微觀組織的分析電子顯微學錶徵 戒詠華 9787040300925 pdf epub mobi txt 電子書 下載 2025

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戒詠華 著

圖書標籤:

• 電子顯微學
• 材料科學
• 微觀結構
• 組織學
• 分析測試
• 材料錶徵
• 生物材料
• 納米材料
• 顯微技術
• 科學研究

店鋪： 書逸天下圖書專營店

齣版社： 高等教育齣版社

ISBN：9787040300925

商品編碼：29573528865

包裝：精裝

齣版時間：2012-01-01

基本信息

書名：微觀組織的分析電子顯微學錶徵

定價：119.00元

作者：戒詠華

齣版社：高等教育齣版社

齣版日期：2012-01-01

ISBN：9787040300925

字數：820000

頁碼：552

版次：1

裝幀：精裝

開本：16開

商品重量：0.999kg

編輯推薦

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內容提要

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　　本收係統地介紹瞭分析電子顯微學（AEM）的基本概念和操作技術，聚集於相戀和形變中位錯的AEM研究。同時通過大量的例子闡述衍射晶體學的物理概念和數學分析方法，例如相變中位嚮關係的定量預測等，以便讀者加深理解和拓展視野。

目錄

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作者介紹

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文摘

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序言

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精微之境的洞察：材料科學與工程的顯微之眼 在這科技飛速發展的時代，對物質世界微觀結構的深刻理解，已成為推動材料科學、化學、物理乃至生命科學等眾多學科發展的基石。從原子層麵的排列到納米尺度的形貌，材料的性能往往與其微觀組織息息相關。而能夠穿透肉眼極限，揭示這些隱秘結構細節的，莫過於各類先進的電子顯微技術。本書正是緻力於為讀者打開一扇通往微觀組織分析的窗口，係統而深入地介紹電子顯微學在材料科學與工程領域的廣泛應用，旨在賦能研究者與工程師們，以更精密的視角審視材料，從而優化設計，創新應用。 電子顯微鏡，作為一種強大的成像工具，其分辨率遠超光學顯微鏡，能夠捕捉到原子和分子級彆的細節。不同於光學顯微鏡依賴可見光，電子顯微鏡則利用高能電子束與樣品相互作用所産生的信號來成像。這種相互作用可以包括電子的散射、透射、二次發射、背散射等等，每一種信號都攜帶瞭樣品微觀結構的豐富信息。本書將從基本原理齣發，詳盡闡述掃描電子顯微鏡（SEM）和透射電子顯微鏡（TEM）的核心技術，包括電子槍的種類與工作原理、電磁透鏡的聚焦與成像機製、真空係統的設計與要求、以及樣品製備的關鍵技術。讀者將瞭解到，為何不同的樣品需要不同的製備方法，例如導電樣品與絕緣樣品的錶麵處理，脆性材料的拋光與切割，以及生物樣品的固定、染色與脫水等，這些細節直接影響到成像的質量和最終數據的準確性。 在SEM部分，本書將重點介紹其成像模式，如二次電子（SE）成像、背散射電子（BSE）成像、俄歇電子（AE）成像等。SE模式主要反映樣品錶麵的形貌信息，提供高分辨率的錶麵三維立體感；BSE模式則對原子序數敏感，能夠區分不同元素組成的區域，展現微觀結構的成分襯度；AE模式則能夠獲取樣品錶麵的元素組成信息。此外，本書還將深入探討SEM聯用能譜分析（EDS/EDX）技術，揭示樣品中元素的種類、含量及空間分布。通過EDS/EDX，我們可以像“電子顯微鏡下的化學傢”一樣，精確地識彆齣材料的化學成分，為材料的成分分析、雜質檢測、相鑒定等提供關鍵證據。 TEM部分，則將引領讀者進入更高分辨率的微觀世界。TEM利用穿透樣品的電子束，通過樣品後産生的衍射和散射電子來成像。本書將詳細介紹TEM的成像模式，包括明場（BF）和暗場（DF）成像，這些模式能夠揭示晶體材料的晶格缺陷，如位錯、孿晶界、晶界等，這些缺陷對材料的力學性能、電學性能等至關重要。同時，本書還將深入講解電子衍射（ED）技術，包括選區電子衍射（SAED）和區域電子衍射（RED），通過分析電子衍射圖樣，我們可以確定晶體的晶體結構、晶嚮、晶格常數，以及晶粒取嚮等信息。這些信息對於理解晶體材料的生長機製、相變過程以及織構演變具有不可替代的作用。 除瞭基本的形貌和結構錶徵，本書還將重點介紹電子顯微學在材料分析中的高級應用。例如，在材料的力學性能分析中，通過觀察加載過程中的微觀結構演變，可以研究裂紋萌生與擴展機製，揭示材料的斷裂行為。在納米材料領域，電子顯微鏡是納米粒子形貌、尺寸分布、聚集狀態以及錶麵形貌進行精確錶徵的利器。對於陶瓷材料，SEM和TEM可以揭示晶粒尺寸、晶界相、氣孔分布以及顯微裂紋等微觀結構特徵，從而理解其力學性能、介電性能等。在金屬材料領域，電子顯微學更是金屬學研究的核心手段，用於分析閤金的相組織、析齣相、位錯結構、晶界行為等，從而指導閤金的設計與熱處理工藝。 本書還將探討電子顯微學的樣品製備技術，這是一個至關重要但往往被忽視的環節。對於SEM，樣品製備通常相對簡單，包括清洗、乾燥、導電處理（針對非導電樣品）等。而對於TEM，樣品製備則更為復雜，需要將樣品製備成足夠薄（通常小於100納米），以便電子束能夠穿透。常用的TEM樣品製備技術包括離子減薄、電拋光、超薄切片、聚焦離子束（FIB）製樣等。本書將對這些技術進行詳細的介紹，並提供實際操作中的注意事項和技巧，幫助讀者剋服樣品製備過程中的挑戰，獲得高質量的TEM樣品。 此外，本書還將涵蓋電子顯微學與其它錶徵技術的結閤應用。例如，結閤原子力顯微鏡（AFM）的光學圖像和電子顯微鏡的高分辨率圖像，可以提供更全麵的錶麵信息。將電子顯微鏡的形貌分析與X射綫衍射（XRD）的晶體結構分析相結閤，可以更深入地理解材料的結構-性能關係。本書將通過大量實際案例，展示電子顯微學在解決材料科學與工程領域各種實際問題中的強大力量。 本書的目標讀者涵蓋瞭材料科學、化學、物理、機械工程、電子工程以及相關交叉學科的研究生、博士後、科研人員以及高年級本科生。即使是經驗豐富的研究者，也可能在本書中找到新的啓發和深入的理解。通過係統學習本書內容，讀者將能夠熟練掌握各類電子顯微技術的原理和操作，能夠根據具體的科研需求選擇閤適的電子顯微技術，並能對獲取的顯微圖像和數據進行準確的解讀和分析，從而更有效地開展材料的微觀組織研究，為材料的創新與發展貢獻力量。 微觀世界的奧秘無窮，而電子顯微學正是解鎖這些奧秘的鑰匙。本書希望通過條理清晰的論述、豐富詳實的圖例和深入淺齣的講解，幫助讀者構建起紮實的電子顯微學理論基礎，並掌握其實踐應用技巧。無論您是剛剛踏入材料科學研究的新手，還是經驗豐富的領域專傢，本書都將是您探索微觀組織、解析材料性能、驅動科技進步的得力助手。在這本深入探索精微之境的書籍中，我們共同見證材料的內在之美，洞察其性能的根源，並為未來的材料創新奠定堅實的基礎。

評分☆☆☆☆☆

這本書的裝幀設計真是讓人眼前一亮，封麵采用瞭深邃的藍色調，搭配著精緻的綫條勾勒齣的復雜的微觀結構圖案，一下子就抓住瞭我的眼球。拿在手裏，那種沉甸甸的質感也顯得非常專業，紙張的觸感細膩光滑，油墨的印刷質量更是無可挑剔，即便是最細微的圖例也清晰可見，這對於需要反復研讀和查閱的專業書籍來說，絕對是一個巨大的加分項。我個人非常看重書籍的實體呈現，因為它不僅僅是知識的載體，更是一種閱讀體驗的延續。從拿到書的那一刻起，我就感覺自己已經踏入瞭一個嚴謹而充滿探索欲的科學世界。那種對細節的極緻追求，從書的裝訂到內文排版的每一個小小的角落，都體現得淋灕盡緻，讓人忍不住想立刻翻開，去探尋其中蘊含的奧秘。這種對品質的堅持，確實配得上其深厚的學術價值。

評分☆☆☆☆☆

從語言風格上來看，這本書展現齣瞭一種成熟、穩健且富有學術深度的敘事口吻。它不像某些暢銷科普讀物那樣追求花哨的修辭或戲劇化的錶達，而是選擇瞭精確、剋製且信息密度極高的文字。每一個句子都仿佛經過瞭韆錘百煉，去除瞭所有冗餘的修飾，直擊核心。這使得閱讀過程雖然需要高度集中注意力，但每一次的“頓悟”都來得非常紮實和有力。這種風格對於需要嚴謹對待的專業學習者來說是極其友好的，它尊重讀者的智力水平，並要求讀者投入相應的精力去解碼信息，這是一種平視的、相互尊重的學術對話。對於希望提升自身專業素養的讀者來說，這種高質量的文本本身就是一種無聲的訓練。

評分☆☆☆☆☆

這本書的案例分析部分簡直是教科書級彆的範本。我特彆關注瞭其中關於新型閤金材料微區成分分析的那幾個實例，作者將理論模型、實驗參數設置、數據采集以及最終的圖像解讀整個流程進行瞭完整的、毫不保留的展示。最讓我印象深刻的是，他不僅展示瞭“成功”的案例，還深入探討瞭在特定條件下成像質量不佳的原因和可能的優化方案，這種坦誠和對復雜性的直麵，極大地增強瞭書籍的可信度和實用價值。我甚至可以想象，如果我拿著這本書去實驗室，完全可以對照著書中的步驟去復現或改進我手頭上的某些實驗。這種高度的實操指導性，讓這本書超越瞭一般的研究綜述，更像是一本操作手冊和思想指南的完美結閤體，讓人忍不住想要立刻上手操作驗證一番。

評分☆☆☆☆☆

我花瞭整整一個下午的時間，沉浸在第一章的基礎理論迴顧中，不得不說，作者在構建知識體係的邏輯性上展現瞭極高的水準。他並沒有簡單地羅列公式和概念，而是采取瞭一種循序漸進、層層遞進的敘述方式，仿佛一位經驗豐富的導師，耐心地引導著我們從宏觀的視角逐步深入到納米級彆的細節。尤其是一些關於成像原理的闡述，那些原本晦澀難懂的物理過程，被作者用精準而富有洞察力的語言重新組織和描繪，使得原本高高在上的理論變得觸手可及。我尤其欣賞其中對於實驗操作中常見誤差的深入剖析，這絕非一般的教科書會詳盡記載的內容，這部分內容體現瞭作者深厚的實踐功底，對於正在進行實驗的學生而言，簡直是如獲至寶的“避坑指南”。讀完這一章，我感到自己的基礎知識框架得到瞭極大的夯實，不再是零散的知識點堆砌，而是形成瞭一個堅固的知識網絡。

評分☆☆☆☆☆

總而言之，這本書所提供的視角和深度是目前市場上同類書籍中少見的。它巧妙地平衡瞭基礎理論的紮實性與前沿技術應用的創新性，確保瞭其在短期內不會過時，同時又具備長期的參考價值。我特彆欣賞作者對於技術局限性的坦誠討論，這避免瞭將高新技術神化，而是以一種務實的態度來審視和推進學科發展。它不僅僅是記錄瞭已有的知識，更像是在為下一代研究者描繪齣未來可能的發展方嚮和需要攻剋的難點。對於任何一個想在微觀形貌分析領域深耕的人來說，這本書絕對是書架上不可或缺的鎮山之寶，值得反復研讀，每次閱讀都會有新的感悟和啓發。