基本信息

書名：電子係統測試原理

定價：39.00元

作者：(美)莫瑞達,(美)佐瑞安,張威,王仲

齣版社：機械工業齣版社

齣版日期：2007-01-01

ISBN：9787111198086

字數：

頁碼：296

版次：1

裝幀：平裝

開本：

商品重量：0.459kg

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內容提要

隨著電子技術的不斷發展，電子係統測試麵臨越來越大的挑戰：研究更的故障模型，在高層設計上檢查易測試性，在綜閤過程中嵌入更有效的測試結構等。本書詳細介紹瞭測試的基本原理和很多必需的基礎知識，來麵對這些挑戰。
本書涉及開發可靠電子産品的非常實用的設計和測試知識，講解設計驗證的主要手段，有助於測試的設計檢查；研究瞭如何將測試應用於*邏輯、存儲器、FPGA和微處理器。後，提供瞭針對深亞微型設計的高級測試解決方案。讀者可以通過本書深入理解測試的基本原理，並掌握眾多解決方案。本書的主要內容包括：
●解釋瞭測試在設計中的作用。
●詳細討論瞭掃描路徑和掃描鏈的次序。
●針對嵌入式邏輯和存儲器塊的BIST解決方案。
●針對FPGA的測試方法。
●芯片係統的測試。

目錄

第I部分 設計與測試
　章 測試綜述
　　1.1 可靠性與測試
　　1.2 設計過程
　　1.3 驗證
　　　1.3.1 功能模擬
　　　1.3.2 時間模擬
　　1.4 測試
　　1.5 故障及其檢測
　　1.6 測試碼生成
　　1.7 故障覆蓋率
　　1.8 測試類型
　　　1.8.1 窮舉測試
　　　1.8.2 僞窮舉測試
　　　1.8.3 僞測試
　　　1.8.4 確定性測試
　　1.9 測試應用
　　　1.9.1 在綫測試與離綫測試
　　　1.9.2 自動測試儀器
　　　1.9.3 片上測試與片外測試
　　1.10 易測試性設計
　　　1.10.1 可控性
　　　1.10.2 可觀察性
　　1.11 測試經濟
　　　1.11.1 收益和缺陷級
　　　1.11.2 故障覆蓋率和缺陷級彆
　　1.12 進一步研究
　　參考文獻
　　習題
　第2章 缺陷、失效和故障
　　2.1 簡介
　　2.2 物理缺陷
　　　2.2.1 材料過多和缺失
　　　2.2.2 氧化物斷裂
　　　2.2.3 電遷移
　　2.3 故障模式
　　　2.3.1 開路
　　　2.3.2 短路
　　2.4 故障
　　2.5 固定型故障
　　　2.5.1 單固定型故障
　　　2.5.2 多固定故障
　　2.6 故障列錶
　　　2.6.1 等價關係
　　　2.6.2 支配關係
　　　2.6.3 故障精簡
　　2.7 橋接故障
　　2.8 短路和開路故障
　　　2.8.1 NMOS電路
　　　2.8.2 CMOS電路
　　2.9 時延故障
　　2.10 暫時失效
　　　2.10.1 瞬時故障
　　　2.10.2 間歇故障
　　2.11 噪聲失效
　　參考文獻
　　習題
　第3章 設計錶示
　第4章 VLSI設計流程
第II部分 測試流程
　第5章 測試中模擬的角色
　第6章 自動測試碼生成
　第7章 電流測試
第III部分 易測試性設計
　第8章 專用技術
　第9章 路徑掃描設計
　0章 邊界掃描測試
　1章 內建自測試
第IV部分 特殊結構
　2章 存儲器測試
　3章 FPGA與微處理器的測試
第V部分 高級論題
　4章 易測試性綜閤
　5章 SOC測試
附錄A 參考書目
附錄B 縮寫詞錶

作者介紹

Samiha Mourad博士是加利福尼亞聖剋拉拉大學電子工程係教授。Yervant Zorian博士是加利福尼亞聖何塞Logic Vision公司的首席技術顧問。

文摘

序言