書名:高性能,低功耗,高可靠三維集成電路設計
定價:169.00元
售價:123.4元,便宜45.6元,摺扣73
作者: 林聖圭,楊銀堂,高海霞,吳曉鵬,董剛
齣版社:國防工業齣版社
齣版日期:2017-12-01
ISBN:9787118113464
字數:
頁碼:520
版次:1
裝幀:精裝
開本:16開
商品重量:0.4kg
《高性能,低功耗,高可靠三維集成電路設計》係統地介紹瞭三維集成電路設計所涉及的一些問題,包括物理設計自動化、結構、建模、探索、驗證等,分成五部分,共20章。部分為三維集成電路設計方法及解決方案,主要討論矽通孔布局、斯坦納布綫、緩衝器插入、時鍾樹、電源分配網絡;第二部分為三維集成電路的電可靠性設計,主要討論矽通孔-矽通孔耦閤、電流聚集效應、電源完整性、電遷移失效機製;第三部分為三維集成電路的熱可靠性設計,主要討論熱驅動結構布局、門級布局、微流通道散熱問題;第四部分為三維集成電路的機械可靠性設計,主要分析全芯片和封裝級機械應力、機械應力對時序的影響、矽通子L界麵裂紋;第五部分為三維集成電路設計的其他方麵,主要討論利用單片三維集成實現超高密度邏輯的方法、矽通孔按比例縮小問題,並給齣一個三維大規模並行處理器設計實例。
《高性能,低功耗,高可靠三維集成電路設計》可作為高等院校微電子技術、電路與係統等專業高年級本科生和研究生的教材或參考書,也可作為從事三維集成電路設計的相關技術人員的參考資料。
部分 高性能低功耗三維集成電路設計
章 三維集成電路的矽通孔布局
1.1 引言
1.2 研究現狀
1.3 基礎知識
1.3.1 三維集成電路設計
1.3.2 大允許矽通孔數
1.3.3 小矽通孔數
1.3.4 綫長和矽通孔數的摺衷
1.4 三維集成電路物理設計流程
1.4.1 劃分
1.4.2 矽通孔插入和布局
1.4.3 布綫
1.5 三維全局布局算法
1.5.1 力驅動布局簡介
1.5.2 三維布局算法簡介
1.5.3 三維集成電路中的單元布局
1.5.4 矽通孔位置原理中矽通孔的預布局
1.5.5 三維節點的綫長計算
1.6 矽通孔分配算法
1.6.1 矽通孔分配算法的佳解
1.6.2 基於MST的矽通孔分配
1.6.3 基於布局的矽通孔分配
1.7 實驗結果
1.7.1 綫長和運行時間比較
1.7.2 金屬層和矽麵積比較
1.7.3 綫長和矽通孔數摺衷
1.7.4 綫長,管芯麵積和管芯數摺衷
1.7.5 矽通孔協同布局與矽通孑L位置對照
1.7.6 矽通孔尺寸影響
1.7.7 時序和功耗比較
1.8 結論
參考文獻
第2章 三維集成電路斯坦納布綫
2.1 引言
2.2 研究現狀
2.3 基礎知識
2.3.1 問題錶述
2.3.2 研究方法簡介
2.4 三維斯坦納樹構建
2.4.1 算法簡介
2.4.2 計算連接點和矽通孔位置
2.4.3 延時方程優化
2.5 采用矽通孔重布局進行三維樹精化
2.5.1 算法簡介
2.5.2 可移動範圍
2.5.3 簡化熱分析
2.5.4 非綫性規劃
2.5.5 整數綫性規劃
2.5.6 快速整數綫性規劃
2.6 實驗結果
2.6.1 實驗參數
2.6.2 樹構建結果
2.6.3 延時和綫長分布
2.6.4 矽通孔重布局結果
2.6.5 矽通孔尺寸和寄生效應影響
2.6.6 鍵閤類型影響
2.6.7 兩管芯和四管芯疊層比較
2.7 結論
附錄
參考文獻
第3章 三維集成電路的緩衝器插入
3.1 引言
3.2 問題定義
3.3 研究動機宴例
……
第二部分 三維集成電路設計中的電可靠性
第三部分 三維集成電路設計中的熱可靠性
第四部分 三維集成電路設計的機械可靠性
第五部分 其他論題
縮略語
這本關於高性能、低功耗、高可靠三維集成電路設計的書,簡直是為我們這些深耕於前沿IC設計領域的人量身定做的。我剛翻開緒論部分,就被作者那種對技術細節的精雕細琢所摺服。書裏對三維集成(3D-IC)的基本架構,比如TSV(矽通孔)的技術挑戰和機遇,闡述得極其透徹。尤其是關於熱管理的那幾章,簡直是打開瞭我的新世界大門。傳統的散熱設計在麵對多層堆疊的巨大熱流密度時顯得力不從心,而這本書提供瞭一整套基於新型材料和先進封裝技術的優化策略。我特彆關注瞭其中關於“熱-電-力耦閤”仿真的部分,作者不僅列舉瞭現有的仿真工具和方法論,還深入探討瞭如何將這些耦閤效應融入到設計流程的早期階段,從而避免後期流片後的性能衰減。這對於追求極緻可靠性的應用場景,比如航空航天和高端醫療設備,無疑具有極高的指導價值。它不僅僅是理論的堆砌,更是實戰經驗的結晶,每一個章節都仿佛能看到作者在實驗室裏無數次失敗和成功的印證。這本書的深度和廣度,都遠超我之前閱讀過的任何相關專業書籍。
評分老實說,我是一個對“可靠性”要求極為苛刻的讀者,尤其關注長期運行下的器件老化和失效模式。這本書在“高可靠性”這部分內容的投入和深度,絕對是五星級的。它詳細剖析瞭TSV在熱循環和機械應力作用下的疲勞損傷機製,並且提齣瞭基於多物理場聯閤建模的壽命預測方法。我最欣賞的是,它沒有停留在描述問題,而是給齣瞭具體的解決方案,比如如何通過優化TSV的材料組閤和填充介質來增強抗應力能力。此外,針對輻射環境下的軟錯誤和硬錯誤防護,書中介紹瞭一種基於冗餘計算和實時糾錯碼(ECC)的三維架構設計範例,這在現有文獻中是比較少見的係統性論述。讀完這部分,我感覺自己對如何設計一款能夠在極端環境下穩定運行十年以上的核心芯片,有瞭一個清晰、可操作的藍圖。它讓我意識到,可靠性設計絕非事後補救,而必須從最初的結構設計就深入骨髓。
評分從排版和內容組織的角度來看,這本書的處理方式非常專業和現代。雖然主題涉及大量的復雜物理和電路理論,但圖文並茂的呈現方式大大降低瞭理解門檻。特彆是那些復雜的係統級框圖和性能對比矩陣,製作得非常清晰,即便是初次接觸3D-IC概念的研究人員也能迅速抓住核心要點。我注意到作者在引用參考文獻時非常嚴謹,不僅涵蓋瞭IEEE的頂級期刊論文,還包括瞭許多來自工業界的內部技術報告摘要,這極大地提升瞭內容的實用性和時效性。這本書的語言風格屬於那種沉穩而富有洞察力的學術敘事,沒有過多浮誇的辭藻,每一個結論都有數據和理論支撐。它更像是一份精心打磨的行業白皮書,而不是普通的教材。對於我這種需要經常嚮技術委員會匯報最新進展的專業人士來說,書中提供的那些可以直接引用和引申的論點,簡直是太寶貴瞭。
評分我購買這本書的初衷是想瞭解如何在高密度集成中保持足夠的信號完整性(SI)。這本書在處理SI問題上的視角非常獨特,它沒有局限於傳統的PCB/封裝層麵的考慮,而是深入到瞭芯片層級的I/O接口和跨層信號串擾的建模上。作者提齣瞭一個非常創新的“近場耦閤抑製”策略,通過調整堆疊單元之間的垂直間距和引入特定的屏蔽結構來優化信號傳輸質量。我發現書中關於電磁兼容性(EMC)在3D架構中的新挑戰那幾頁內容尤其精彩,它把高頻信號的反射、串擾和地彈問題,和熱膨脹導緻的結構形變聯係起來進行綜閤分析,這纔是真正體現瞭“三維”集成的復雜性。這本書不是一本教你如何操作某個EDA工具的書,而是一本指導你建立正確設計思維的哲學指南。它強迫我跳齣二維的思維定勢,去思考一個真正立體的、多維度相互作用的微電子係統,這對我後續的項目規劃産生瞭深遠的影響。
評分我花瞭整整一個周末沉浸在這本關於先進IC設計哲學的巨著中,感觸最深的是它對“低功耗”的解讀,簡直是顛覆性的。過去我們總是在追求更小的製程節點來降低動態功耗,但這本書清晰地指齣瞭,在3D異構集成的大背景下,功耗的主要瓶頸已經轉移到瞭互連和數據傳輸上。作者對跨層通信協議的優化方案進行瞭詳盡的對比分析,特彆是對新型電磁波導和光互連技術在低延遲、低能耗方麵的潛力進行瞭前瞻性的預測。讓我印象深刻的是,書中用大量的圖錶和數學模型來論證不同電源分配網絡(PDN)設計對瞬態電壓跌落(IR-drop)的影響,這對於設計超低電壓操作的芯片至關重要。我本來以為這些內容會非常枯燥,但作者的敘述邏輯非常嚴密,從宏觀的係統架構到微觀的晶體管級功耗控製,層層遞進,讓人很容易跟上思路。對於我們從事移動計算和邊緣AI的工程師來說,這本書提供的是一套全新的優化工具箱,而不是老舊的教科書知識。
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