基本信息
书名:电子系统测试原理
定价:39.00元
作者:(美)莫瑞达,(美)佐瑞安,张威,王仲
出版社:机械工业出版社
出版日期:2007-01-01
ISBN:9787111198086
字数:
页码:296
版次:1
装帧:平装
开本:
商品重量:0.459kg
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内容提要
随着电子技术的不断发展,电子系统测试面临越来越大的挑战:研究更的故障模型,在高层设计上检查易测试性,在综合过程中嵌入更有效的测试结构等。本书详细介绍了测试的基本原理和很多必需的基础知识,来面对这些挑战。
本书涉及开发可靠电子产品的非常实用的设计和测试知识,讲解设计验证的主要手段,有助于测试的设计检查;研究了如何将测试应用于*逻辑、存储器、FPGA和微处理器。后,提供了针对深亚微型设计的高级测试解决方案。读者可以通过本书深入理解测试的基本原理,并掌握众多解决方案。本书的主要内容包括:
●解释了测试在设计中的作用。
●详细讨论了扫描路径和扫描链的次序。
●针对嵌入式逻辑和存储器块的BIST解决方案。
●针对FPGA的测试方法。
●芯片系统的测试。
目录
第I部分 设计与测试
章 测试综述
1.1 可靠性与测试
1.2 设计过程
1.3 验证
1.3.1 功能模拟
1.3.2 时间模拟
1.4 测试
1.5 故障及其检测
1.6 测试码生成
1.7 故障覆盖率
1.8 测试类型
1.8.1 穷举测试
1.8.2 伪穷举测试
1.8.3 伪测试
1.8.4 确定性测试
1.9 测试应用
1.9.1 在线测试与离线测试
1.9.2 自动测试仪器
1.9.3 片上测试与片外测试
1.10 易测试性设计
1.10.1 可控性
1.10.2 可观察性
1.11 测试经济
1.11.1 收益和缺陷级
1.11.2 故障覆盖率和缺陷级别
1.12 进一步研究
参考文献
习题
第2章 缺陷、失效和故障
2.1 简介
2.2 物理缺陷
2.2.1 材料过多和缺失
2.2.2 氧化物断裂
2.2.3 电迁移
2.3 故障模式
2.3.1 开路
2.3.2 短路
2.4 故障
2.5 固定型故障
2.5.1 单固定型故障
2.5.2 多固定故障
2.6 故障列表
2.6.1 等价关系
2.6.2 支配关系
2.6.3 故障精简
2.7 桥接故障
2.8 短路和开路故障
2.8.1 NMOS电路
2.8.2 CMOS电路
2.9 时延故障
2.10 暂时失效
2.10.1 瞬时故障
2.10.2 间歇故障
2.11 噪声失效
参考文献
习题
第3章 设计表示
第4章 VLSI设计流程
第II部分 测试流程
第5章 测试中模拟的角色
第6章 自动测试码生成
第7章 电流测试
第III部分 易测试性设计
第8章 专用技术
第9章 路径扫描设计
0章 边界扫描测试
1章 内建自测试
第IV部分 特殊结构
2章 存储器测试
3章 FPGA与微处理器的测试
第V部分 高级论题
4章 易测试性综合
5章 SOC测试
附录A 参考书目
附录B 缩写词表
作者介绍
Samiha Mourad博士是加利福尼亚圣克拉拉大学电子工程系教授。Yervant Zorian博士是加利福尼亚圣何塞Logic Vision公司的首席技术顾问。
文摘
序言
这本《电子系统测试原理》真的让我对电子系统的测试方法有了全新的认识,它不仅仅是停留在理论层面,更是在实践中提供了很多宝贵的经验。我特别欣赏作者在讲解复杂概念时所展现出的清晰逻辑和深入浅出的表达能力。比如,书中对各种测试技术,从基础的单元测试到复杂的系统级集成测试,都进行了详尽的阐述。读完之后,我感觉自己对如何设计有效的测试用例、如何分析测试结果以及如何优化测试流程都有了更深刻的理解。特别是书中对故障注入测试和边界扫描技术的讨论,让我受益匪浅。它不仅让我理解了这些技术的工作原理,更重要的是,它教会了我如何在实际工程项目中灵活运用它们来提高测试的覆盖率和效率。这本书的结构安排也非常合理,层层递进,从底层硬件到上层软件,都有清晰的脉络,对于初学者来说非常友好,同时对于有经验的工程师来说,也是一本很好的参考手册。
评分这本《电子系统测试原理》对我来说,更像是一份系统性的知识地图,它帮助我梳理了整个电子系统测试领域的知识结构。作者的笔触细腻而富有条理,尤其是在介绍高级测试技术时,比如基于模型的设计验证(MBSE)在测试中的应用,展现了极高的前瞻性。书中对不同测试阶段的输入、输出和关键考量点的描述,为我构建项目测试计划提供了清晰的框架。我发现,在阅读这本书之后,我与测试团队的沟通效率都提高了,因为我们现在有了共同的、基于权威原理的语言体系。它教会了我如何用最少的资源,设计出最高效的测试方案,真正体现了“原理指导实践”的精髓。对于希望从初级工程师晋升到资深架构师的人来说,这本书是打地基的必备读物。
评分坦白说,这本书的阅读体验是极佳的,它不像很多技术书籍那样枯燥乏味,而是充满了对工程实践的深刻洞察。作者似乎非常了解工程师在实际工作中会遇到的痛点,并针对性地给出了解决方案。我特别欣赏其中关于“调试与故障定位”章节的处理方式,它不仅仅是罗列了常用的调试工具,更重要的是,它传授了一种系统性的、科学的故障排查思维。比如,如何利用逻辑分析仪进行时序分析,如何通过波形对比来定位偶发性故障,这些都是实战中积累的“硬核”经验。这本书不仅提升了我的技术能力,更重要的是,它重塑了我对“质量保证”的理解——测试不仅仅是发现错误,更是一种预防和优化的手段。这本书的价值,远超其定价。
评分我必须说,这本书在对测试自动化和高级测试工具的应用方面的讲解,简直是教科书级别的。它没有仅仅停留在“要自动化”的口号上,而是深入剖析了实现自动化测试的底层逻辑和关键技术。我印象最深的是其中关于测试框架构建的部分,作者详细介绍了如何选择合适的测试平台、如何集成各种测试设备,以及如何编写可维护、可扩展的测试脚本。书中的案例分析也非常具有代表性,很多都是我工作中经常遇到的难题,通过书中的方法论,我找到了很多新的解决思路。特别是对测试覆盖率的量化分析,让原本模糊的“全面测试”有了一个明确的衡量标准。这本书的深度和广度,都远超出了我对一本技术书籍的预期,它真正做到了理论指导实践,是一本值得反复研读的宝藏。
评分这本书的叙述风格非常严谨、客观,几乎没有一句废话,每一个章节都紧密围绕着核心的“测试原理”展开。我尤其喜欢它在讨论不同测试方法时的对比分析,比如在对比功能测试和性能测试时,作者清晰地指出了各自的侧重点、适用场景以及局限性,这种辩证的视角让人更容易抓住事物的本质。在阅读过程中,我发现自己对一些看似简单的概念有了更深入的理解,比如“测试覆盖率”和“测试有效性”之间的微妙关系。这本书的图表和示意图的绘制也非常专业,它们有效地将复杂的测试流程和系统架构可视化,极大地降低了理解难度。对于任何想在电子系统测试领域深耕的人来说,这本书绝对是不可或缺的工具书,它提供的知识体系非常扎实和全面。
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