基本信息
書名:數字邏輯電路測試與設計
定價:27.00元
作者:李玲
齣版社:機械工業齣版社
齣版日期:2009-07-01
ISBN:9787111270249
字數:
頁碼:
版次:1
裝幀:平裝
開本:16開
商品重量:0.599kg
編輯推薦
理念的行進性:充分體現任務、實踐導嚮的課程思想;項目的代錶性:5個項目覆蓋組閤邏輯電路、時序邏輯電路、可編程邏輯器件(CPLD)應用、AD/DA基本原理及應用等知識;任務的操作性:40個任務由淺入深講解小規模、中規模及大規模器件構成的數字集成電路的分析與設計方法;體例的科學性:用“讀一讀”、“做一做”和“想一想”把理論、實踐和提高融於一體。
內容提要
本書根據教育部關於高職高專人纔培養目標的要求,以工作任務的方式將相關知識點融人在完成工作任務所的工作項目中,使學生掌握必要的基本理論知識,並使學生的實踐能力、職業技能、分析問題和解決問題的能力不斷提高。
本書共有5個項目:加法計算器的設計與測試,闡述瞭邏輯代數的基本知識及組閤邏輯電路分析與設計的基本方法;搶答器的設計與製作,介紹瞭常用中規模集成電路的邏輯功能和使用方法;計數器的設計與測試,介紹瞭觸發器的基本知識、簡單時序電路的分析和設計方法、集成計數器的基本知識;數字鍾的設計與製作,介紹瞭CPLD基本知識及如何用CPLD器件設計簡單數字電路的基本方法;簡易數字電壓錶的設計與製作,融入瞭A/D、D/A轉換器件的基本知識介紹。
本書適閤於高職高專電子技術、電子與信息技術、通信技術、自動控製和機電等專。業學生使用,也可供從事電子、信息技術的有關人員參考。
目錄
作者介紹
文摘
序言
這本《數字邏輯電路測試與設計》的書籍,從目錄上看,似乎聚焦於一個非常具體且技術性極強的領域。我購買它主要是為瞭應對我工作中遇到的一個挑戰:如何高效地驗證和調試我們新開發的大規模集成電路中的邏輯部分。翻閱前幾章,它並沒有像我預期中那樣,隻是簡單羅列一些標準測試方法,而是深入探討瞭故障模型構建的精細之處,特彆是對延遲故障和靜態故障的建模,給齣瞭非常詳盡的數學描述和實際應用案例。這本書的作者顯然對這個領域有深刻的理解,他們沒有停留在理論層麵,而是將復雜的測試嚮量生成算法,比如基於掃描鏈的設計(DFT)的實現細節,以一種非常結構化的方式呈現齣來。尤其令我印象深刻的是,書中對邊界掃描(Boundary Scan,IEEE 1149.1標準)的應用分析,不僅講解瞭協議本身,還結閤瞭多芯片係統中的互聯測試策略,這對於我們設計復雜SoC時至關重要的。對於一個經驗豐富的硬件工程師來說,這本書更像是一本“高級參考手冊”,它提供的不僅僅是“怎麼做”,更是“為什麼這麼做”的底層邏輯,幫助我從根本上優化我們的測試流程,提升測試覆蓋率,減少瞭後期流片帶來的巨大風險。
評分坦率地說,我購買《數字邏輯電路測試與設計》時,主要是衝著其標題中“設計”二字去的。我期望它能提供一些創新的電路設計方法論,比如如何利用特定的邏輯結構來簡化後續的測試過程,或者介紹一些前沿的低功耗設計中對測試引入的影響。這本書確實涉及瞭“設計可測試性”(Design for Testability, DFT),但它的側重點似乎完全倒嚮瞭“測試的自動化生成與應用”。書中花瞭大量的篇幅來介紹ATPG(Automatic Test Pattern Generation)算法的效率優化,以及如何處理非掃描電路中的路徑延遲問題。這對於我這位主要從事低功耗電路架構研究的人來說,隻能算是“相關閱讀材料”,而非核心參考。例如,書中對隨機測試(Random Testing)的性能分析非常透徹,用概率模型推導瞭所需的隨機嚮量數量,但對於如何設計齣天然抵抗隨機測試的電路特性,討論就顯得有些不足瞭。總而言之,它更像是一本關於“如何驗證已設計電路”的權威著作,而不是關於“如何設計齣易於驗證的電路”的實踐指南。
評分這本書的裝幀和印刷質量非常齣色,紙張厚實,圖錶清晰銳利,這在閱讀技術密集型書籍時至關重要。從內容結構上看,它非常嚴謹,章節之間的邏輯銜接如行雲流水,沒有生硬的跳躍感。我特彆欣賞作者在每一章末尾設置的“工業挑戰與前沿展望”部分,這使得原本枯燥的算法講解頓時有瞭鮮活的現實意義。比如,在討論芯片電磁輻射(EMC)對測試信號完整性的影響時,作者沒有迴避這個物理層麵的復雜性,而是提齣瞭在測試模式下進行信號調控的初步思路。這種將高層設計與底層物理實現相結閤的視角,在同類書籍中是相當罕見的。它不僅僅是關於0和1的邏輯堆疊,還微妙地觸及到瞭信號完整性、時序裕度和工藝變異帶來的不確定性,這讓我對數字測試的理解上升到瞭一個更全麵的係統工程層麵。雖然這些內容的篇幅占比不高,但它們如同點睛之筆,提升瞭整本書的深度和專業高度。
評分我對這本書的期望是能幫助我這位剛入門的電子工程專業研究生快速建立起對現代數字係統驗證的宏觀認識。然而,實際閱讀體驗卻遠超我的預期,它更像是一本麵嚮資深工程師的“武功秘籍”,而非入門教材。書中對測試覆蓋率指標的闡述,比如MCDC(Modified Condition/Decision Coverage)的實現,涉及到瞭相當高深的編譯原理和代碼分析技術,我花瞭大量時間去理解那些證明覆蓋率的邏輯等價性轉換。初讀時,我常常需要頻繁地查閱其他關於有限狀態機理論和布爾代數優化的參考資料纔能跟上作者的思路。盡管挑戰性很大,但一旦理解瞭其中關鍵的章節,比如關於自測試(BIST)的結構優化,那種豁然開朗的感覺是無與倫比的。它似乎是把整個數字測試領域的頂尖學術成果和工業實踐經驗濃縮在瞭這幾百頁之內,閱讀過程是一種持續的智力攀登,它迫使我跳齣教科書上基礎的邏輯門級測試,去思考如何設計齣具有內在可測試性的電路結構,這對於我撰寫畢業論文選題方嚮的確定起到瞭決定性的引導作用。
評分這本書的深度和廣度令我敬畏,但也帶來瞭閱讀上的門檻。對於一個習慣於使用標準EDA工具(如Synopsys TetraMAX或Mentor FastTest)來執行測試嚮量生成的工程師來說,這本書深入到算法實現層麵,會讓人産生一種“過度知識”的錯覺。例如,書中詳細推導瞭窮舉法測試算法的復雜度,並對比瞭各種啓發式搜索方法(如單激法與多激法)的優劣,這部分內容對於日常工作幾乎是用不到的——工具已經幫我們完成瞭這些。然而,正是這種底層深挖,讓我有機會去評估我們當前所用工具的局限性,以及在麵對下一代極大規模、異步或類比混閤信號集成電路時,現有工具鏈可能齣現的瓶頸。這本書迫使我從“工具使用者”轉變為“算法理解者”,盡管這部分內容略顯晦澀,需要結閤大量的數學背景知識,但它提供的“內功心法”的價值,遠超那些錶麵的操作指南。
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