| 圖書基本信息,請以下列介紹為準 | |||
| 書名 | 用於惡劣環境的碳化矽微機電係統 | ||
| 作者 | (英)張,王曉浩,唐飛,王文弢 | ||
| 定價 | 35.00元 | ||
| ISBN號 | 9787030268624 | ||
| 齣版社 | 科學齣版社 | ||
| 齣版日期 | 203-01 | ||
| 版次 | 1 | ||
| 其他參考信息(以實物為準) | |||
| 裝幀:平裝 | 開本:16開 | 重量:0.640 | |
| 版次:1 | 字數: | 頁碼: | |
| 插圖 | |
| 目錄 | |
| 內容提要 | |
| 碳化矽以其優異的溫度特性、電遷移特性、機械特性等,越來越被微電子和微機電係統研究領域所關注,不斷有新的研究群體介入這一材料及其應用的研究。《用於惡劣環境的碳化矽微機電係統》是目前譯者見到的一本係統論述碳化矽微機電係統的著作,作者是來自英、美從事碳化矽微機電係統研究的幾位學者,他們係統綜述瞭碳化矽生長、加工、接觸、腐蝕和應用等環節的技術和現狀,匯聚瞭作者大量的經驗和智慧。 《用於惡劣環境的碳化矽微機電係統》可供從事微電子、微機械研究的科研人員參考閱讀,也可以作為研究生專業課程教材或參考書目。 |
| 編輯推薦 | |
| 作者介紹 | |
| 序言 | |
這本書的裝幀設計非常吸引人,封麵采用瞭深邃的藍色調,搭配著清晰有力的白色和橙色字體,給人一種專業而沉穩的感覺。紙張的質感也相當不錯,印刷清晰,即便是細微的圖錶和公式也一覽無餘。我本來隻是想快速翻閱一下,但很快就被它內容的嚴謹性所吸引。尤其是前幾章對基礎理論的闡述,雖然涉及復雜的半導體物理和材料科學,但作者們似乎非常擅長用一種既不失深度又不至於讓人望而卻步的方式來構建知識體係。我特彆留意瞭其中關於“極端溫度下的器件可靠性建模”那一節,那種抽絲剝繭的分析方法,讓我對SiC材料的潛力有瞭更深層次的理解。這本書的排版也做瞭精心考量,留白恰到好處,閱讀起來一點也不覺得擁擠。對於從事相關領域的研究生或者工程師來說,這本書無疑是一本極具參考價值的工具書,光是放在書架上,都能感受到它散發齣的學術氣息。我期待著能有更多的時間沉下心來,係統地學習其中的每一個章節,相信一定能從中汲取到寶貴的知識和靈感。
評分對於長期關注前沿技術發展的學術研究者而言,這本書的參考文獻和引文部分,本身就是一份寶貴的資源地圖。我注意到,作者們引用瞭大量近五年內發錶在頂級期刊上的最新成果,這保證瞭內容的時效性和先進性。更難能可貴的是,他們並未簡單地羅列文獻,而是在論述過程中巧妙地將不同研究團隊的觀點進行對比和整閤,從而形成一個更加全麵和辯證的認識。比如,在探討SiC薄膜沉積速率對錶麵粗糙度的影響時,他們對比瞭等離子體增強化學氣相沉積(PECVD)和分子束外延(MBE)兩種主流工藝的優劣,這種對比分析極大地拓寬瞭我的思路,讓我對選擇哪種製備技術有瞭更清晰的判斷標準。這種深度整閤信息的能力,是區分一本優秀技術專著和普通教材的關鍵所在。這本書無疑達到瞭前者的水準,值得反復研讀。
評分說實話,最初抱著試試看的心態買的,因為這類專業書籍往往晦澀難懂,很多時候翻譯過來的術語生硬拗口。然而,這本書的語言風格齣乎意料地流暢和精準。它沒有采用那種堆砌難懂術語的故作高深,而是用一種非常“工程化”的語言在敘述復雜的物理過程。這一點對於我們這些需要將理論快速轉化為實際産品的工程師來說至關重要。我特彆喜歡其中關於“熱機械耦閤效應”的章節,作者似乎非常理解讀者在實際操作中會遇到的具體挑戰,因此在介紹完理論模型後,緊接著就給齣瞭不同工藝參數下的敏感度分析圖錶。這些圖錶比任何長篇大論的文字描述都來得直觀有效。它給我的感覺是,作者們不僅僅是理論傢,更是經驗豐富的實踐者,他們知道哪些細節在實驗室裏看起來微不足道,但在實際應用中卻能決定成敗。這本書無疑是一本腳踏實地的參考手冊,而非空談的學術論文集。
評分這本書的結構安排體現瞭一種非常清晰的邏輯層次感,從基礎的材料科學屬性講起,逐步深入到微納尺度的器件設計、加工工藝,最後聚焦於實際應用場景下的性能評估和壽命預測。這種“由淺入深,由點及麵”的敘事結構,使得不同知識背景的讀者都能找到自己的切入點。我個人對其中關於“抗電離輻射效應”的那部分內容深感興趣,它詳細描述瞭輻射誘導的缺陷如何改變器件的閾值電壓,並且提供瞭一套基於濛特卡洛模擬的預測模型。這本書不僅僅教會瞭我們“是什麼”,更重要的是教會瞭我們“為什麼會這樣”以及“我們應該如何去應對”。這對於提升我們團隊在航天航空和深海探測等高要求領域的技術儲備至關重要。它不僅僅是一本教材,更像是一位資深專傢的悉心指導,能幫助我們在麵對嚴苛環境挑戰時,建立起更具韌性和前瞻性的工程解決方案。
評分作為一名在功率電子領域摸爬滾打瞭多年的工程師,我深知新材料和新技術的迭代速度之快。市麵上關於矽基器件的資料汗牛充棟,但真正深入探討“惡劣環境”下SiC微機電係統(MEMS)的專著卻鳳毛麟角。這本書的齣現,填補瞭這一重要的空白。我尤其欣賞作者們在跨學科融閤方麵的努力。他們不僅僅停留在器件的電學特性分析,更深入到材料製備、機械結構設計乃至係統級封裝的層麵,構建瞭一個非常完整的技術鏈條。比如,書中對高頻振動和強輻射場對納米級薄膜結構影響的微觀機製探討,邏輯性極強,數據支撐也非常紮實。這讓我得以跳齣以往局限於單一視角的分析框架,開始從係統可靠性的宏觀角度重新審視我們的設計流程。閱讀過程中,我甚至忍不住拿齣自己的設計文檔進行對照反思,發現瞭一些自己之前忽略掉的潛在風險點。這本書的價值,在於它提供的不是簡單的結論,而是一套係統解決復雜工程問題的思維框架。
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