透射电子显微学 第二版2版 上册 材料科学经典著作选译 pdf epub mobi txt 电子书 下载 2025

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出版社： 高等教育出版社

ISBN：9787040431506

商品编码：10983696098

透射电子显微学（上册）-李建奇等

基本信息
书    名	透射电子显微学（上册）
作    者	李建奇等	出版社	高等教育出版社
出版时间	2015.12	I S B N	9787040431506
装    帧	平装	版    次	1
字    数		印    次
页    数		开    本	16开
配套资源

David B. Williams分别于1970、1974、1974和2001年在剑桥大学获得学士、硕士、哲学博士和理学博士学位。1976年进入Lehigh大学， 1979年升为副教授，1983年成为教授。1980—1998年，负责电子光学实验室，并领导Lehigh大学的电子显微镜学院长达20多年。1992—2000年，为MS&E;系的系主任。2000—2006年，为负责研究的副院长。2007年7月开始成为Alabama大学（Huntsville）的第5任校长。与他人合著或编辑了11本书和会议论文集，发表了220余篇期刊论文和200余篇摘要/会议论文，在28个国家的大学、学术会议和实验室共做了275个邀请报告。曾获得过美国电子显微学会的Burton奖章（1084年）、美国微束分析学会（MAS）的Heinrich奖章（1988年）、MAS总统科学奖（1997年），并且是 一个Duncumb奖获得者（2007年，以表彰他在显微分析中的杰出成就）。

C. Barry Carter分别于1970、1974和2001年在剑桥大学获得学士、硕士和理学博士学位，从帝国理工学院（伦敦）获得理科硕士（1971年）和DIC，以及从牛津大学获得哲学博士学位（1976年）。之后在牛津大学Peter Hirsch组做博士后。1977年到Cornell大学，。初做博士后，而后依次晋升为助理教授(1979年)、副教授(1983年)和教授（1988年），并负责电子显微镜设备（1987—1991）。2007年7月开始任Connecticu大学（Storrs）化学、材料与生物分子工程系系主任。与他人编著了2部图书以及6本会议文集，发表了275余篇期刊论文和400余篇摘要/会议论文。自1990年，在各大学、学术会议和实验室共做了120多个邀请报告。曾获得过Simon Guggenheim奖（1985—1986年）、Berndt Matthias学者奖（1997/1998年）和Alexander von Humboldt高级奖（1997年）。
前辅文
第1篇 基本概念
第1 章 透射电子显微镜
章节预览
1.1 TEM 可以研究哪些材料?
1.2 为什么使用电子?
1.3 TEM 的局限性
1.4 不同类型的TEM
1.5 电子的基本性质
1.6 显微学方法的网络资源
章节总结
参考文献
自测题
章节具体问题
第2 章 散射和衍射
章节预览
2.1 我们为什么对电子散射感兴趣?
2.2 散射和衍射术语
2.3 散射角
2.4 相互作用的散射截面和微分散射截面
2.5 平均自由程
2.6 TEM 中如何利用散射
2.7 与X 射线衍射的比较
2.8 夫琅禾费衍射和菲涅耳衍射
2.9 光的狭缝衍射和圆孔衍射
2.10 相长干涉
2.11 角度表示
2.12 电子衍射花样
章节总结
参考文献
自测题
章节具体问题
第3 章 弹性散射
章节预览
3.1 粒子和波
3.2 弹性散射机制
3.3 孤立原子的散射
3.4 卢瑟福散射截面
3.5 卢瑟福散射截面的修正
3.6 卢瑟福散射电子的相干性
3.7 原子散射因子
3.8 f(θ)的来源
3.9 结构因子F(θ)
3.10 简单衍射概念
章节总结
参考文献
自测题
章节具体问题
第4 章 非弹性散射和电子束损伤
章节预览
4.1 TEM 中的非弹性散射过程
4.2 X 射线发射
4.3 二次电子发射
4.4 电子-空穴对和阴极发光(CL)
4.5 等离子体和声子
4.6 电子束损伤
章节总结
参考文献
自测题
章节具体问题
第5 章 电子源
章节预览
5.1 不同类型电子源的物理机制
5.2 电子束的特征
5.3 电子枪
5.4 电子枪的比较
5.5 电子枪特性的测量
5.6 加速电压的选择
章节总结
参考文献
自测题
章节具体问题
第6 章 透镜？光阑和分辨率
章节预览
6.1 为什么要了解透镜?
6.2 光学和电子光学
6.3 电磁透镜
6.4 光阑和光圈
6.5 真实透镜及其问题
6.6 电磁透镜的分辨率(和。终的TEM 分辨率)
6.7 焦深和景深
章节总结
参考文献
自测题
章节具体问题
第7 章 如何“看见”电子
章节预览
7.1 电子探测和显示
7.2 观察屏
7.3 电子探测器
7.4 对不同信号的探测器种类选择
7.5 图像记录
7.6 扫描图像和静态TEM 图像的对比
章节总结
参考文献
自测题
章节具体问题
第8 章 真空泵和样品杆
章节预览
8.1 真空
8.2 粗真空泵
8.3 高/.高真空泵
8.4 完整真空系统
8.5 检漏
8.6 污染:碳氢化合物和水汽
8.7 样品杆和测角台
8.8 侧插式样品杆
8.9 顶插式样品杆
8.10 倾斜和旋转样品杆
8.11 原位样品杆
8.12 等离子清洗器
章节总结
参考文献
自测题
章节具体问题
第9 章 设备
章节预览
9.1 照明系统
9.2 物镜和测角台
9.3 形成衍射花样和像:TEM 成像系统
9.4 形成衍射花样和像:STEM 成像系统
9.5 合轴和消像散
9.6 成像系统的校准
9.7 其他校准
章节总结
参考文献
自测题
章节具体问题
第10 章 样品制备
章节预览
10.1 安全性
10.2 自支撑样品或使用微栅
10.3 制备。终减薄的自支撑样品
10.4 样品。终减薄
10.5 截面样品
...... 全部内容请购买实物书籍

本书对透射电子显微镜的构造、实验技术的原理和应用进行了详细介绍。第二版已对第 版内容进行了修订和更新。解释了为什么需要用到这一特殊的技术以及如何将这一特定概念运用到实践中。全书共4篇，总计40章。第 篇主要介绍一些与透射电子显微镜相关的基本概念，包括电子衍射的基础知识、仪器的构造与功能，以及透射电子显微镜样品的制备等。第二篇主要介绍电子衍射的基本原理、不同的电子衍射实验技术，以及对电子衍射的理论描述。第三篇主要介绍成像的基本原理和各种成像类型、不同的成像技术，以及对实验图像的处理、分析和理论模拟。第四篇主要介绍X射线能谱和电子能量损失谱的基本原理和应用，以及与之相关的各种实验技术。全书有近700张图表，在英文版中全为彩图，而在中译本中大部分为黑白图，但并不影响所表达的意思。中译本将全书分成两册，即将英文版的第 篇和第二篇作为上册，将第三篇和第四篇作为下册。

本书可作为高等院校高年级本科生和研究生的教材，也可作为电子显微学分析等相关领域研究人员的参考用书。

1.内容丰富，涵盖了透射电子显微镜的所有重要进展。

2.结合大量的图表，以一种易于理解的方式撰写。

3.适合不同水平的TEM用户参考，可读性强。

透射电子显微学（第二版）上册：材料科学经典著作选译 内容概要 本书上册作为《透射电子显微学（第二版）》的开篇之作，精选并翻译了透射电子显微学（TEM）领域内最具影响力的经典文献，旨在为材料科学研究者提供一个深入理解TEM基本原理、技术发展以及其在材料结构分析中应用的基础。本册内容聚焦于TEM的成像机制、衍射原理、样品制备技术，以及如何利用这些核心工具来揭示材料的微观形貌、晶体结构、缺陷分布以及化学成分。 核心内容细述 成像原理与技术： 上册详尽阐述了透射电子显微镜的基本成像原理，包括电子束的产生、聚焦、穿透样品以及最终在荧光屏或探测器上成像的过程。读者将深入了解电子枪、聚光镜、物镜、中间镜和投影镜等关键光学元件的功能和相互作用，以及它们如何共同构建出高分辨率的二维图像。特别地，本册会重点讲解不同成像模式，如明场像、暗场像以及相衬成像，并深入分析这些成像方式在揭示材料不同特征（如晶粒、位错、相界、沉淀物等）方面的优势和适用性。对于高分辨率透射电子显微镜（HRTEM）的成像原理，如像差校正技术和相位成盒（PHASE）成像，也进行了详细的介绍，使其能够观察到原子尺度的晶格条纹和原子列。 电子衍射： 电子衍射是TEM分析中不可或缺的重要手段，本册对此进行了系统性的介绍。读者将学习到布拉格定律在电子衍射中的应用，以及如何通过分析电子衍射花样来确定材料的晶体结构、晶格参数、晶体取向和多晶体的织构。 Diffraction patterns are categorized into various types, such as Kikuchi patterns (kinematic diffraction) and convergent beam electron diffraction (CBED) patterns (dynamic diffraction), and their distinct information content is elaborated. The interpretation of diffraction patterns, including zone axis identification, twinning determination, and phase analysis, is thoroughly explained with illustrative examples. Furthermore, the book delves into the principles and applications of Selected Area Electron Diffraction (SAED) and Convergent Beam Electron Diffraction (CBED) for spatially resolved structural analysis. 样品制备技术： 高质量的TEM样品是获得可靠分析结果的前提。本册上册详细介绍了多种常用的TEM样品制备技术，涵盖了从宏观样品到超薄切片，再到纳米材料的制备方法。机械抛光、电化学抛光、离子减薄（包括双离子束抛光和聚焦离子束FIB技术）等经典技术被深入剖析，并对各种技术的优缺点、适用范围以及操作要领进行了详细说明。针对不同类型的材料（如金属、陶瓷、半导体、聚合物、生物样品等），书中提供了量身定制的制备策略和注意事项，以确保样品薄度均匀、无形变、无污染，从而最大限度地发挥TEM的分析能力。特别地，对于一些难以制备的脆性材料或难以观察的特定界面，书中也介绍了先进的样品制备方法。 晶体缺陷分析： 晶体缺陷是影响材料性能的关键因素。本册将TEM在识别和表征晶体缺陷方面的强大能力发挥得淋漓尽致。读者将学习如何通过TEM观察和分析各种类型的点缺陷、线缺陷（如位错）、面缺陷（如晶界、孪晶界、畴界）和体缺陷（如空洞、析出物）。重点讲解了位错的成像技术，包括如何通过改变衍射矢量来观察不同滑移系的位错，以及如何利用位错的运动学和动力学信息来推断其类型、 Burgers矢量和滑移平面。对晶界、孪晶界等面缺陷的成像和结构分析也进行了深入探讨，阐明了它们对材料力学性能、电学性能和化学反应性的影响。 化学成分分析与初步介绍： 虽然化学成分分析在TEM中的深入应用（如EDX、EELS）可能在下册有更详细的阐述，但本册上册已经为读者打下了坚实的基础。它会初步介绍TEM如何通过形貌特征（如颗粒大小、形状、分布）和衍射信息来间接推断材料的物相组成。此外，一些基于电子束与样品相互作用的初步分析方法，如利用衬度变化来区分不同元素的初步观察，也会有所提及，为后续更深入的成分分析铺平道路。 本书价值与读者群体 《透射电子显微学（第二版）上册》凭借其严谨的理论阐述、丰富的实验细节以及对经典文献的精选，成为材料科学领域内一份不可多得的参考资料。它不仅适合于从事材料科学、物理学、化学、冶金学、纳米科学等相关领域的研究人员，包括博士生、博士后以及资深研究员，也能够为高等院校相关专业的本科生提供一个系统学习TEM的优质教材。本书的翻译力求忠实原文，并结合国内的研究现状进行必要的注释和说明，使得读者能够更轻松地掌握这些跨越时代的经典知识。通过对上册内容的学习，读者将能够构建起对TEM原理的全面认知，并掌握运用TEM分析材料微观结构的初步能力，为进一步深入研究和理解TEM的更多高级应用打下坚实的基础。本书上册的宗旨是引导读者进入透射电子显微学的世界，感受其科学魅力，并认识到它在揭示材料奥秘过程中的核心地位。

评分☆☆☆☆☆

这本书的封面和装帧设计就透着一股厚重感，不是那种花里胡哨的科普读物，而是沉甸甸的知识宝库。翻开扉页，一股油墨的清香扑鼻而来，仿佛置身于一个古老而神圣的知识殿堂。第一眼看到这书名《透射电子显微学 第二版2版 上册 材料科学经典著作选译》，我就知道这绝非等闲之辈。我是一名刚刚踏入材料科学研究领域的研究生，对各种表征技术都充满了好奇，特别是透射电子显微学（TEM），它像是一把能够穿透物质表象，直抵原子尺度内部的“ X光眼”，让我对其能力充满敬畏。我一直在寻找一本既权威又易于入门的教材，能够系统地梳理TEM的基本原理、操作技巧以及在材料分析中的应用。这本书恰好满足了我的需求。

评分☆☆☆☆☆

作为一名热衷于探究物质微观结构背后奥秘的实验物理研究者，我总是对那些能够揭示事物本质的工具和方法抱有浓厚的兴趣。《透射电子显微学 第二版2版 上册 材料科学经典著作选译》这本书，在我看来，就是这样一本能够带我深入物质微观世界的“导航仪”。它不仅仅是一本教科书，更像是一本能够激发思考的“思想集”。我喜欢它那种严谨的学术风格，不回避复杂的问题，而是层层递进，深入浅出地阐述原理。书中对电子与物质相互作用的描述，对各种成像模式的原理分析，都给我留下了深刻的印象。每次阅读，我都感觉自己对TEM的理解又上了一个新的台阶，仿佛打开了新的视野，看到了之前从未注意到的细节。

评分☆☆☆☆☆

说实话，选择这本书，很大程度上是源于对“经典著作选译”这几个字的信任。在如今信息爆炸的时代，我们很容易被各种碎片化的知识所淹没，而一本真正经得起时间考验的经典，却能为我们提供稳固的根基。这本书给我的感觉就是如此。它虽然是“上册”，但内容已经相当充实，涵盖了TEM的诸多重要方面。我特别喜欢书中对实验操作和数据处理的指导，这些实践性的内容对于我们日常的科研工作至关重要。很多时候，理论知识的学习很容易，但如何将其转化为实际操作，并在实验中获得高质量的数据，才是真正的挑战。《透射电子显微学 第二版2版 上册 材料科学经典著作选译》在这方面给了我很大的启发。

评分☆☆☆☆☆

这本书给我最直观的感受就是“专业”二字。作为一名在材料领域工作多年的工程师，我深知微观结构分析对于材料性能研究的重要性。透射电子显微学作为一种强大的表征手段，其原理和应用都极其复杂。我一直在寻找一本能够系统、深入地介绍TEM的书籍，而《透射电子显微学 第二版2版 上册 材料科学经典著作选译》这本书，无疑满足了我的期望。它不仅仅是简单罗列技术，而是深入探讨了背后的物理原理，以及如何在不同的材料体系中应用这些技术。书中的图例和实例都非常具有代表性，能够帮助读者快速理解抽象的概念，并将其与实际的科研问题联系起来。

评分☆☆☆☆☆

对于我这个在材料领域摸爬滚打多年的老兵来说，阅读《透射电子显微学 第二版2版 上册 材料科学经典著作选译》的体验，更像是一场与过去经典对话的旅程。很多年前，当我还是一个懵懂的学生时，就已经听闻过TEM的赫赫威名，但真正深入接触并掌握其精髓，则是在工作的压力下才开始的。这本书的选译，无疑为我们这些身处一线的研究者提供了宝贵的学习资源。它不仅涵盖了TEM的基础理论，更重要的是，它将这些理论与实际应用紧密结合，通过精选的案例分析，展示了TEM在解决材料科学中的各种疑难杂症时所发挥的关键作用。我尤其欣赏书中对图像形成原理、衍射分析、高分辨成像等核心内容的细致讲解，这些内容常常是许多新手容易混淆的难点，但在这本书中却被梳理得条理清晰，逻辑严谨。