激光跟踪仪测量原理与应用 pdf epub mobi txt 电子书 下载 2025

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范百兴，李广云，易旺民，杨振 著

图书标签:

• 激光跟踪仪
• 三坐标测量
• 测量技术
• 精密测量
• 工业测量
• 逆向工程
• 质量控制
• 机械工程
• 自动化
• 光学测量

出版社： 测绘出版社

ISBN：9787503040306

版次：1

商品编码：12247919

包装：平装

开本：16开

出版时间：2017-06-01

用纸：胶版纸

页数：168

编辑推荐

本论著将为精密工业与工程测量的发展提供新的技术和理论支持，将精密工业与工程测量的精度提高到微米级，将极大地推动精密工业与工程测量学科的发展，同时，以工程测量的理论和方法为基础，精密工业与工程测量的应用领域将得到极大地拓展。同时，本论著对广大工程技术人员具有较高地参考价值，对于提高我国工业制造和安装水平、实现复杂精密工业测量与检测具有积极意义。

内容简介

本专著围绕激光跟踪仪测量原理及其应用，结合作者近年来所从事的理论和工程项目研究，从激光跟踪仪的发展历程、测量和控制原理、误差分析和校准检定、多测站联合平差、动态测量及数据处理、联机控制及二次开发等方面，系统的论述了激光跟踪仪的测量原理及其典型应用，将工程测量和大地测量的经典数据平差模型用于激光跟踪仪的工业测量数据处理，提出了广义USMN平差模型、任意状态下的空间加权秩亏自由网平差模型等理论，成功解决解决了激光跟踪仪多站测量、多类型仪器联合测量、动态测量等问题。

作者简介

范百兴，解放军信息工程大学地理空间信息学院副教授，主要从事精密工业与工程测量方面的研究，联系电话13526479575。

好的，以下是为您创作的图书简介，不涉及《激光跟踪仪测量原理与应用》的内容，力求详实且贴近专业书籍的风格。 --- 书籍名称：《先进材料的微观结构表征与性能调控》 内容简介 本书深入探讨了现代材料科学领域中，微观结构特征如何决定宏观性能表现，并系统梳理了当前用于解析这些微观结构的先进表征技术及其在材料设计与优化中的关键作用。全书内容紧密围绕“结构-性能”这一核心科学问题展开，旨在为材料研究人员、工程师以及高年级本科生和研究生提供一套全面、深入且具有实践指导意义的理论框架和技术指南。 第一部分：材料微观结构的本质与分类 本部分首先界定了“微观结构”的范畴，涵盖了从原子尺度到微米尺度的多尺度特征。我们详细阐述了晶体结构（点缺陷、线缺陷、面缺陷）、非晶结构（短程有序与长程无序）、第二相析出物、晶界特征、孔隙率、纤维取向度等关键结构参数的定义与量化方法。 重点章节包括： 1. 晶格缺陷的能态与迁移机制： 剖析了空位、间隙原子、位错（刃、角、螺型）在不同应力场和温度梯度下的能量演变路径，以及它们对材料塑性、蠕变和断裂韧性的根本影响。 2. 非晶态材料的松弛过程： 探讨了玻璃化转变温度（Tg）附近的结构松弛行为，重点解析了自由体积理论在预测黏弹性能中的应用，并引入了剪切带形成的微观机制。 3. 多相复合材料的界面效应： 深入研究了界面能、界面厚度对复合材料的力学性能（如界面剪切强度、增韧机制）和电学性能（如界面电子态）的影响。 第二部分：先进微观结构表征技术 本部分是全书的核心，系统性地介绍了当前最前沿、最具解析能力的材料结构表征技术，并强调了不同技术间的互补性与数据融合策略。 电子显微学（EM）的深度应用： 透射电子显微镜（TEM）与高分辨TEM（HRTEM）： 详细讲解了成像原理、衍射模式分析（SAED），并重点阐述了球差校正TEM在原子尺度缺陷成像、晶格畸变测定中的突破性进展。 扫描电子显微镜（SEM）及其背散射电子（BSE）与电子背散射衍射（EBSD）： 阐述了EBSD如何实现大面积、高速度的晶粒取向、尺寸分布和应力张量映射，特别是在金属塑性变形过程中的实时监测应用。 光谱学与衍射技术： X射线衍射（XRD）： 不仅限于物相分析，更侧重于同步辐射光源下的高精度残余应力分析、小角X射线散射（SAXS）在纳米颗粒尺寸和孔隙结构测量中的应用。 拉曼光谱与红外光谱（FTIR）： 探讨了它们如何用于表征化学键环境、电子态和晶格振动模式，尤其是在二维材料和有机-无机杂化材料研究中的独特优势。 X射线光电子能谱（XPS）与俄歇电子能谱（AES）： 聚焦于材料表层（深度小于10nm）的元素价态、化学态分析及其在催化剂失活机理研究中的作用。 扫描探针显微镜（SPM）技术： 原子力显微镜（AFM）： 详细介绍了高精度形貌成像之外的力学成像模式，如峰值保持模式、力谱分析，以及纳米压痕技术在局部杨氏模量测定中的应用。 扫描隧道显微镜（STM）： 深入讨论了其在量子尺度上探测电子态密度（LDOS）的原理和方法，以及用于表面吸附分子结构的确定。 第三部分：结构调控与性能优化 本部分聚焦于如何利用前述表征手段指导材料的实际设计与性能提升。 1. 热力学与动力学控制的相变： 结合相图理论，分析了热处理工艺（退火、淬火、时效）如何通过控制析出相的形核与长大，实现对机械强度和硬度的精确调控。 2. 高熵合金（HEA）的复杂结构-性能关系： 探讨了HEA中固溶体稳定性的微观判据（如Ω因子、价电子浓度），以及其独特的晶界结构如何导致高熵效应和优异的损伤容限。 3. 功能材料的结构与电磁学耦合： 以压电陶瓷和铁氧体为例，解析了晶畴结构、极化强度与介电常数、磁滞回线之间的定量关系，展示了如何通过晶体生长取向来优化器件性能。 4. 增材制造（AM）中的微观结构控制： 讨论了快速凝固过程中形成的非平衡态微观结构（如马氏体、枝晶间距、残余应力）对最终部件性能的负面或正面影响，并提出了基于原位监测的工艺反馈控制策略。 总结与展望 本书的最终目标是构建一个从材料制备到结构表征，再到性能验证的闭环研究体系。未来的挑战在于如何将高维度的表征数据（如EBSD、TEM数据）与计算材料学模型（如密度泛函理论DFT）有效结合，实现对新型、极端性能材料的理性设计。 本书配有大量的实验数据图谱、技术流程示意图和详细的案例分析，是从事材料基因工程、先进制造技术、能源存储与转换材料等领域研究人员不可或缺的参考工具书。 --- 目标读者： 材料科学与工程、物理学、化学、机械工程等相关专业的本科高年级学生、研究生、科研人员及工程技术人员。 页数预估： 约 950 页（包含大量图表与参考文献）。 主要关键词： 微观结构、电子显微镜、X射线衍射、晶格缺陷、性能调控、功能材料、多尺度分析。

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第二段评价： 说实话，一开始拿到《现代光学测量系统设计》这本书，我还有点犹豫，担心内容会太偏向理论，毕竟“系统设计”这四个字听起来就比较高深。但翻开后，我立刻被它丰富的案例和详细的流程吸引了。作者没有直接抛出复杂的公式和模型，而是通过一个又一个实际的光学测量应用场景，比如工业在线检测、生物医学成像、环境监测等等，来引出设计中的关键问题和解决方案。我特别喜欢它对于“系统集成”部分的讲解，如何将不同的光学元件、传感器、数据处理模块有机地结合起来，构成一个完整、高效的测量系统。书中还穿插了大量的图示和流程图，把抽象的概念变得直观易懂。最重要的是，它不仅教会你“怎么做”，还让你理解“为什么这么做”，培养了一种系统性的设计思维。感觉这本书就像一位经验丰富的设计导师，带着我一步步走向成熟。

评分☆☆☆☆☆

第四段评价： 《运动捕获技术与数字影像》这本书，真是让我耳目一新。我一直对动作捕捉在电影制作、游戏开发等领域的应用非常感兴趣，但很多资料要么只关注最终的视觉效果，要么过于专注于软件操作，而这本书却将技术原理和艺术表现完美地结合在了一起。它深入剖析了不同运动捕获系统的技术细节，包括光学式、惯性式、标记点式等，以及它们在采集精度、实时性、适用环境等方面的差异。让我印象深刻的是，书中不仅仅讲解了如何“捕捉”动作，更侧重于如何将捕捉到的数据转化为富有表现力的数字影像。它详细介绍了骨骼绑定、表情捕捉、后期合成等一系列流程，并且通过丰富的案例分析，展现了这些技术是如何赋予虚拟角色生命力的。读完这本书，我不仅对运动捕获技术有了更全面的理解，还对如何运用这项技术进行艺术创作有了新的启发。

评分☆☆☆☆☆

第三段评价： 我是一名刚刚接触三维扫描技术的初学者，对于《工业级三维扫描仪原理与实践》这本书，我只能说相见恨晚！在此之前，我尝试阅读过一些介绍三维扫描仪的文章，但大多零散且不成体系。这本书的出现，就像一盏明灯，照亮了我前进的道路。它从最基础的三角测量法、飞行时间法讲起，详细解释了不同扫描技术的原理和适用范围。然后，它把重点放在了工业级扫描仪的实际应用上，比如在汽车制造、航空航天、模具设计等领域的具体案例，让我深刻理解了三维扫描技术是如何改变这些行业的。书中还介绍了扫描数据的处理和分析，如何进行点云去噪、网格重建、尺寸测量等，这些都是我急需掌握的技能。特别是它对于扫描过程中可能出现的误差分析和控制的论述，让我对如何获得高质量的扫描数据有了更深刻的认识。

评分☆☆☆☆☆

第五段评价： 这本书《精密位移测量技术解析》的价值，在于它将一些看似枯燥的技术概念，用一种非常生动和实用的方式呈现出来。作为一名在科研领域工作的人员，我常常需要处理各种精密的位移测量任务，但之前很多时候只能依靠零散的文献和经验来摸索。这本书就像一本宝典，它系统地介绍了包括激光干涉仪、电涡流传感器、电容式传感器等多种主流的精密位移测量技术。让我特别赞赏的是，书中不仅讲解了每种技术的物理原理，更重要的是，它还深入探讨了这些技术在实际应用中的细节，比如如何选择合适的传感器、如何优化测量环境、如何进行数据采集和处理以减小误差。它还提供了许多关于校准和不确定度评定的指导，这对于保证测量结果的可靠性至关重要。这本书让我对精密位移测量的理解上升到了一个新的高度，相信它将成为我日常工作中不可或缺的参考。

评分☆☆☆☆☆

第一段评价： 这本《光栅尺与编码器技术详解》真是让人大开眼界！我一直对精密测量设备很感兴趣，但总觉得很多资料要么过于理论化，要么太过浅显，很难找到一本既能深入讲解原理，又能涵盖实际应用的书。这本书正好弥补了这个空白。它从光栅尺和编码器的基本结构、工作方式讲起，条理清晰，循序渐进。最让我惊喜的是，书中对各种类型的光栅尺（如增量式、绝对式）和编码器（如光学式、磁性式）的优缺点、适用场景都做了非常详尽的对比分析，这对于我这种需要根据具体需求选择设备的人来说，简直是福音。而且，它不仅仅停留在理论层面，还深入探讨了如何进行设备的选型、安装、校准，甚至是一些常见问题的故障排除技巧，都写得非常实用。读完后，我对这些精密测量元件的理解有了质的飞跃，感觉以后在工作中能更得心应手了。