基本信息
书名:PET成像前端集成电路设计
定价:69.00元
作者:高武
出版社:电子工业出版社
出版日期:2017-04-01
ISBN:9787121311253
字数:
页码:184
版次:01
装帧:平装
开本:16开
商品重量:0.4kg
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内容提要
本书针对正电子发射断层成像系统的需求,系统地介绍了辐射探测器前端集成电路的电路结构和设计方法学。全书分为三部分:部分主要介绍正电子发射断层成像前端读出电路的研究进展和发展动态分析、低噪声前端读出电路设计技术和电流模式前端读出电路设计技术等,第二部分主要介绍时间/数字转换器技术综述、低抖动延迟锁相环设计技术和多通道大动态范围时间/数字转换器设计技术等;第三部分给出多通道低功耗模拟/数字转换器的设计技术。全书后给出对下一代正电子发射断层成像前端集成电路的展望。本书适合集成电路设计领域的专业人员使用。
目录
作者介绍
西北工业大学教授,法国斯特拉斯堡大学科学博士、西北工业大学工学博士,主要从事低噪声前端读出集成电路、抗辐射集成电路和空间嵌入式系统的设计与开发。承担本科生'模拟集成电路设计”、研究所'前端微电子系统”等课程。
文摘
序言
最后,尽管这本书在某些技术细节上可以更丰富,但其整体的系统性结构还是值得肯定的。它成功地勾勒出了从光电信号捕获到数字事件输出的完整路径。对于那些已经具备一定模拟电路和数字逻辑基础,并希望跨入医疗成像专用IC设计领域的工程师而言,这本书提供了一个不错的路线图。如果能针对不同的PET模态(如PET/CT、PET/MR)的特殊需求,增加专门的章节来讨论跨模态兼容性带来的电路设计挑战,比如磁场对前端电路的影响,或者在超低功耗要求下如何权衡性能,相信其价值会更上一层楼。总而言之,这是一本有深度、有专业性的参考资料,但它更像是一份结构严谨的课程大纲,而非手把手教学的工具书。
评分从工程实践的角度来看,这本书在系统集成与验证方面的经验分享相对不足。集成电路设计不仅仅是仿真和流片,更涉及到与探测器阵列、电源管理单元(PMU)以及后端计算平台的复杂交互。我期待看到更多关于PCB布局的关键原则,比如如何处理地平面设计以最小化高频噪声耦合,以及在多通道系统中如何保证通道间的一致性。书中对ESD保护和EMC/EMI测试的探讨也显得过于表面化,这对于任何需要通过医疗设备认证的芯片设计而言,都是生死攸关的环节。一个优秀的参考书理应包含一些“血泪教训”式的案例分析,比如某个具体的噪声源是如何被定位和消除的,或者在某个特定的工艺节点下面临的功耗和热管理挑战。目前的内容更偏向于“理想化”的设计流程,缺乏对真实世界中不完美因素的应对之道。
评分深入到电路设计的具体章节,我感觉作者在模拟前端(AFE)部分的处理上展现了扎实的功底,尤其是在低噪声放大器(LNA)和脉冲整形滤波器(Shaping Filter)的设计权衡上,提供了不少实用的见解。然而,在高速数据采集与模数转换器(ADC)的接口部分,内容的层次感略有欠缺。PET系统对时间分辨率的要求极高,这直接关系到时间飞行(TOF)测量的精度。书中虽然提到了时间数字转换器(TDC)的重要性,但对于如何在高增益、高带宽的模拟链之后,有效抑制串扰、消除基线漂移,并确保ADC采样时序的精确同步,这些“魔鬼细节”的讨论稍显单薄。我期望看到更多关于不同ADC架构(如Pipeline, SAR)在PET应用场景下的优劣对比,以及如何通过片上(On-chip)校准技术来应对温度漂移和器件老化对时间窗一致性的破坏,这些是实际产品化中最为头疼的问题。
评分关于数字信号处理(DSP)和FPGA实现的部分,内容显得有些过于概括化。PET系统的实时事件处理能力是其核心竞争力之一,这涉及到复杂的时间戳匹配、能量重建以及事件筛选。书中对这些算法的硬件加速策略阐述不够深入。例如,在描述如何利用FPGA实现并行化的时间戳处理流水线时,如果能提供具体的Verilog/VHDL代码片段或者更详细的状态机描述,对比不同的并行度策略对系统延迟的影响,那将是极具价值的参考。目前的描述更像是一个高层的功能列表,缺乏深入到寄存器传输级(RTL)的细节,这使得有志于FPGA开发或嵌入式系统设计的读者,难以将书本知识直接转化为可验证的设计。特别是对于先进的深度学习在PET图像增强中的应用趋势,书中似乎没有给予足够的关注,这在当前快速迭代的医疗影像领域是一个明显的疏漏。
评分这本《PET成像前端集成电路设计》的书籍,从我一个初涉数字信号处理领域的读者的角度来看,内容编排和深度上都有值得探讨之处。首先,我注意到书中对于PET成像基础原理的介绍篇幅相对有限,更多地聚焦于后续的电子学实现层面。这对于希望全面了解PET系统工作机制的读者来说,可能略显不足。如果能在开篇部分,更系统、更详尽地阐述放射源、探测器响应、时间分辨以及能量窗设定等关键物理概念,并用直观的图示来辅助说明,那么读者在理解后续电路设计时,就能建立一个更坚实的理论基础。例如,在讨论如何从光电倍增管(PMT)或硅光电倍增管(SiPM)的模拟信号中提取有效信息时,如果能更深入地剖析噪声源的特性及其对重建图像质量的影响,而不是仅仅停留在电路框图的层面,我想会更有帮助。目前的结构更倾向于一个成熟的工程师手册,对新手不太友好,需要读者自行补齐前端物理背景知识。
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