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史蒂文 M.桑德勒 著，梁建，羊杨，蒋修国 等 译

图书标签:

• 电源完整性
• 信号完整性
• PCB设计
• 电路设计
• EMC/EMI
• 电源系统
• 高速电路
• 电子工程
• 射频电路
• 电源管理

出版社： 机械工业出版社

ISBN：9787111546238

版次：1

商品编码：12046518

品牌：机工出版

包装：平装

丛书名： 电子与嵌入式系统设计译丛

开本：16开

出版时间：2016-09-01

用纸：胶版纸

页数：247

内容简介

　　本书从测量的角度出发，全面阐述了电源对系统的影响。作者在第1-3章介绍了测量基础、测量原理以及测试基本常识，比如灵敏度、本底噪声、动态范围、均值以及衰减器和前置放大器的使用，围绕各种测量域如频域、时域、增益、相位以及S参数等展开；第4章以实例介绍了如何使用测试设备测量电源完整性；第5章介绍了各种探头；第6章则围绕电源的分布网络展开；第8-15章介绍了特殊的电源完整性测量方法。

目录

译者序
致谢
第1章　引言 1
1.1　你将从本书学到什么 1
1.2　谁将从本书受益 2
1.3　本书的通用版式 2
1.3.1　为什么测量 2
1.3.2　获得或验证数据 2
1.3.3　设计、选择、优化 4
1.3.4　故障诊断 4
1.3.5　确认或验证 5
1.3.6　术语 6
第2章　测量艺术 7
2.1　无损的原因 7
2.2　不影响结果的测量 7
2.3　验证测试装置和测量限制 8
2.4　以高效和直接方式测量 9
2.4.1　非侵入式测量与侵入式测量 9
2.4.2　在线测量 9
2.4.3　间接测量与直接测量 10
2.5　测量的完整归档 10
2.5.1　测试工程师的名字和联系方式 10
2.5.2　测试的目的 11
2.5.3　仿真或预测的结果是否可用 12
2.5.4　测试日期和物理位置 13
2.5.5　运行测试的环境和条件 13
2.5.6　每种测试设备的名称（包括探头）和校准周期 13
2.5.7　装置的框图或图片 13
2.5.8　测量注释和说明 14
2.5.9　任何观测到的异常 14
2.5.10　结果和任何后续工作的总结 14
第3章　测量基本原理 15
3.1　灵敏度 15
3.2　本底噪声 16
3.3　动态范围 17
3.4　噪声密度 20
3.5　信号平均 23
3.6　标度 25
3.7　衰减器 27
3.8　前置放大器 28
3.9　测量域 30
3.9.1　频域 30
3.9.2　增益和相位 30
3.9.3　S参数 30
3.9.4　阻抗 31
3.9.5　时域 31
3.9.6　频谱域 33
3.9.7　测量域的比较 34
3.10　尾注 36
第4章　测试设备 37
4.1　频率响应分析仪和矢量网络分析仪 38
4.1.1　Omicron Lab Bode 100 38
4.1.2　Agilent E5061B 39
4.2　示波器 39
4.2.1　Teledyne Lecroy Waverunner 6 Zi 39
4.2.2　Rohde & Schwarz RTO1044 40
4.2.3　Tektronix DPO7000 41
4.2.4　Tektronix DPO72004B 41
4.2.5　Teledyne Lecroy Wavemaster 8 Zi 41
4.2.6　Tektronix MSO5204 42
4.2.7　Teledyne Lecroy HDO6104 43
4.2.8　Tektronix MDO4104-6 44
4.2.9　Omicron Lab ISAQ 100 44
4.3　频谱分析仪 45
4.3.1　Tektronix RSA5106A 45
4.3.2　Agilent N9020A 46
4.3.3　Agilent E5052B 46
4.4　信号发生器 47
4.5　TDR/TDT S参数分析仪 48
4.5.1　Picotest G5100A 48
4.5.2　Tektronix DSA8300/80E10 48
4.5.3　Teledyne Lecroy SPARQ 4012E 50
4.5.4　Agilent E5071C 50
第5章　探头、注入器和互连 52
5.1　电压探头 52
5.1.1　探头电路相互影响 53
5.1.2　探头响应平坦化 55
5.1.3　测量确认 56
5.1.4　选择电压探头 57
5.1.5　无源探头 58
5.1.6　有源探头 59
5.1.7　差分探头 60
5.1.8　特殊探头 60
5.1.9　其他连接 68
5.2　尾注 68
第6章　分布式系统 69
6.1　电源稳压器的噪声路径 70
6.1.1　内部噪声 70
6.1.2　电源抑制比 72
6.1.3　输出阻抗 74
6.1.4　反向传输和串扰 74
6.2　控制环路的稳定性 75
6.2.1　对输出阻抗的影响 76
6.2.2　对噪声的影响 76
6.2.3　对电源抑制比的影响 77
6.2.4　对反向传输的影响 77
6.3　差的稳定性如何传入系统 78
6.4　尾注 82
第7章　阻抗测量 83
7.1　选择一种测量方法 83
7.1.1　单端口测量法 83
7.1.2　两端口测量法 94
7.1.3　电流注入器测量 107
7.1.4　阻抗适配器 108
7.2　尾注 113
第8章　测量稳定性 115
8.1　稳定性及其必要性 115
8.1.1　控制环基础知识 115
8.1.2　增益裕量、相位裕量、延时裕量以及稳定性裕量 116
8.1.3　伯德图和奈奎斯特图 117
8.1.4　开环测量 121
8.1.5　注入设备 122
8.1.6　探头 124
8.1.7　闭环测量 129
8.1.8　上电和断电测量 129
8.1.9　正向测量 130
8.1.10　小环路增益 130
8.1.11　非侵入式闭环测量 133
8.2　尾注 136
第9章　PSRR测量 137
9.1　测量方法 137
9.1.1　在线或离线测量 137
9.1.2　直接或间接测量 138
9.2　输入调制 138
9.2.1　线路注入器 139
9.2.2　电流注入器 142
9.2.3　DC放大器 143
9.3　选择测量域 143
9.3.1　矢量网络分析仪 143
9.3.2　频谱分析仪 143
9.3.3　示波器 144
9.3.4　探头和灵敏度 144
9.4　尾注 150
第10章　反向传输和串扰 151
10.1　不同拓扑结构的反向传输 151
10.1.1　串联线性稳压器 151
10.1.2　并联稳压器 152
10.1.3　POL稳压器 153
10.1.4　运算放大器 153
10.2　调制输出电流 153
10.2.1　电流注入器 154
10.2.2　DC偏置注入器 154
10.3　测量输入电流 154
10.4　测量输入电压 156
10.5　间接测量 157
10.6　尾注 162
第11章　阶跃负载响应测量 163
11.1　瞬态的产生 163
11.1.1　电流注入器和电子负载 163
11.1.2　斜率 164
11.1.3　电流调制波形 166
11.2　测量响应 167
11.2.1　大信号与小信号 168
11.2.2　注意平均 168
11.2.3　采样率和时间刻度 170
11.3　尾注 175
第12章　测量纹波和噪声 176
12.1　选择一种测量方法 176
12.1.1　系统内测量与系统外测量 177
12.1.2　直接测量与间接测量 177
12.1.3　时域测量与频域测量 177
12.2　互连设备 177
12.2.1　示波器无源探头 178
12.2.2　示波器有源探头 178
12.2.3　直接使用50 Ω端接 178
12.3　选择设备 179
12.4　平均模式和滤波 192
12.5　尾注 193
第13章　边沿测量 194
13.1　带宽与上升时间 194
13.1.1　上升时间的级联 197
13.1.2　工作带宽与滤波器的影响 200
13.2　采样率与交错采样 202
13.3　内插 203
13.4　同轴电缆 204
13.5　探头连接的重要性 206
13.6　PCB因素 208
13.7　探头 208
13.8　尾注 212
第14章　用近场探头排除故障 213
14.1　电磁辐射基本理论 213
14.2　近场探头 214
14.3　探头和方位 215
14.4　测量仪器 217
14.5　频谱门限 217
14.6　尾注 229
第15章　高频阻抗测量 230
15.1　时域 230
15.2　校准 231
15.3　参考面 232
15.4　设置TDR脉冲上升时间 235
15.5　TDR测量结果的分析 237
15.6　评估电感和电容 240
15.7　S参数测量 245
15.8　尾注 247

前言/序言

　　译　者　序　　正如本书作者所说，写这本书是一项重大的任务，组织翻译本书也不简单。机械工业出版社的张国强和我是认识多年的朋友，有一天他问我有没有兴趣翻译市场上最新出版的一本电源完整性方面的书籍。对于我这个从未著书立说过的凡夫俗子来说，当然有兴趣一试。虽然在多年之前博客盛行的时候，我也从俗写过几年的博客，其中也花心思翻译了一些文章，但终归是不成体系。另一方面，几年前也曾经组织翻译另一本关于电源配送网络的书籍（作者是Istvan Novak），可惜半途而废。这一次想着通过翻译本书，对翻译一本完整的书籍多少算是一点交代。 　　国内关于这类主题的第一本流行和普及开来的书是Howard Johnson写于1993年的《高速数字设计》，这本书可以说是真正意义上的信号完整性的开篇之作。这本书出版后的20年恰好是高速数字电路蓬勃发展的20年，它也因此成了无数工程师的工具书和引经据典的必然参考。这本书最早在国内翻译出版是10年以后的事，也就是2004年，跟国内的高速发展现状和需求基本是同步的。当时，华为的高速实验室刚组建不久，国内还没形成高速互连这一较细的分工。当然，在此后的几年里，高速的概念开始渐渐普及，各种信号完整性书籍陆续翻译出版。 　　到目前为止，几乎稍有规模的通信企业都或多或少地组建了高速互连团队，对信号完整性的认识也相对比较完善了，而电源完整性的一些问题则渐渐凸显，开始提上台面。相对于信号完整性来说，电源完整性是既陌生又熟悉的领域。说熟悉是因为所有的电子系统都需要电源，大家每时每刻都在跟电源打交道；说陌生，是因为对于电源有高要求的场合，比如低纹波、低噪声、快速响应等，电源又会成为棘手的问题。对于目前已很常见的高速高密度应用来说，如何满足电源完整性要求已成为一个挑战。 　　对于当下的应用来说，低电压、大电流已成为一个基本趋势，但恰恰是这一现状，对电源完整性提出了非常高的要求。你不得不从整个电源配送路径上考虑问题，尤其是高速芯片BGA区域的电源路径。这一区域的电源平面阻抗要求非常苛刻，但你又必须在因密集的扇出过孔而造成的支离破碎的电源平面和很难在引脚处加上去的去耦电容现实面前做出选择。也许选用电容材料是个解决思路，但瞬间提高的成本又成为拦路虎。同时，如何很好地确定电源平面的目标阻抗也是一个难题，并不像书上说得那么理想，去耦效果和成本之间必须做出很好的折中。 　　当然，本书并没有纠缠在电源平面阻抗这一细节里，而是从测量的角度出发，全面阐述了电源对系统所产生的影响，使得原本比较有针对性的电源完整性这一专业术语，扩展到整个供电路径上的电源品质和影响这一层面上。作为一名有10年以上测量经验的同行来说，我深知测量的意义，尤其是这几年负责兴森快捷的高速实验室，得益于公司的大力支持，每年花费几百万元经费，详细研究了PCB技术对高速链路的影响，对于一些书本或网络上似是而非的结论，完全体会了“纸上得来终觉浅，绝知此事须躬行”的古训。当然，这些研究工作的价值已经在25Gb/s高速互连的各种应用上体现出来。 　　作为一本基于大量实验和测试数据的工程书籍，本书的作者并没有以自己几十年的工作经验作为依据，而是为此书付出了大量的精力和金钱，这种出书的严谨态度是值得学习的。尤其是在当下快文泛滥的风气下，能潜下心来，投入巨大资源，写一本书是不容易的。恰好这几年国内的高速芯片也获得比较快速的发展，封装和芯片的电源完整性设计已成为专门的职业。本书虽然不是针对封装和芯片设计来的，但是对于芯片应用层面来说，仍然具有典型参考意义。 　　当然，得益于这几年芯片的巨大进步，测量技术也获得了长足的进展，本书中关于测量设备的一些结论有些已经过时，针对这些内容，我们也已做了相关的勘误和补充，以期让读者能更全面更正确地认识电源完整性测量技术。 　　本书的翻译分工如下：第1章，邓宝明（网名stupid，下同）；第2、9章，羊杨（阿笨）；第3章，郗亚东（xyd20405）；第4、5章，杨安毅（coziness_yang）；第6、12章，蒋修国（菩提老树）；第7章，谈炯尧（True）；第8章，李劲松（Colin）；第10、15章，梁建（qingdalj）；第11章，王泽龙（agrilseven）；第13章，张迪（ingwt）；第14章，蒋方（若华）。最后，全书由梁建、蒋修国、邓宝明审校。 　　本书有多位译者，每位译者的水平和行文风格很难完全一致，导致审校小组尽力做了修正，但限于译者水平，书中难免有错误和疏漏，恳请读者批评指正。 　　最后，感谢所有为本书出版做出努力的人，同时希望本书能给大家的工作带来帮助。 　　邓宝明致　　谢写本书是一项重大的任务。当然写任何一本书都要费工夫，尤其是需要使用大量必要的仪器进行测量并找到理想的例子。本书中的很多观点较新，所以很多描述必须非常清晰和简要。这项工作需要很多人和公司的大力支持。没有这种支持，我永远都不可能完成此书。我记录下了为这本书审稿的同行评审专家并衷心感谢以下公司和个人，如果有被我遗漏的人，我诚恳地向他们致歉。 　　感谢本书编辑Michael McCabe，以及McGraw-Hill的全体同仁，是他们给了我机会写这本书来讨论这些尚未得到足够关注的话题。特别感谢他们对本书使用彩色印刷。感谢本书的项目经理Kritika Kaushik，她做了大量的工作才使本书面世。 　　感谢我的好友和长期的生意伙伴Charles Hymowitz—— Picotest负责销售和市场的副总，AEi Systems公司的CEO。他读了每一页，并做出修改或给出建议，还提出了很多建设性的意见。这里不再赘言，总之十分感谢。 　　作为朋友和销售伙伴，Omicron Lab的Bernhard Baumgartner、Florian H?mmerle和Wolfgang Schenk提供了一如既往的支持，包括用他们的设备进行无损测量，感谢他们的有益意见和建议。 　　Tektronix公司的Mark Roberts、Stacy Hoffacker、Mike Mende、Amy Higgins和Tom Lenihan给了我很大帮助，无论是讨论设备，回答问题，还是安排租赁仪器的运送。他们也提供了很多意见和建议。 　　Agilent科技有限公司的David Tanaka、Yasuhiro Mori、Eileen Meenan和Hiroshi Kanda，不仅对他们的设备提供了丰富的技术资料，还乐于与我分享这些知识。同时感谢他们提供外借仪器的运送。 　　Rohde & Schwarz公司的Dan Burtraw、 David Rishavy和Mike Schnecker把他们的RTO1044示波器借给我，回答了很多问题，提供了很多真知灼见。 　　Teledyne Lecroy公司的Bob Hahnke、Steve Murphy、Stephen Mueller和Kathleen Woods提供了演示设备，并给出了意见和建议。 　　Picotest公司的Hawk Shang慷慨提供了精密的通用仪器，包括Picotest信号注入器。感谢他所做的一切。 　　Power Electronic Measurement公司的Chris Hewson提供了本书中使用的CWT015探头，并总体上回答了我关于Rogowski电流探头的问题。 　　AEi Systems公司的Paul Ho、Nazila Arefazar、Cesar Redon、Gordon Leverich、Michael Lui、Shivam Patel、Sahar Sadeghi、Josh Behdad、John Aschennbrenner和Tom Boehler，以及How2Power.com的Dave Morrison，感谢你们的意见和建议。感谢AEi Systems公司的Tim Guzman提供的图片。 　　Shawn Winchester和Artescapes提高了本书的示波器和频谱分析仪图片的质量，使它们更加清晰而直观。Shawn还负责Picotest的日常运营，好让我专心写书。 　　对所有的朋友说一声感谢，没有你们就没有这本书。 　　图片来源：Elena Schweitzer/123RF.com在2013年5月游玩奥地利期间，我和Bernhard Baumgartner、我女儿Rachel Sandler以及其他一些人在一座中世纪城堡用餐，我们讨论了在当下如何让书籍畅销的问题。最后的结论是：为了实现这个目标，本书必须有龙。不是其他龙，而是中世纪的龙。我不迷信，但我希望用下图带来好运，使本书更畅销。

好的，以下是一份关于一本名为《电源完整性》的书籍的图书简介，该简介旨在详细介绍书中涉及的内容，同时避免提及“电源完整性”这个具体的书名和与之相关的内容。 --- 深入理解现代电子系统的信号传输与分布 本书是一部面向电子工程师、系统架构师以及资深技术爱好者的专业著作，聚焦于现代高速、高密度电子系统中信号传输、电源分配网络（PDN）设计与优化这一至关重要的领域。全书以严谨的理论基础为支撑，结合大量实际工程案例与前沿分析技术，为读者构建起一个全面而深入的认知框架。 在当今集成电路（IC）和系统级封装（SiP）技术飞速发展的背景下，系统的运行频率持续攀升，对电源质量与信号完整性的要求达到了前所未有的高度。任何微小的设计缺陷，都可能导致系统性能下降、可靠性降低甚至功能失效。本书旨在提供一套行之有效的分析工具和设计方法论，帮助设计人员在概念设计阶段就规避潜在的系统级风险。 第一部分：基础理论与模型构建 本书的第一部分致力于夯实读者对电磁场理论、传输线理论以及电路分析方法的理解，并将其应用于复杂的电子系统环境中。 电磁场基础与传输线理论的回归： 我们首先回顾了麦克斯韦方程组在非理想介质中的应用，重点阐述了如何将连续场的概念转化为离散系统中的等效电路模型。传输线理论部分不仅涵盖了传统的TEM（横向电磁波）模式，更深入探讨了诸如微带线、带状线以及共面波导在多层PCB结构中的特性阻抗、时延和损耗分析。重点剖析了集肤效应、介质损耗以及色散现象对信号边沿速率的影响。 元件的非理想特性建模： 现代电子元件，尤其是封装和PCB走线，其寄生参数（如串联电感$L$和并联电容$C$）不再是可忽略的次要因素。本章详细介绍了如何利用S参数（散射参数）来精确表征复杂的互连结构。我们提供了从时域反射仪（TDR）/时域透射仪（TDT）测量数据中提取寄生参数的实用方法，并讨论了如何将封装的引线键合电感、焊球阵列（BGA）的引脚电感等对整体系统性能的影响进行量化。 系统级噪声源识别： 在复杂的数字电路中，开关活动是主要的噪声来源。本书探讨了瞬态电流的需求、地弹（Ground Bounce）与电源轨噪声（Power Rail Noise）的产生机理。通过分析非线性负载的开关行为，我们构建了能够预测系统瞬态响应的数学模型，为后续的优化打下基础。 第二部分：电源分配网络的分析与设计 电子系统的性能在很大程度上取决于其能否稳定、快速地向负载芯片提供干净、低阻抗的电压。本部分是本书的核心，专注于分析和优化电源分配网络（PDN）。 阻抗需求的定义与分析： 我们首先提出了“阻抗目标”（Target Impedance）的概念，并详细阐述了如何根据芯片的瞬态电流谱、工作频率和允许的电压裕度来确定系统级的PDN阻抗需求曲线。这一曲线是所有设计决策的基准。 去耦电容的战略部署： 去耦电容的选择和布局是实现低阻抗PDN的关键。本书超越了简单的容值计算，深入分析了不同类型去耦电容（如低频大容量电容、高频陶瓷电容）的等效串联电感（ESL）和等效串联电阻（ESR）对阻抗谱的影响。重点讲解了去耦电容的层次化布局策略，旨在通过不同物理位置和不同容值的电容组合，在宽频带上有效地“压平”阻抗曲线，满足整个工作频段的低阻抗要求。 PCB层叠结构与平面设计： 良好的电源平面和地平面设计是构建低阻抗路径的先决条件。我们对PCB的层叠结构进行了深入研究，探讨了平面之间的耦合电容、平面形状对回路电感的影响。特别讨论了分割平面（Split Plane）设计带来的潜在风险，以及如何通过合理的平面连接技术来最小化回路面积，从而降低感抗。 片上电源网络的建模： 随着芯片内部集成度提高，片上（On-Die）的电源网络也变得复杂。本书介绍了如何将芯片封装的引线电感、芯片内部的电源网络（IPN）阻抗纳入整个系统级PDN分析模型中，实现从系统到芯片层面的统一建模。 第三部分：系统级互连的信号质量分析 系统级信号完整性是确保数据正确传输的另一核心要素。本部分关注高速信号在PCB和连接器中的行为。 串扰（Crosstalk）的深入研究： 串扰是多并行信号线系统中的主要干扰源。我们采用近端（NEXT）和远端（FEXT）耦合模型，详细分析了串扰的发生机制，并讨论了影响串扰严重程度的因素，包括线间距、介质厚度和信号上升时间。提供了线间距优化和屏蔽技术的应用指南。 反射与端接技术： 当信号传输线上的特性阻抗与源端或负载端的阻抗不匹配时，会产生信号反射，导致过冲、下冲和振铃。本书系统地介绍了串联端接（Series Termination）、并联端接（Parallel Termination）以及AC端接等多种技术的适用场景与设计参数计算。强调了正确匹配I/O驱动器输出阻抗的重要性。 眼图分析与裕度评估： 眼图是评估高速数字信号质量最直观的工具。本书详细解释了眼图模板的构成，以及如何从眼图中提取关键参数，如抖动（Jitter）、上升/下降时间、眼高和眼宽。此外，我们引入了裕度分析（Margin Analysis）的概念，指导工程师如何量化设计在不同工艺、电压和温度（PVT）条件下的鲁棒性。 第四部分：高级分析技术与仿真实践 为了应对日益复杂的系统，精确的仿真和高效的分析方法变得不可或缺。 频域与时域分析的互操作性： 本部分介绍了如何使用傅里叶变换将时域的瞬态响应转化为频域的阻抗曲线，反之亦然。重点探讨了如何利用Spice、IBIS-AMI等工具进行联合仿真，以评估接收端判决的性能。 噪声容限的建立： 最终的目标是确保系统在所有工作条件下都能稳定运行。本书提供了构建系统级噪声容限（Noise Margin）的综合方法，该方法考虑了电源轨噪声、串扰噪声以及抖动对接收端建立时间（Tsu）和保持时间（Th）的影响，确保设计满足严格的误码率（BER）要求。 --- 通过对这些相互关联的电子系统物理层挑战的全面剖析，本书旨在赋予读者必要的知识和实践技能，使其能够设计出具有卓越性能、高可靠性和出色鲁棒性的下一代高速电子产品。全书结构清晰，内容严谨，是电子设计领域不可多得的参考手册。

评分☆☆☆☆☆

刚翻完这本《电源完整性》的同行分享给我，说实话，我抱着挺大的期望去看的，毕竟在电子设计领域，电源部分的稳定性和质量直接决定了整个系统的可靠性。这本书的章节布局非常清晰，从基础的理论铺垫开始，慢慢深入到实际的应用和设计挑战中。我特别欣赏作者在讲解阻抗匹配和去耦电容选择时的那种深入浅出的方式，很多教科书上枯燥的公式和概念，在这里都有非常贴近实际电路板布局的图示来辅助理解。比如，它对于高频信号下的地弹和电源噪声的分析，简直就是把我平时的调试痛点一一击破。我记得有一次我们为一个高速ADC设计电源，怎么都压不低底噪，翻遍了资料都没找到满意的解决方案，这本书里关于电源网络谐振的章节，让我茅塞顿开，原来是某个电容组合形成了意想不到的谐振回路。这本书与其说是一本理论大全，不如说更像是一位经验丰富的前辈在你身边手把手教你如何避免那些常见的“陷阱”。特别是关于PCB层叠设计和电源平面规划的建议，简直是金玉良言，直接指导我优化了下一版板子的结构。唯一美中不足的是，对于某些新兴的宽禁带器件（如SiC和GaN）的快速开关特性对电源环路的影响分析略显保守，不过考虑到这本书的整体深度和广度，这已经算是吹毛求疵了。总体来说，对于从事嵌入式系统或高速数字电路设计的中高级工程师来说，这本绝对是案头必备的工具书。

评分☆☆☆☆☆

阅读这本《电源完整性》的过程，就像是经历了一次对电磁场理论的重新洗礼，但这次的洗礼不再是纯粹的数学推导，而是与实际电路紧密结合的工程实践。这本书的结构非常精妙，它从最基本的传输线理论入手，引申出信号完整性和电源完整性的内在联系，让我意识到两者其实是同一问题的两个侧面。作者在讲解如何处理电源层与地层之间的耦合噪声时，使用的类比和模型非常形象，尤其是对“电荷共享”的解释，让那些原本难以理解的耦合效应变得直观易懂。我发现书中对不同PCB材料介电常数对平面阻抗影响的分析尤其细致，这对于我们设计高密度互连板（HDI）时选择合适的基材至关重要。这本书的文字风格严谨而不失活力，很少有冗余的描述，每一个段落似乎都在提供新的信息或新的视角。它强迫你跳出原有的舒适区，去思考电流回路的每一个细节。对于那些希望在电源设计领域达到精通水平的专业人士来说，这本书提供的深度和广度是无可替代的。它不仅仅是教你“怎么做”，更重要的是教会你“为什么这么做”，这才是真正有价值的知识沉淀。

评分☆☆☆☆☆

说实话，我买这本《电源完整性》的时候，是冲着它的名字去的，想着能学点高大上的理论，好在技术分享会上能侃几句。结果读下来，感觉它更像是一本实战手册，而不是那种晦涩难懂的学术专著。作者的笔触非常接地气，他似乎完全理解我们这些在实际工作中挣扎的设计师面对的压力——要在有限的空间和成本内，实现近乎完美的电源性能。书中对瞬态电流响应的分析尤其让我印象深刻，它没有停留在简单的L/R/C等效模型上，而是引入了更复杂的时域和频域分析工具，让我第一次真切地体会到，为什么有时候你明明用了最好的电容，结果系统依然不稳定。有一段关于电源地和信号地的划分与连接策略的论述，简直是教科书级别的纠错指南，我立刻对照我们手头正在做的项目，发现我们在一个关键的模数转换器附近犯了典型的“共地回路”错误。更值得称赞的是，这本书对EMC/EMI的考量是贯穿始终的，电源完整性做好了，往往EMI问题也就解决了一大半，作者巧妙地将这两者联系起来，提供了一套完整的“预防胜于治疗”的设计哲学。唯一的遗憾是，对于那种超低压差（LDO）在高动态负载下的瞬态表现，似乎可以再多给几个具体的案例来支撑。但瑕不掩瑜，对于想把电源做到“听话”的设计师而言，这书提供了清晰的路径图。

评分☆☆☆☆☆

我是一个刚毕业不久的电源工程师，手头的工作很多时候都是在“救火”，各种电源模块的纹波和稳定性问题层出不穷。抱着“希望找到救命稻草”的心态拿起了这本《电源完整性》。这本书的阅读体验非常独特，它没有一开始就抛出复杂的傅里叶变换或者S参数，而是从一个最朴素的问题开始——“什么是好的电源？”。通过对不同类型噪声源的细致剖析，作者构建了一个非常立体的噪声认知体系。我最喜欢的是它对“环路面积最小化”原则的强调，配图清晰地展示了电流回流路径对阻抗的影响。在讲解开关电源（SMPS）的布局优化时，作者特别提到了布局顺序对寄生电感的影响，这直接指导我重新审视了我们一个高频DC-DC转换器的PCB布局，确实，改变了开关节点周围元件的紧凑度后，纹波降低了至少20%。这本书的理论深度足够支撑我们去理解为什么某个设计会失败，而不是仅仅知道“这个参数要小”。不过，作为初学者，我希望它在软件仿真工具（如SPICE或更专业的SI/PI仿真工具）的应用方面能提供更详尽的入门指导，虽然书里提到了仿真概念，但实操层面的内容略显单薄。总的来说，它帮我从“盲目试错”阶段迈入了“有理论指导的设计”阶段。

评分☆☆☆☆☆

从一名资深硬件架构师的角度来看，我更关注的是系统层面的电源分配网络（PDN）设计，而不仅仅是单个IC的去耦。这本《电源完整性》在PDN架构的宏观规划上，提供了非常前瞻性的思路。它不拘泥于传统的PCB设计规则，而是上升到了系统级阻抗控制的高度。书中对目标阻抗曲线的设定和如何通过多层电容协同工作来实现这条曲线的详细推导，非常有说服力。我特别欣赏作者对“有效电容”和“电容尺寸的物理意义”的深入探讨，这打破了我以往只关注容值和耐压的习惯。这本书的价值在于，它教会我如何用“系统思维”去设计电源网络，而不是将电源视为孤立的模块。例如，书中关于如何处理芯片与封装之间的引线电感（Bond Wire Inductance）的分析，对于我们使用BGA封装的高性能FPGA设计至关重要，它直接关系到芯片内核供电的稳定性。唯一让我觉得需要后续跟进的是，对于异构集成和3D封装环境下的电源分配挑战，这本书的覆盖略显不足，但考虑到目前主流应用的现状，这已是极好的参考。这是一本能帮助设计者从“实现功能”到“优化性能”跨越的书。

评分☆☆☆☆☆

电源完整性方面的一本小装订本书，从事EMI和SI的专业人士可以一看，不是那种纯理论堆砌的书

评分☆☆☆☆☆

书比较薄，感觉干货不多，描述性文字居多，不是很高

评分☆☆☆☆☆

好书，全五星，不多说，你值得一看

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这一看才知道需要很多基础

评分☆☆☆☆☆

翻译的不伦不类，严重怀疑是机器自动翻的，连通顺都做不到，有些公式也给的莫名其妙

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还在研究SI，这本书先收藏着

评分☆☆☆☆☆

非常合适技术人员学习参考.,值得买了

评分☆☆☆☆☆

应该再讲详细点，有些地方看不懂。

评分☆☆☆☆☆

很好的书，是我需要的，给个好评鼓励下