CMOS數字集成電路設計 9787111529330

CMOS數字集成電路設計 9787111529330 pdf epub mobi txt 電子書 下載 2025

美查爾斯.霍金斯Charles Hawkins等 著
圖書標籤:
  • CMOS
  • 數字電路
  • 集成電路設計
  • 微電子學
  • 電子工程
  • 半導體
  • 電路分析
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店鋪: 一鴻盛世圖書專營店
齣版社: 機械工業齣版社
ISBN:9787111529330
商品編碼:29773233109
包裝:平裝
齣版時間:2016-04-01

具體描述

基本信息

書名:CMOS數字集成電路設計

定價:69.00元

作者:(美)查爾斯.霍金斯(Charles Hawkins)等

齣版社:機械工業齣版社

齣版日期:2016-04-01

ISBN:9787111529330

字數:

頁碼:

版次:1

裝幀:平裝

開本:16開

商品重量:0.4kg

編輯推薦


內容提要


本書中文簡體字版由IET授權機械工業齣版社齣版。未經齣版者書麵許可,不得以任何方式復製或抄襲本書內容。

本書涵蓋瞭CMOS數字集成電路的設計技術,教材的編寫采用新穎的講述方法,並不要求學生已經學習過模擬電子學的知識,有利於教師靈活地安排教學計劃。本書完全放棄瞭涉及雙極型器件的內容,隻關注數字集成電路的主流工藝——CMOS數字電路設計。書中引入大量的實例,每章後也給齣瞭豐富的習題,使得學生能夠將學到的知識與實際結閤。本書可作為CMOS數字集成電路的本科教材。

目錄


目  錄

齣版者的話

譯者序



前言

章 基本邏輯門和電路原理1

 1.1 邏輯門和布爾代數1

 1.2 布爾和邏輯門化簡3

 1.3 時序電路4

 1.4 電壓和電流定律6

  1.4.1 端口電阻的觀察法分析6

  1.4.2 基爾霍夫電壓定律與觀察法分析7

  1.4.3 基爾霍夫電流定律與觀察法分析9

  1.4.4 基於觀察法的分壓器和分流器混閤分析10

 1.5 電阻的功率消耗11

 1.6 電容13

  1.6.1 電容器能量與功率14

  1.6.2 電容分壓器15

 1.7 電感16

 1.8 二極管非綫性電路分析16

 1.9 關於功率19

 1.10 小結20

 習題20

第2章 半導體物理24

 2.1 材料基礎24

  2.1.1 金屬、絕緣體和半導體24

  2.1.2 半導體中的載流子:電子與空25

  2.1.3 確定載流子濃度26

 2.2 本徵半導體和非本徵半導體27

  2.2.1 n型半導體28

  2.2.2 p型半導體29

  2.2.3 n型與p型摻雜半導體中的載流子濃度30

 2.3 半導體中的載流子輸運30

  2.3.1 漂移電流31

  2.3.2 擴散電流32

 2.4 pn結34

 2.5 pn結的偏置35

  2.5.1 pn結正偏壓36

  2.5.2 pn結反偏壓36

 2.6 二極管結電容37

 2.7 小結38

 參考文獻38

 習題38

第3章 MOSFET40

 3.1 工作原理40

  3.1.1 作為數字開關的MOSFET40

  3.1.2 MOSFET的物理結構41

  3.1.3 MOS晶體管工作原理:一種描述性方法42

 3.2 MOSFET輸入特性44

 3.3 nMOS晶體管的輸齣特性與電路分析44

 3.4 pMOS晶體管的輸齣特性與電路分析49

 3.5 含有源極和漏極電阻的MOSFET53

 3.6 MOS晶體管的閾值電壓54

 3.7 小結55

 參考文獻56

 習題56

第4章 金屬互連綫性質60

 4.1 金屬互連綫電阻60

  4.1.1 電阻和熱效應62

  4.1.2 薄膜電阻63

  4.1.3 通孔電阻64

 4.2 電容67

  4.2.1 平行闆模型67

  4.2.2 電容功率68

 4.3 電感69

  4.3.1 電感電壓69

  4.3.2 導綫電感70

  4.3.3 電感功率70

 4.4 互連綫RC模型71

  4.4.1 短綫的電容模型71

  4.4.2 長綫的電阻電容模型72

 4.5 小結74

 參考文獻74

 習題74

第5章 CMOS反相器77

 5.1 CMOS反相器概述77

 5.2 電壓轉移麯綫78

 5.3 噪聲容限79

 5.4 對稱電壓轉移麯綫81

 5.5 電流轉移麯綫82

 5.6 VTC圖形分析83

  5.6.1 靜態電壓轉移麯綫83

  5.6.2 動態電壓轉移麯綫85

 5.7 反相器翻轉速度模型86

 5.8 CMOS反相器功耗88

  5.8.1 瞬態功耗88

  5.8.2 短路功耗89

  5.8.3 靜態泄漏功耗91

 5.9 功耗與電源電壓調整91

 5.10 調整反相器緩衝器尺寸以驅動大負載92

 5.11 小結94

 參考文獻94

 習題94

第6章 CMOS“與非”門、“或非”門和傳輸門97

 6.1 “與非”門97

  6.1.1 電路行為98

  6.1.2 “與非”門的非控製邏輯狀態98

 6.2 “與非”門晶體管尺寸調整100

 6.3 “或非”門102

  6.3.1 電路行為102

  6.3.2 “或非”門的非控製邏輯狀態102

 6.4 “或非”門晶體管尺寸調整105

 6.5 通過門與CMOS傳輸門108

  6.5.1 通過門108

  6.5.2 CMOS傳輸門109

  6.5.3 三態邏輯門110

 6.6 小結110

 習題111

第7章 CMOS電路設計風格115

 7.1 布爾代數到晶體管電路圖的轉換115

 7.2 德摩根電路的綜閤118

 7.3 動態CMOS邏輯門120

  7.3.1 動態CMOS邏輯門的特性120

  7.3.2 動態電路中的電荷共享121

 7.4 多米諾CMOS邏輯門123

 7.5 NORA CMOS邏輯門125

 7.6 通過晶體管邏輯門125

 7.7 CMOS傳輸門邏輯設計127

 7.8 功耗及活躍係數128

 7.9 小結132

 參考文獻132

 習題132

第8章 時序邏輯門設計與時序137

 8.1 CMOS鎖存器138

  8.1.1 時鍾控製的鎖存器138

  8.1.2 門控鎖存器139

 8.2 邊沿觸發的存儲元件140

  8.2.1 D觸發器140

  8.2.2 時鍾的邏輯狀態141

  8.2.3 一種三態D觸發器設計141

 8.3 邊沿觸發器的時序規則142

  8.3.1 時序測量143

  8.3.2 違反時序規則的影響144

 8.4 D觸發器在集成電路中的應用145

 8.5 帶延時元件的tsu和thold145

 8.6 包含置位和復位的邊沿觸發器147

 8.7 時鍾生成電路148

 8.8 金屬互連綫寄生效應151

 8.9 時鍾漂移和抖動151

 8.10 芯片設計中的整體係統時序152

  8.10.1 時鍾周期約束152

  8.10.2 時鍾周期約束與漂移153

  8.10.3 保持時間約束153

  8.10.4 考慮漂移和抖動的時鍾周期約束154

 8.11 時序與環境噪聲156

 8.12 小結157

 參考文獻157

 習題158

第9章 IC存儲器電路163

 9.1 存儲器電路結構164

 9.2 存儲器單元165

 9.3 存儲器譯碼器166

  9.3.1 行譯碼器166

  9.3.2 列譯碼器167

 9.4 讀操作168

 9.5 讀操作的晶體管寬長比調整169

 9.6 存儲器寫操作170

  9.6.1 單元寫操作170

  9.6.2 鎖存器轉移麯綫170

 9.7 寫操作的晶體管寬長比調整171

 9.8 列寫電路173

 9.9 讀操作與靈敏放大器174

 9.10 動態存儲器177

  9.10.1 3晶體管DRAM單元177

  9.10.2 1晶體管DRAM單元178

 9.11 小結179

 參考文獻179

 習題179

0章 PLA、CPLD與FPGA181

 10.1 一種簡單的可編程電路——PLA181

  10.1.1 可編程邏輯門182

  10.1.2 “與”/“或”門陣列183

 10.2 下一步:實現時序電路——CPLD184

  10.2.1 引入時序模塊——CPLD184

  10.2.2 更先進的CPLD186

 10.3 先進的可編程邏輯電路——FPGA190

  10.3.1 Actel ACT FPGA191

  10.3.2 Xilinx Spartan FPGA192

  10.3.3 Altera Cyclone Ⅲ FPGA194

  10.3.4 如今的FPGA196

  10.3.5 利用FPGA工作——設計工具196

 10.4 理解編程寫入技術196

  10.4.1 反熔絲技術196

  10.4.2 EEPROM技術198

  10.4.3 靜態RAM開關技術199

 參考文獻199

1章 CMOS電路版圖200

 11.1 版圖和設計規則200

 11.2 版圖設計方法:布爾方程、晶體管原理圖和棒圖201

 11.3 利用PowerPoint進行電路版圖布局202

 11.4 設計規則和小間距203

 11.5 CMOS反相器的版圖布局204

  11.5.1 pMOS晶體管的版圖204

  11.5.2 重溫pMOS晶體管版圖的設計規則205

  11.5.3 nMOS晶體管版圖205

  11.5.4 將晶體管閤並到共同的多晶矽柵下206

 11.6 根據設計規則小間距繪製完整的CMOS反相器207

 11.7 多輸入邏輯門的版圖207

 11.8 閤並邏輯門標準單元版圖209

 11.9 更多關於版圖的內容210

 11.10 版圖CAD工具211

 11.11 小結211

2章 芯片是如何製作的212

 12.1 集成電路製造概覽212

 12.2 矽晶圓片的製備213

 12.3 生産綫的前端和後端213

 12.4 生産綫前端工藝技術214

  12.4.1 矽的氧化214

  12.4.2 光刻214

  12.4.3 蝕刻216

  12.4.4 沉積和離子注入216

 12.5 清潔和安全性操作217

 12.6 晶體管的製造218

 12.7 生産綫後端工藝技術218

  12.7.1 濺射工藝219

  12.7.2 雙金屬鑲嵌法(大馬士革工藝)219

  12.7.3 層間電介質及終鈍化220

 12.8 CMOS反相器的製造220

  12.8.1 前端工藝操作220

  12.8.2 後端工藝操作221

 12.9 芯片封裝221

 12.10 集成電路測試222

 12.11 小結222

 參考文獻222

章末偶數編號習題參考答案223

索引228

作者介紹


文摘


序言



《矽影流光:深度解析集成電路的演進與未來》 引言 人類文明的每一次飛躍,都與信息處理能力的質變息息相關。從古老的算盤到龐大的超級計算機,技術的進步始終聚焦於如何更高效、更微縮地完成運算與存儲。在這場波瀾壯闊的科技長河中,集成電路(Integrated Circuit,IC)無疑是最璀璨的明星之一,它將無數電子元件凝聚於一塊微小的矽片之上,開啓瞭電子信息時代的大門,並持續重塑著我們的世界。本書《矽影流光》並非聚焦於某一特定技術領域,而是旨在勾勒齣集成電路,尤其是數字集成電路,從孕育、發展、壯大到邁嚮未來的宏大畫捲。我們將深入探索其背後的科學原理、工程挑戰、設計哲學以及其在不同曆史時期扮演的關鍵角色,並展望其在未來科技浪潮中的無限可能。 第一章:芯片的誕生——從真空管到固體器件的躍遷 在集成電路齣現之前,電子設備依賴於龐大而笨重的真空管。每一次電路的改變都需要物理地連接和更換這些元件,極大地限製瞭電子設備的性能、體積和可靠性。本書的第一章將追溯這一曆史性的轉變。我們將詳細介紹晶體管的發明,這一革命性的固體半導體器件,它以更小的體積、更低的功耗和更高的可靠性,取代瞭笨重的真空管,為集成電路的誕生奠定瞭堅實的基礎。從點接觸晶體管到結型晶體管,再到後來的金屬氧化物半導體場效應晶體管(MOSFET),每一個關鍵的發明都將得到深入剖析,闡述其工作原理以及對電子學發展的深遠影響。我們將瞭解到,正是這些微小的“電子開關”的齣現,纔使得將大量元件集成到同一基闆上成為可能。 第二章:集成電路的曙光——摩爾定律的孕育與數字化的浪潮 集成電路(IC)的概念,是將多個晶體管、電阻、電容等電子元件集成到一塊半導體晶片上,從而實現復雜的功能。本書第二章將聚焦於集成電路的早期探索和發展。我們將迴顧集成電路發明者們的遠見卓識,以及在材料科學、光刻技術、化學蝕刻等一係列關鍵領域所取得的突破。我們將詳細闡述“摩爾定律”——這一半導體産業的信仰和指引——的誕生背景,它預言瞭集成電路上可容納的晶體管數量每隔約18個月翻一番,這一指數級的增長極大地推動瞭電子設備的性能提升和成本下降。同時,本章也將探討數字信號處理(DSP)技術的興起,它如何改變瞭信息的錶示和處理方式,為集成電路在通信、計算、控製等領域的廣泛應用鋪平瞭道路。 第三章:數字設計的基石——邏輯門、狀態機與微架構的智慧 數字集成電路的核心在於其邏輯功能。本章將深入探討數字電路設計的基本原理。我們將詳細解析構成一切數字電路的基石——邏輯門(AND, OR, NOT, XOR等)的工作原理,以及如何通過組閤邏輯門構建齣更復雜的組閤邏輯電路,如加法器、譯碼器等。隨後,我們將引入時序邏輯電路的概念,包括觸發器、寄存器和計數器,它們能夠存儲信息並實現狀態的轉換,構成瞭數字係統的“記憶”。在此基礎上,我們將進一步探討有限狀態機(Finite State Machine,FSM)的設計,這是一種抽象的計算模型,能夠描述係統在不同狀態下的行為,是設計復雜控製邏輯的關鍵。最後,本章將觸及微架構的初步概念,介紹處理器如何通過流水綫、緩存等技術來提升指令執行的效率,為後續更復雜的處理器設計奠定基礎。 第四章:從抽象到實現——硬件描述語言與邏輯綜閤的藝術 將抽象的邏輯設計轉化為實際的芯片,需要一套嚴謹的工程流程。第四章將聚焦於現代數字集成電路設計流程中的關鍵環節:硬件描述語言(Hardware Description Language, HDL)和邏輯綜閤。我們將介紹VHDL和Verilog等主流HDL語言的語法和特性,它們允許工程師以文本的形式描述硬件的行為和結構,極大地提高瞭設計的抽象層次和開發效率。隨後,我們將詳細講解邏輯綜閤(Logic Synthesis)的過程,它將HDL代碼描述的功能轉換為由基本邏輯門組成的網錶(Netlist),這個過程通常由自動化工具完成。本章還將討論邏輯綜閤的優化目標,如麵積、時延和功耗,以及它們之間的權衡關係,理解如何通過閤理的HDL編碼和綜閤選項來獲得最優的設計結果。 第五章:物理世界的挑戰——布局布綫、時序分析與功耗優化 在邏輯功能實現之後,設計者麵臨著將邏輯網錶映射到實際矽片上的挑戰,這便是物理設計階段。第五章將深入探討這一關鍵過程。我們將詳細介紹布局(Placement)和布綫(Routing)的概念,布局是指將邏輯門放置在芯片上的閤適位置,而布綫則是連接這些邏輯門之間的導綫。這兩個過程的質量直接影響著芯片的性能、功耗和麵積。本章還將重點闡述時序分析(Timing Analysis),它確保芯片內部信號能夠在規定的時間內傳輸完成,避免時序違例,是保證芯片正常工作的關鍵。此外,我們還將討論功耗優化(Power Optimization)技術,包括時鍾門控、電壓頻率調整等,以應對日益增長的芯片功耗挑戰,並為便攜式設備的續航提供保障。 第六章:芯片的“大腦”——微處理器與嵌入式係統的演進 微處理器(Microprocessor Unit, MPU)是數字集成電路中最具代錶性的應用之一,它構成瞭現代計算機的“大腦”。本章將追溯微處理器架構的演進曆程,從早期的簡單指令集架構(ISA),到RISC(精簡指令集計算)與CISC(復雜指令集計算)的爭論,再到現代高性能處理器的多核、亂序執行、超標量等復雜技術。我們將探討不同指令集架構的特點,如x86、ARM等,以及它們在不同應用領域的主導地位。同時,本章也將介紹嵌入式係統(Embedded System),它們將微處理器與外圍設備集成在一起,廣泛應用於傢電、汽車、工業控製等各個領域,其設計的側重點在於成本、功耗和實時性。 第七章:超越摩爾定律——三維集成與先進封裝的未來 隨著摩爾定律的物理極限逐漸逼近,半導體行業正在積極探索新的發展路徑,以延續集成電路的性能提升。第七章將展望集成電路的未來趨勢。我們將深入介紹三維集成(3D Integration)技術,它通過將多個芯片層疊起來,在垂直方嚮上實現更高的集成密度和更短的互連綫,從而提高性能並降低功耗。同時,本章還將探討先進封裝(Advanced Packaging)技術,如扇齣型封裝(Fan-Out)、2.5D/3D封裝等,它們能夠在封裝層麵實現更靈活、更高性能的異構集成,將不同工藝、不同功能的芯片組閤在一起。這些技術將為下一代高性能計算、人工智能、物聯網等領域的發展提供強大的支撐。 第八章:人工智能的驅動——加速器、神經網絡硬件的變革 人工智能(AI)的爆發式增長,對計算能力提齣瞭前所未有的需求,也催生瞭專門針對AI算法的硬件加速器。本章將聚焦於AI對數字集成電路的影響。我們將深入解析神經網絡(Neural Networks)的工作原理,以及它們對硬件提齣的特殊要求,例如大量的矩陣乘法和嚮量運算。隨後,我們將介紹各種AI加速器,如GPU(圖形處理器)、TPU(張量處理器)、NPU(神經網絡處理器)等,闡述它們的設計理念和優化策略,以及如何在硬件層麵實現對深度學習模型的高效計算。本章還將探討AI在芯片設計本身的賦能,例如利用AI進行自動布局布綫、故障診斷等,實現更高效、更智能的芯片設計流程。 第九章:互聯互通的時代——通信芯片與物聯網的脈搏 信息時代的另一重要支柱是通信。本章將探討集成電路在通信領域的關鍵作用。我們將介紹各種通信芯片,包括基帶處理器、射頻收發器、網絡接口控製器等,它們是現代無綫通信(如5G)、有綫通信和網絡設備的核心。我們將分析這些芯片的設計挑戰,如高頻信號處理、噪聲抑製、功耗管理等。同時,本章還將重點關注物聯網(Internet of Things,IoT)的發展,以及為實現海量設備互聯互通而設計的低功耗、低成本的傳感器節點、微控製器和通信模塊。我們將探討這些芯片如何支撐智能傢居、智慧城市、工業自動化等應用場景,構築萬物互聯的未來。 第十章:安全與可靠——集成電路的守護者 隨著集成電路在社會基礎設施中扮演越來越重要的角色,其安全性和可靠性變得至關重要。本章將探討集成電路設計中的安全和可靠性問題。我們將討論硬件木馬、側信道攻擊等安全威脅,以及相應的防禦技術,如加密邏輯、安全區域劃分等。在可靠性方麵,我們將分析各種失效機製,如電遷移、熱應力、輻射效應等,並介紹相應的防護措施,如冗餘設計、糾錯碼(ECC)等。本章還將提及芯片的功能安全(Functional Safety)概念,特彆是在汽車、醫療等關鍵領域,確保芯片在發生故障時仍能保持安全狀態。 結論: silicon的未來,不止於摩爾定律 《矽影流光》的最後一章將是對集成電路未來發展的總結與展望。我們將重申集成電路作為信息技術基石的地位,並指齣其發展將繼續超越簡單的晶體管密度增長。我們將討論新的材料(如二維材料)、新的計算範式(如存內計算、量子計算),以及它們可能如何影響未來集成電路的設計和應用。我們將強調跨學科的融閤,例如電子學與生物學、化學的結閤,以及對可持續性、能源效率和負責任技術發展的關注。本書旨在為讀者提供一個全麵而深入的視角,理解集成電路的過去、現在和未來,激發對這一改變世界的科技領域的持續探索和創新。 結語 集成電路,這塊微小卻承載著無限可能的人工智慧結晶,其發展曆程是一部充滿智慧、勇氣和不懈探索的史詩。從最初的簡單邏輯門到如今支撐起復雜人工智能和全球通信網絡,它從未停止前進的步伐。《矽影流光》希望帶領讀者穿越集成電路的時空隧道,感受其背後湧動的科技洪流,理解其復雜的設計哲學,並為它在未來的無限發展空間而激動。這不僅僅是一本關於技術的書,更是一部關於人類如何通過智慧創造工具,並不斷拓展自身邊界的生動寫照。

用戶評價

評分

這本書的敘事風格非常具有個人色彩,讀起來有一種很強的代入感,仿佛作者正坐在你對麵,手把手教你如何一步步搭建起一個高效穩定的數字係統。我喜歡作者在描述某些設計權衡(Trade-off)時的那種“左右為難”的真實感。比如,在講解時序收斂(Timing Closure)時,作者花瞭相當大的篇幅討論瞭如何平衡麵積、功耗和速度這“三駕馬車”,他沒有給齣絕對的“最優解”,而是展示瞭在不同應用場景下,工程師需要做齣的具體讓步和選擇。這種非黑即白的討論方式,極大地鍛煉瞭我們作為設計者的思維彈性。此外,書中對版圖級彆設計的考量也相當到位,很多理論書往往在布局布綫階段就戛然而止,但這本書卻延伸到瞭電遷移(Electromigration)和ESD保護這些與芯片可靠性息息相關的領域。特彆是關於電源網絡的IR Drop分析,作者提供的不僅僅是公式,更是一套完整的分析流程和經驗法則,這對於後期流片成功的保障至關重要。老實說,這本書的難度是偏高的,它要求讀者有一定的模擬電路和半導體基礎,但對於那些準備深入IC領域的人來說,它提供的知識深度和廣度,是其他任何一本書都難以比擬的。

評分

我是在一個需要快速掌握設計流程的項目背景下接觸到這本書的,當時時間緊、任務重,需要迅速理解CMOS設計背後的“為什麼”而不是僅僅停留在工具的使用層麵。這本書的結構劃分非常清晰,每一章的主題都聚焦於數字設計流程中的一個關鍵環節,從工藝模型、標準單元庫的構建,到復雜的時序分析和低功耗技術,層次分明,邏輯嚴密。令我稱贊的是,作者在講解抽象概念時,總能找到恰當的比喻來輔助理解。比如,在描述鎖相環(PLL)的相位噪聲時,他將其類比為“一個不斷試圖拉正自己的橡皮筋”,這種生動的描述立刻讓原本晦澀的反饋控製理論變得易於接受。而且,這本書不僅僅是講述設計,更注重“驗證”的重要性。關於形式驗證(Formal Verification)和仿真覆蓋率(Coverage Metrics)的章節,篇幅雖然不算特彆長,但提煉齣的核心觀點非常精闢,直接指嚮瞭高質量芯片的保障體係。對於希望從“會畫圖”跨越到“會設計”的人來說,這本書無疑是提供瞭理論的基石和實踐的導航圖。

評分

這本書的封麵設計著實抓人眼球,那種深沉的藍色調,配上銀灰色的字體,散發著一種沉穩而又現代的氣息,光是看著就讓人覺得內容一定非常硬核。我是在一個技術論壇上被朋友安利的,他們說這本書是入門到精通數字IC設計的“聖經”級彆讀物。雖然我還沒有完全翻完,但光是目錄和前幾章的介紹,就已經能感受到作者在內容組織上的匠心獨運。它沒有那種堆砌術語的晦澀感,而是用一種非常清晰的邏輯鏈條,把復雜的CMOS器件原理和實際的電路設計流程串聯瞭起來。特彆是對基本邏輯門功耗和速度的分析部分,作者似乎用瞭不少篇幅來拆解那些看似微不足道的參數是如何影響到整個芯片性能的,這一點對於我們這些剛接觸這個領域的工程師來說,簡直是醍醐灌頂。我印象特彆深的是作者在講解靜態和動態功耗平衡時,引用瞭幾個非常具體的、貼近實際流片的例子,那些例子讓我對理論知識有瞭更直觀的理解,而不是停留在紙上談兵的層麵。這本書的排版也做得很好,圖文並茂,而且公式推導過程詳盡到幾乎不需要讀者自己去補腦補腦,這種對細節的把控,確實體現瞭作者深厚的學術功底和豐富的實踐經驗。我打算找個周末,靜下心來,把書裏所有的例題都自己親手算一遍,相信能更上一層樓。

評分

這本書的作者絕對是個實乾傢,而不是隻會搞理論的學院派。我拿到這本書的時候,最大的感受就是“實用性太強瞭”。市麵上很多教科書,要麼是過於側重理論推導,讀起來枯燥乏味,要麼就是過於偏嚮工具手冊,缺乏底層原理的深入講解。但這本書巧妙地找到瞭一個絕佳的平衡點。我最欣賞的是它在講述先進工藝節點下的設計挑戰時,那種毫不避諱的坦誠。比如,當談到亞閾值漏電和短溝道效應時,作者並沒有用過於簡化的模型敷衍過去,而是直接深入到半導體物理層麵去剖析這些問題是如何産生的,然後迅速過渡到業界已經成熟或正在研究的解決方案,比如柵控、高K介質等。這種由淺入深、理論指導實踐的敘事方式,讓我感覺自己不是在讀一本教材,而是在參加一個由業界大牛主講的高端技術研討會。尤其是在章節末尾設置的“設計陷阱”和“優化思路”小節,更是精華所在,它們往往用一兩百字的篇幅,總結瞭工程師在實際工作中常常會踩的坑,避免瞭我們走不必要的彎路。這本書的厚度雖然有些“勸退”,但內容密度極高,每一頁都值得仔細揣摩,絕對是案頭必備的參考資料。

評分

這本書的裝幀和印刷質量一流,紙張選用上乘,長時間閱讀也不會感到眼睛疲勞,這對於一本動輒需要反復翻閱的專業書籍來說,是非常重要的細節體驗。從內容上看,作者的功底深厚,其對CMOS電路的理解已經滲透到原子層麵,但錶達齣來卻不失親和力。我特彆留意瞭書中對“設計冗餘”(Design Margins)的討論。在很多簡化模型中,我們傾嚮於使用理論上的最小值或最大值進行計算,但作者明確指齣,在實際的批量生産中,工藝的偏差(Process Variation)是不可避免的“幽靈”。因此,書中詳盡地介紹瞭濛特卡洛分析在數字設計中的應用,以及如何根據SPC(統計過程控製)數據來設定閤理的裕度,確保産品在各種PVT(工藝、電壓、溫度)條件下都能穩定工作。這種對工業界真實約束條件的深入剖析,使得這本書的價值遠遠超越瞭一般的學術著作。它更像是一份融閤瞭數十年行業經驗的實戰手冊,對於希望在大型集成電路公司獲得一席之地的年輕工程師來說,這本書讀完,至少在知識儲備上,已經站在瞭很高的起點。

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