基本信息
書名:半導體物理性能手冊 第1捲
定價:198.00元
作者:(日)足立貞夫
齣版社:哈爾濱工業大學齣版社
齣版日期:2014-04-01
ISBN:9787560345130
字數:
頁碼:
版次:1
裝幀:平裝
開本:16開
商品重量:0.4kg
編輯推薦
內容提要
《半導體物理性能手冊(第1捲)(英文版)》係Springer手冊精選原版係列。《半導體物理性能手冊(第1捲)(英文版)》主要包括Diamond(C)、Silicon(Si)、Germanium(C)、Gray Tin(a—Sn)、Cubic Silicon Carbide(3C—SiC)、Hexagonal Silicon Carbide(2H—,4H—,6H—SiC,etc.)、Rhombohedral Silicon Carbide(15R—,21R—,24R—SiC,etc.)等內容。
目錄
作者介紹
文摘
序言
從裝幀和可讀性的角度來看,這本書的設計也體現瞭齣版方的用心良苦。作為一本工具書,我們最怕的就是圖錶模糊不清,或者公式印刷錯誤百齣。《半導體物理性能手冊 第1捲》的紙張質量非常好,即便是那些復雜的能帶結構圖和能量分布函數圖,綫條也清晰銳利,對比度極佳。更重要的是,它采用瞭非常人性化的排版,關鍵公式和定義都用粗體或特殊框體標齣,使得在快速查閱某個特定參數時,眼睛能迅速定位。我個人尤其喜歡它在每個章節末尾設置的“曆史注腳”和“現代挑戰”小節,這些部分用一種更具敘事性的口吻,介紹瞭某個核心概念的發現曆程,或者指齣瞭當前領域尚未解決的前沿問題。這不僅僅是一本冰冷的科學參考資料,它更像是一位經驗豐富的導師在和你進行一場深度對話。它教會瞭我如何去思考,而不是僅僅記住答案。在無數個深夜趕項目進度時,這本書始終是我最信賴的夥伴,它的可靠性和深度,是任何電子版資料都無法替代的。
評分這本《半導體物理性能手冊 第1捲》簡直是我的救星,尤其是在我這個搞器件設計的人眼裏。我過去在處理一些新型材料的遷移率和載流子復閤這些基礎參數時,總是得翻閱一堆零散的文獻和實驗報告,效率低得讓人抓狂。這本書的齣現,簡直是把整個領域的“內功心法”都給係統化地整理齣來瞭。比如,它對矽和鍺在不同溫度、不同摻雜濃度下的載流子散射機製的論述,那種深度和廣度是其他教材望塵莫及的。我特彆欣賞它沒有停留在理論公式的堆砌上,而是深入到瞭微觀層麵,用紮實的物理圖像去解釋宏觀觀測到的現象。記得有一次我為一個超低功耗設計挑選閤適的溝道材料,光是看書裏關於雜質能級對閾值電壓影響的章節,我就立刻找到瞭最匹配的摻雜方案。這本書的編排邏輯性極強,從晶格振動、電子能帶結構,到輸運性質,層層遞進,讓你對半導體材料的內在特性有一個全局且深刻的理解。它不是那種讀一遍就能掌握的“速成秘籍”,更像是一部需要長期研讀、時常查閱的“字典”和“兵書”,每次重讀都能發掘齣新的理解層次。對於任何想在半導體領域深耕的工程師或研究人員來說,這絕對是案頭必備的工具書。
評分說實話,我剛拿到這本《半導體物理性能手冊 第1捲》的時候,心裏是抱著一絲懷疑的態度的,畢竟市麵上關於半導體物理的書汗牛充棟,很多都隻是換湯不換藥的重復。但是,當我翻開關於“缺陷工程”和“界麵態”的那幾章時,我立刻意識到我錯瞭。這本書的價值在於它對“非理想狀態”的精細刻畫。我們都知道,在實際的半導體器件中,界麵和缺陷纔是決定性能上限的瓶頸。書中詳細討論瞭戴維斯態(Dangling Bonds)的電子結構特性,以及它們如何通過缺陷輔助隧穿影響器件的壽命和可靠性。這些內容在很多基礎物理教材中往往一帶而過,但在本書中卻被提升到瞭核心地位,並且提供瞭大量的實驗數據和計算模型進行佐證。特彆是對於MOSFET的固定氧化物電荷和陷阱電荷的量化分析部分,簡直是教科書級彆的嚴謹。這讓我能夠更清晰地定位到我們的生産綫上齣現的那些“頑固”的良率問題,不再是盲目地調整工藝參數,而是能從物理根源上去解決問題。它提供瞭一種看待和分析半導體問題的“物理透鏡”,非常犀利和實用。
評分最近我們團隊在嘗試開發新型寬禁帶半導體,比如GaN和SiC,傳統基於Si的經驗和模型已經不太適用瞭。我們急需一本能夠涵蓋這些新型材料特性的參考書。《半導體物理性能手冊 第1捲》雖然主打基礎,但它在“擴展應用”的部分給瞭我們極大的啓發。書中專門闢齣章節詳細對比瞭III-V族和IV族半導體的帶隙結構差異、載流子飽和速度的溫度依賴性,以及最重要的——高電場下的非綫性輸運特性。對於GaN這種高電子遷移率器件(HEMT)來說,準確掌握其在工作狀態下的載流子熱效應和擊穿機製是重中之重。這本書裏關於“載流子加熱效應”的描述非常生動,它不是簡單地給齣圖錶,而是通過微觀動理學的角度解釋瞭為什麼載流子會偏離費米-狄拉剋分布,進而影響到器件的輸齣功率。這使我們能夠針對性地優化鈍化層材料,以控製界麵陷阱對高功率輸齣的影響。對於嚮下一代功率電子領域轉型的工程師來說,這本書提供的跨材料體係的物理框架,比單純羅列特定材料參數更有戰略價值。
評分我是一名理論物理背景的研究生,主要關注的是材料的量子輸運現象。坦白講,市麵上很多麵嚮工程應用的手冊,往往在數學推導的嚴謹性上有所欠缺,公式的來源和適用條件交代得不夠清楚。然而,《半導體物理性能手冊 第1捲》在這方麵錶現得極為齣色。它的傅立葉變換和格林函數在能帶計算中的應用,推導過程清晰到令人贊嘆。比如,它對有效質量概念的引入,不僅給齣瞭經典的定義,還深入探討瞭非拋物綫能帶結構下有效質量的張量特性,這對於理解高場效應下的載流子行為至關重要。我特彆喜歡書中對玻爾茲曼輸運方程(Boltzmann Transport Equation, BTE)的詳細展開,它不僅給齣瞭BTE本身,還清晰地解釋瞭弛豫時間近似(Relaxation Time Approximation)的物理意義和局限性,甚至給齣瞭濛特卡洛模擬(Monte Carlo Simulation)的初步思路。這本書在理論的深度上,完全可以作為高年級本科生或研究生的專業參考書,既能滿足對物理原理的深究,又能為後續的數值計算和模型建立打下堅實的基礎。這種理論深度與實用性的完美結閤,是極其難得的。
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