了几种低功耗的电路结构,而是深入分析了各种低功耗技术背后的物理原理和工程实现难点。比如,书中对于亚阈值区MOSFET的工作特性分析,以及如何利用其特点来设计超低功耗的模拟电路,这对我目前的博士研究非常有启发。此外,书中还详细介绍了各种电源管理技术,如低压差线性稳压器(LDO)、开关稳压器(Switching Regulator)等,以及它们在降低功耗方面的应用。最令我惊喜的是,书中还给出了一些最新的CMOS工艺下模拟电路设计的优化技巧,以及在实际设计中可能会遇到的各种工艺限制和解决方案。这本书给我最大的感受是,它非常接地气,理论与实践结合得非常紧密,就像一位经验丰富的导师在你身边手把手教你一样。

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我是一名在海外攻读集成电路设计的博士生,我的研究方向是高频射频模拟电路设计,尤其关注低功耗和高性能的设计。《CMOS集成电路设计手册(第3版)(模拟电路篇)》这本书,我是在一次国际学术会议上,听一位知名教授的推荐下知道的。他当时提到这本书在CMOS工艺下的射频模拟电路设计方面,提供了很多独到的见解和实用的技术。我拿到书后,最先翻阅的是关于低噪声放大器(LNA)和混频器(Mixer)的设计章节。书中对这两种射频前端的关键模块,都进行了非常详细的讲解,包括它们的原理、结构、性能指标(如噪声系数、增益、输入输出匹配、线性度、功耗等)的计算和优化方法。我特别欣赏书中关于噪声系数和输入匹配优化的部分,它不仅讲解了各种LNA的匹配电路设计,还分析了在不同阻抗条件下,如何通过有源匹配或无源匹配来获得最佳的匹配效果。这一点对于高频射频电路设计至关重要,因为良好的输入匹配能够最大程度地减少信号反射,提高信号传输效率。此外,书中关于混频器的设计,也给出了很多实用的技巧,比如如何选择合适的混频器架构,如何减小本振馈入和镜像抑制等。这本书给我最大的感觉是,它能够帮助我更好地理解高频射频电路设计的精髓,并为我的研究提供宝贵的理论和实践指导。

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我是一名在某汽车电子公司工作的模拟IC设计工程师,我们公司专注于为汽车提供高可靠性、高集成度的模拟解决方案。我最近在负责一项新的电源管理芯片的设计,需要深入了解CMOS工艺下高精度、低压差线性稳压器(LDO)的设计。《CMOS集成电路设计手册(第3版)(模拟电路篇)》这本书,我是在一次行业展会上偶然发现的,它厚重的篇幅和详尽的目录吸引了我。拿到书后,我直接翻阅了关于LDO设计的章节。书中对不同类型的CMOS LDO,包括旁路型LDO、主控制器LDO、低压差LDO等,都进行了详细的分析,包括它们的原理、性能指标(如压差、纹波抑制比、瞬态响应、噪声等)的计算和优化方法。我特别欣赏书中关于瞬态响应优化的部分,它不仅讲解了如何通过调整补偿电路来提高LDO的负载瞬态响应,还深入分析了在不同工艺条件下,参数变化对瞬态响应的影响。这一点对于汽车电子领域尤为重要,因为汽车内部的电源环境复杂多变,对LDO的瞬态响应有很高要求。此外,书中关于低噪声和高电源抑制比(PSRR)的设计也给我留下了深刻印象,它分析了各种噪声源和耦合路径,并给出了相应的电路设计策略来降低噪声和提高PSRR。这本书给我的感觉是,它非常贴合实际工程应用,能够帮助我快速掌握LDO设计的关键技术,并为我未来的设计工作提供坚实的基础。

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我是一名在某通信设备公司工作的模拟IC设计工程师,我们公司正在开发新一代的低功耗、高性能无线通信芯片,对模拟前端电路的设计提出了很高的要求。《CMOS集成电路设计手册(第3版)(模拟电路篇)》这本书,我是在一次内部技术评估会上听项目负责人推荐的,他强调了这本书在CMOS模拟电路设计方面的权威性和前瞻性。我拿到书后,最先翻阅的是关于锁相环(PLL)和延迟锁定环(DLL)的设计章节。书中对这两种重要的频率合成和时钟同步技术,进行了非常详细的讲解,包括它们的原理、结构、关键组件(如压控振荡器VCO、鉴相器PD、电荷泵CP、分频器等)的设计和优化。我尤其欣赏书中在分析PLL时,不仅仅停留在理论层面,还深入讨论了实际设计中可能遇到的问题,比如相位噪声、抖动、锁定时间、功耗等,以及如何通过调整环路参数、选择合适的组件来实现性能的最优化。这一点对于我们通信领域的设计至关重要,因为高性能的PLL是实现高精度数据传输和低误码率的关键。书中关于VCO的设计部分,也给出了很多实用的技巧,比如如何通过调整电容阵列和栅极电压来覆盖宽的频率范围,如何减小调谐电源电压对频率的影响等。这本书给我的感觉是,它不仅是一本技术手册,更像是一位经验丰富的导师,能够指导我如何解决实际工程中的挑战,并实现技术突破。

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我是一名即将毕业的电子工程专业本科生,对集成电路设计领域非常感兴趣,希望在毕业后能进入这个行业。《CMOS集成电路设计手册(第3版)(模拟电路篇)》这本书,我是在学校图书馆里偶然发现的,它被放在了“推荐阅读”的书架上,封面设计也很专业,让我觉得内容应该很扎实。我开始阅读这本书,发现它从最基础的MOSFET特性讲起,用非常清晰的语言和图示,让我这个初学者能够很快地理解CMOS器件的工作原理。然后,我学习了各种基本的模拟电路,比如电流镜、差分对、共源共栅放大器等。书中对每个电路的分析都非常透彻,不仅给出了计算公式,还解释了公式背后的物理意义,这让我能够真正理解电路是如何工作的,而不是死记硬背。我尤其喜欢书中关于模拟信号处理部分的内容,比如滤波器和ADC/DAC。它详细介绍了各种滤波器的类型和设计方法,以及ADC/DAC的各种架构和工作原理,并且还给出了很多实际设计中的例子。这一点对于我来说非常重要,因为它让我了解了理论知识在实际工程中的应用。这本书就像一个循循善诱的老师,它能够一步步引导我,让我对CMOS模拟电路设计产生浓厚的兴趣,并且为我未来的学习和职业发展打下了坚实的基础。

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我是一名在某半导体公司工作了五年的模拟IC设计工程师,之前主要负责的是RF部分的设计,最近公司业务扩展,我需要转岗负责部分模拟混合信号的IP开发。坦白说,虽然我对模拟电路的基本原理有一定了解,但要从零开始接触CMOS工艺下的模拟电路设计,感觉还是有点力不从心,尤其是对于一些基础的模拟模块,比如低噪声放大器(LNA)、混频器、锁相环(PLL)等,我需要一个系统性的、理论扎实又贴近实际工程的书籍来快速充电。《CMOS集成电路设计手册(第3版)(模拟电路篇)》这本书,我是在一次行业技术交流会上偶然听同行推荐的,当时就觉得名字很专业,而且“畅销书籍 正版”的字样也让我觉得它有一定的市场认可度。拿到书后,我最先翻阅的是关于LNA的设计章节。书中对不同类型的LNA,比如共源共栅LNA、共漏LNA、Cascode LNA等,都进行了详细的分析,包括它们的噪声系数(NF)、增益、输入匹配、线性度(P1dB, IIP3)等关键指标的计算和优化方法。我尤其欣赏它在分析每个电路时,都会从其基本结构出发,然后逐步引入寄生效应、工艺偏差等实际因素对性能的影响,并且给出了相应的补偿和改进策略。这一点对于我们实际做设计非常重要,因为理论上的完美电路在实际流片后往往表现不佳,很多时候就是忽略了这些细节。书中关于噪声分析的部分,也写得非常透彻,它不仅讲解了器件本身的噪声来源,还分析了不同噪声源之间的耦合效应,以及如何通过电路设计来降低整体噪声。对于我来说,这本书更像是一本“操作手册”,它教会我如何去思考,如何去权衡,如何去解决实际设计中遇到的各种问题。

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《CMOS集成电路设计手册(第3版)(模拟电路篇)》这本书,我拿到手的感觉就和拆开一份期待已久的珍贵礼物一样,包装严实,纸张厚实,封面设计也透着一股专业和沉稳。我是一名正在攻读集成电路设计的硕士研究生,之前一直被一本老旧的教材困扰,很多理论概念模糊不清,实际操作更是无从下手。在导师的推荐下,我才开始接触这本“畅销书籍 正版模拟电路篇(第3版)/CC”。第一眼看到厚厚的几百页,心里确实有点打怵,但当翻开第一页,看到清晰的排版和图文并茂的讲解时,疑虑就消散了大半。我尤其喜欢它在讲解每一个模拟电路模块时,都会先从最基本的原理讲起,比如MOSFET的工作特性,各种偏置电路的形成原因,然后再逐步深入到各种放大器、滤波器、ADC/DAC等复杂模块的设计。每一个公式的推导都清晰明了,并且会配有实际的设计案例,这对我来说太重要了。我曾经花了很长时间试图理解一个运算放大器的稳定性问题,看了很多零散的资料,结果越看越糊涂。这本书里,它用好几个小节,从波特图、相位裕度、增益裕度等等角度,层层递进地讲解,并且引用了大量的仿真结果图,让我一下子就豁然开朗。而且,这本书不是那种只讲理论的书,它非常注重工程实践,在每一章节的最后,都会给出一些实际设计中的注意事项和常见陷阱,这对于我们这些即将走向工作岗位的学生来说,简直是无价之宝。比如,它在讲到低功耗设计时,不仅仅是给出了几种低功耗的电路结构,还详细分析了在不同工艺下,功耗和性能之间的权衡,以及如何通过版图设计来进一步降低漏电流。我感觉这本书就像一个经验丰富的老工程师,在你耳边循循善诱,把你从一个“理论小白”一步步打造成一个“实践能手”。

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我是一名在电子技术领域深耕多年的爱好者,我一直对集成电路设计充满兴趣,尤其是在模拟电路部分。《CMOS集成电路设计手册(第3版)(模拟电路篇)》这本书,我是在一次在线技术论坛上看到的,很多资深的技术爱好者都在推荐,说它是学习CMOS模拟电路设计的“必读书籍”。我抱着学习的心态买下了这本书,并开始阅读。我最开始接触的是书中的直流和交流分析部分。书中对MOSFET的各种工作区域,如截止区、线性区、饱和区,以及它们在不同偏置下的等效电路模型都讲解得非常清晰。我尤其喜欢书中通过大量的插图和图示来辅助讲解,这让我这个初学者能够更容易地理解抽象的电路原理。然后,我开始学习放大器部分。书中对不同类型的放大器,如共源放大器、共漏放大器、共栅放大器、差分放大器等,都进行了详细的讲解,包括它们的电压增益、输入阻抗、输出阻抗、带宽等关键参数的计算。我印象最深刻的是,书中在讲解共栅放大器时,不仅给出了基本的电路结构,还分析了它的各种优缺点,以及如何通过引入负反馈来改善其性能。此外,书中还提供了很多实际设计中的技巧和注意事项,比如如何选择合适的偏置电流,如何减小寄生效应的影响等,这些对于我这个业余爱好者来说,简直是宝贵的财富。这本书让我对CMOS模拟电路设计有了更系统、更深入的认识,也激发了我进一步深入学习的兴趣。

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