| 图书基本信息,请以下列介绍为准 | |||
| 书名 | 用于恶劣环境的碳化硅微机电系统 | ||
| 作者 | (英)张,王晓浩,唐飞,王文弢 | ||
| 定价 | 35.00元 | ||
| ISBN号 | 9787030268624 | ||
| 出版社 | 科学出版社 | ||
| 出版日期 | 203-01 | ||
| 版次 | 1 | ||
| 其他参考信息(以实物为准) | |||
| 装帧:平装 | 开本:16开 | 重量:0.640 | |
| 版次:1 | 字数: | 页码: | |
| 插图 | |
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| 内容提要 | |
| 碳化硅以其优异的温度特性、电迁移特性、机械特性等,越来越被微电子和微机电系统研究领域所关注,不断有新的研究群体介入这一材料及其应用的研究。《用于恶劣环境的碳化硅微机电系统》是目前译者见到的一本系统论述碳化硅微机电系统的著作,作者是来自英、美从事碳化硅微机电系统研究的几位学者,他们系统综述了碳化硅生长、加工、接触、腐蚀和应用等环节的技术和现状,汇聚了作者大量的经验和智慧。 《用于恶劣环境的碳化硅微机电系统》可供从事微电子、微机械研究的科研人员参考阅读,也可以作为研究生专业课程教材或参考书目。 |
| 编辑推荐 | |
| 作者介绍 | |
| 序言 | |
对于长期关注前沿技术发展的学术研究者而言,这本书的参考文献和引文部分,本身就是一份宝贵的资源地图。我注意到,作者们引用了大量近五年内发表在顶级期刊上的最新成果,这保证了内容的时效性和先进性。更难能可贵的是,他们并未简单地罗列文献,而是在论述过程中巧妙地将不同研究团队的观点进行对比和整合,从而形成一个更加全面和辩证的认识。比如,在探讨SiC薄膜沉积速率对表面粗糙度的影响时,他们对比了等离子体增强化学气相沉积(PECVD)和分子束外延(MBE)两种主流工艺的优劣,这种对比分析极大地拓宽了我的思路,让我对选择哪种制备技术有了更清晰的判断标准。这种深度整合信息的能力,是区分一本优秀技术专著和普通教材的关键所在。这本书无疑达到了前者的水准,值得反复研读。
评分这本书的装帧设计非常吸引人,封面采用了深邃的蓝色调,搭配着清晰有力的白色和橙色字体,给人一种专业而沉稳的感觉。纸张的质感也相当不错,印刷清晰,即便是细微的图表和公式也一览无余。我本来只是想快速翻阅一下,但很快就被它内容的严谨性所吸引。尤其是前几章对基础理论的阐述,虽然涉及复杂的半导体物理和材料科学,但作者们似乎非常擅长用一种既不失深度又不至于让人望而却步的方式来构建知识体系。我特别留意了其中关于“极端温度下的器件可靠性建模”那一节,那种抽丝剥茧的分析方法,让我对SiC材料的潜力有了更深层次的理解。这本书的排版也做了精心考量,留白恰到好处,阅读起来一点也不觉得拥挤。对于从事相关领域的研究生或者工程师来说,这本书无疑是一本极具参考价值的工具书,光是放在书架上,都能感受到它散发出的学术气息。我期待着能有更多的时间沉下心来,系统地学习其中的每一个章节,相信一定能从中汲取到宝贵的知识和灵感。
评分这本书的结构安排体现了一种非常清晰的逻辑层次感,从基础的材料科学属性讲起,逐步深入到微纳尺度的器件设计、加工工艺,最后聚焦于实际应用场景下的性能评估和寿命预测。这种“由浅入深,由点及面”的叙事结构,使得不同知识背景的读者都能找到自己的切入点。我个人对其中关于“抗电离辐射效应”的那部分内容深感兴趣,它详细描述了辐射诱导的缺陷如何改变器件的阈值电压,并且提供了一套基于蒙特卡洛模拟的预测模型。这本书不仅仅教会了我们“是什么”,更重要的是教会了我们“为什么会这样”以及“我们应该如何去应对”。这对于提升我们团队在航天航空和深海探测等高要求领域的技术储备至关重要。它不仅仅是一本教材,更像是一位资深专家的悉心指导,能帮助我们在面对严苛环境挑战时,建立起更具韧性和前瞻性的工程解决方案。
评分说实话,最初抱着试试看的心态买的,因为这类专业书籍往往晦涩难懂,很多时候翻译过来的术语生硬拗口。然而,这本书的语言风格出乎意料地流畅和精准。它没有采用那种堆砌难懂术语的故作高深,而是用一种非常“工程化”的语言在叙述复杂的物理过程。这一点对于我们这些需要将理论快速转化为实际产品的工程师来说至关重要。我特别喜欢其中关于“热机械耦合效应”的章节,作者似乎非常理解读者在实际操作中会遇到的具体挑战,因此在介绍完理论模型后,紧接着就给出了不同工艺参数下的敏感度分析图表。这些图表比任何长篇大论的文字描述都来得直观有效。它给我的感觉是,作者们不仅仅是理论家,更是经验丰富的实践者,他们知道哪些细节在实验室里看起来微不足道,但在实际应用中却能决定成败。这本书无疑是一本脚踏实地的参考手册,而非空谈的学术论文集。
评分作为一名在功率电子领域摸爬滚打了多年的工程师,我深知新材料和新技术的迭代速度之快。市面上关于硅基器件的资料汗牛充栋,但真正深入探讨“恶劣环境”下SiC微机电系统(MEMS)的专著却凤毛麟角。这本书的出现,填补了这一重要的空白。我尤其欣赏作者们在跨学科融合方面的努力。他们不仅仅停留在器件的电学特性分析,更深入到材料制备、机械结构设计乃至系统级封装的层面,构建了一个非常完整的技术链条。比如,书中对高频振动和强辐射场对纳米级薄膜结构影响的微观机制探讨,逻辑性极强,数据支撑也非常扎实。这让我得以跳出以往局限于单一视角的分析框架,开始从系统可靠性的宏观角度重新审视我们的设计流程。阅读过程中,我甚至忍不住拿出自己的设计文档进行对照反思,发现了一些自己之前忽略掉的潜在风险点。这本书的价值,在于它提供的不是简单的结论,而是一套系统解决复杂工程问题的思维框架。
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