X射綫衍射技術(潘峰) pdf epub mobi txt 電子書 下載 2025

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潘峰，王英華，陳超 編

圖書標籤:

• X射綫衍射
• XRD
• 晶體結構
• 材料分析
• 粉末衍射
• 單晶衍射
• 結構解析
• 材料科學
• 物理學
• 化學

齣版社： 化學工業齣版社

ISBN：9787122278470

版次：1

商品編碼：11973855

包裝：平裝

開本：16開

齣版時間：2016-10-01

用紙：膠版紙

頁數：410

字數：656000

正文語種：中文

內容簡介

《X射綫衍射技術》較為係統地闡述瞭晶體學基礎，X射綫與物質作用發生散射與衍射的理論，單晶與多晶材料的X射綫衍射原理與實驗方法，X射綫衍射技術在材料微結構分析方麵的應用等。書中反映瞭近年來X射綫衍射領域的新成果，也介紹瞭非晶態材料、高分子聚閤物材料、薄膜材料的衍射技術以及同步輻射技術的應用。
《X射綫衍射技術》可作為材料科學與工程類專業本科生的專業教材，也可供相關專業如物理、化學、生物、機械、核能工程等本科生和研究生作教學參考書，對從事X射綫衍射工作的科研、測試人員也具有參考價值。

作者簡介

潘峰，清華大學材料學院，國際薄膜學會副理事長、中國材料研究學會常務理事、中國晶體學會常務理事、中國真空學會常務理事、科技部“863”計劃新材料領域領域專傢、"十三五”國傢新材料領域發展戰略與規劃研究召集人，清華大學教授，博士生導師，是國傢傑齣青年科學基金獲得者，國傢創新人纔推進計劃重點領域創新團隊負責人。1996年晉升教授。曾任清華大學材料科學與工程研究院副院長、先進材料教育部重點實驗室主任、中國真空學會副理事長，現任國際薄膜學會副理事長、中國材料研究學會常務理事、中國晶體學會常務理事、中國真空學會常務理事、科技部“863”計劃新材料領域專傢、"十三五”國傢新材料領域發展戰略與規劃研究召集人。長期在薄膜材料結構與性能調控技術、聲錶麵波材料與器件、阻變存儲材料、磁性材料等方嚮開展科學研究，曾獲得2012年國傢自然科學二等奬、2009年國傢科技進步二等奬、2007年國傢技術發明奬二等奬、1999年國傢自然科學三等奬和8項省部級科研成果奬勵。授權國傢發明專利20餘項，國際專利2項。

目錄

第1章 緒論
參考文獻5
第2章 X射綫的基本性質
2.1X射綫的本質6
2.1.1X射綫的波動性7
2.1.2X射綫的粒子性8
2.1.3X射綫的一般性質8
2.2X射綫的産生9
2.2.1X射綫管10
2.2.2X射綫儀12
2.3X射綫譜13
2.3.1連續X射綫譜13
2.3.2特徵X射綫譜15
2.4X射綫與物質的相互作用18
2.4.1X射綫的吸收19
2.4.2X射綫的減弱規律20
2.4.3吸收限的應用22
2.5X射綫的探測與防護24
2.5.1X射綫的探測24
2.5.2X射綫的防護25
思考與練習題25
參考文獻26
第3章 晶體學基礎
3.1晶體結構與空間點陣27
3.1.1晶體結構概述27
3.1.2空間點陣28
3.1.3陣矢30
3.1.4陣胞31
3.1.5空間點陣的種類32
3.1.6晶胞與晶體結構35
3.2晶麵和晶嚮指數37
3.2.1陣胞中的點37
3.2.2陣胞內的直綫38
3.2.3陣胞中的平麵39
3.2.4晶胞內的等價點、晶嚮和晶麵40
3.2.5六方晶係中的晶麵指數40
3.2.6晶麵間距43
3.3晶體中的對稱操作與對稱元素43
3.3.1宏觀對稱操作與對稱元素44
3.3.2微觀對稱操作與對稱元素48
3.4點群與空間群51
3.4.1點群的概念51
3.4.2點群符號52
3.4.3空間群的概念與符號56
3.4.4空間群圖錶簡介57
3.5晶體的投影58
3.5.1球麵投影59
3.5.2極射投影60
3.5.3吳氏網與標準投影61
3.6倒易點陣70
3.6.1倒易點陣的概念70
3.6.2倒易點陣與正點陣之間的倒易關係72
3.6.3利用倒易矢量計算晶麵間距與晶麵夾角75
3.6.4晶帶與倒易麵77
思考與練習題79
參考文獻82
第4章 X射綫的散射、乾涉與衍射
4.1單個電子對X射綫的散射83
4.1.1相乾散射83
4.1.2非相乾散射87
4.2散射綫的乾涉88
4.2.1相位差與散射矢量88
4.2.2閤成振幅與強度89
4.3單個原子對X射綫的散射92
4.3.1單電子原子的散射93
4.3.2多電子原子的散射94
4.4原子群體的散射97
4.4.1散射振幅與強度97
4.4.2多原子氣體與“粉塵”的散射98
4.5晶體的衍射101
4.5.1晶胞對X射綫的散射102
4.5.2小晶體的衍射103
4.6X射綫的衍射方嚮106
4.6.1乾涉方程107
4.6.2布拉格定律107
4.6.3厄瓦爾德圖解109
4.7結構因子與消光條件111
4.7.1點陣消光與結構消光111
4.7.2點陣消光條件112
4.7.3結構消光條件113
4.7.4加權倒易點陣114
4.8獲得衍射綫的方法概述116
4.8.1連續譜X射綫117
4.8.2轉動晶體法117
4.8.3發散X射綫束118
4.8.4粉末多晶法119
思考與練習題120
參考文獻121
第5章 衍射綫的強度分析
5.1晶體的嵌鑲塊結構122
5.2實際小晶體的衍射積分強度123
5.3多晶體的衍射綫強度126
5.4影響衍射強度的因素128
5.4.1洛倫茲因子128
5.4.2吸收因子128
5.4.3多重因子132
5.4.4溫度因子133
5.4.5晶體結構的影響134
5.4.6消光的影響135
5.4.7粉末多晶法的積分強度與相對強度136
5.5衍射強度的計算實例137
5.5.1列錶計算衍射綫的相對強度137
5.5.2利用計算機計算衍射綫的相對強度138
思考與練習題141
參考文獻141
第6章 多晶體衍射信息的獲取方法
6.1德拜法142
6.1.1德拜法原理142
6.1.2德拜相機144
6.1.3德拜照片的計算與標定145
6.1.4其他照相方法148
6.2衍射儀法150
6.2.1測角儀151
6.2.2探測器153
6.2.3控製和數據處理係統158
6.2.4晶體單色器160
6.2.5衍射儀161
6.3衍射圖樣的獲得164
6.3.1試樣製備要求164
6.3.2衍射全圖的獲得165
6.3.3單峰測試166
6.4衍射信息的獲取167
6.4.1衍射綫的綫位167
6.4.2衍射綫的強度169
6.4.3衍射綫的寬度170
6.5衍射綫的綫形分析172
6.5.1實測綫形與真實綫形172
6.5.2Kα雙綫的分離173
6.5.3吸收、溫度和角因子的校正178
6.5.4儀器因數的校正180
思考與練習題186
參考文獻187
第7章 單晶體衍射信息的獲取方法
7.1勞厄法188
7.1.1勞厄法照相188
7.1.2勞厄照片的特徵190
7.2勞厄法的應用191
7.2.1單晶取嚮的測定191
7.2.2透射勞厄法測定單晶取嚮193
7.2.3背射勞厄法測定單晶取嚮195
7.2.4單晶體的定嚮切割198
7.2.5塑性變形的研究200
7.3四圓單晶衍射儀法203
7.3.1四圓單晶衍射儀簡介203
7.3.2四圓單晶衍射儀的晶體結構分析過程205
7.3.3四圓單晶衍射儀的衍射幾何205
7.3.4衍射幾何轉換矩陣207
7.4二維麵探測器210
思考與練習題212
參考文獻212
第8章 物相分析
8.1定性相分析213
8.1.1PDF卡片214
8.1.2PDF檢索215
8.1.3定性相分析方法217
8.2定量相分析221
8.2.1外標法222
8.2.2內標法223
8.2.3自標法225
8.2.4其他方法舉例229
8.3衍射全譜擬閤法與Rietveld結構精修229
8.3.1全譜擬閤的原理230
8.3.2Rietveld方法中的擬閤函數232
8.3.3Rietveld結構精修步驟234
8.3.4Rietveld定量相分析方法235
思考與練習題237
參考文獻237
第9章 點陣常數的精確測定
9.1基本原理238
9.2衍射儀法的主要誤差240
9.2.1測角儀引起的誤差240
9.2.2試樣引起的誤差242
9.2.3其他誤差243
9.3外推法消除係統誤差244
9.3.1外推法原理244
9.3.2外推函數的選擇245
9.3.3外推判據246
9.3.4柯亨最小二乘法248
思考與練習題249
參考文獻249
第10章 宏觀應力的測定
10.1基本原理250
10.1.1應力-應變關係250
10.1.2X射綫衍射方法測定應力的原理252
10.1.3錶麵應力狀態的確定254
10.1.4用X射綫衍射方法測定應力的特點254
10.2衍射儀法測定宏觀應力256
10.2.1基本方法257
10.2.2半聚焦法測應力258
10.2.3平行光束法測應力258
10.2.4邊傾斜法測應力259
10.2.5應力測試實例260
思考與練習題261
參考文獻261
第11章 微晶尺寸與微觀應力的測定
11.1微晶尺寸的測定262
11.1.1微晶引起的寬化效應262
11.1.2微晶尺寸的計算263
11.1.3微晶尺寸的確定264
11.2微觀應力的測定266
11.2.1微觀應力的倒易空間描述267
11.2.2微觀應力的計算268
11.2.3微觀應力的測定實例269
11.3微晶寬化和微觀應力寬化的分離269
11.3.1近似函數法270
11.3.2傅裏葉分析法272
11.3.3方差分解法277
思考與練習題278
參考文獻278
第12章 織構的測定
12.1織構及其錶示方法279
12.1.1織構與織構的分類279
12.1.2織構的錶示方法281
12.2正極圖的獲得286
12.2.1照相法測正極圖286
12.2.2衍射儀法測正極圖289
12.3反極圖的獲得與分析297
12.3.1反極圖的獲得297
12.3.2反極圖數據的歸一化處理300
12.3.3各嚮異性的計算303
12.4極分布圖的測定305
12.4.1極分布圖305
12.4.2極分布圖的測定305
12.4.3迴擺麯綫的測定307
思考與練習題307
參考文獻308
第13章 薄膜材料分析
13.1概述309
13.2薄膜分析中的常用X射綫方法310
13.2.1常規粉末衍射法310
13.2.2掠入射X射綫衍射310
13.2.3小角X射綫散射312
13.2.4雙晶衍射儀313
13.3掠入射X射綫衍射313
13.3.1掠入射X射綫衍射全反射314
13.3.2多層膜結構對X射綫的反射317
13.3.3薄膜性質對X射綫反射率的影響318
13.3.4X射綫反射測定薄膜厚度321
13.4薄膜生長取嚮的測定322
13.4.1Φ掃描322
13.4.2薄膜材料中極圖的測定323
思考與練習題324
參考文獻325
第14章 高分子材料分析
14.1高分子材料概述326
14.1.1高分子晶體的特點326
14.1.2高分子鏈段的組成及其堆砌結構328
14.1.3高分子聚閤物晶體結構模型329
14.2高分子聚閤物結晶度的測定331
14.2.1基本原理331
14.2.2作圖法331
14.2.3Ruland法333
14.2.4擬閤分峰法335
14.2.5迴歸綫法337
14.3高分子材料的小角X射綫散射338
14.3.1基本原理339
14.3.2小角散射強度公式340
14.3.3小角散射的實驗技術與方法348
14.3.4Guinier作圖法352
思考與練習題353
參考文獻353
第15章 非晶材料分析
15.1非晶態及其結構描述354
15.1.1非晶態354
15.1.2徑嚮分布函數356
15.2單原子係統的徑嚮分布函數357
15.2.1原子徑嚮分布函數的錶達式357
15.2.2液體鈉的徑嚮分布函數359
15.3多元非晶係統的徑嚮分布函數360
15.3.1徑嚮分布函數的有效電子密度錶示法360
15.3.2多元係統的全徑嚮分布函數與偏徑嚮分布函數362
15.4徑嚮分布函數實驗數據的處理366
15.4.1實驗數據的獲得366
15.4.2實驗數據的處理367
15.4.3徑嚮分布函數的獲得370
15.5測試實例371
15.5.1Gd�睩e係的徑嚮分布函數371
15.5.2炭黑的徑嚮分布函數372
思考與練習題374
參考文獻374
第16章 同步輻射的應用
16.1同步輻射X射綫源375
16.1.1同步輻射概述375
16.1.2同步輻射光源的發展過程377
16.1.3同步輻射裝置的現狀378
16.2X射綫吸收精細結構379
16.2.1XAFS基本原理379
16.2.2近邊譜(XANES)381
16.2.3擴展譜(EXAFS)384
思考與練習題386
參考文獻387
附錄
1.國際相對原子質量錶388
2.晶體結構資料389
3.某些化閤物和固溶體的晶體結構392
4.某些元素的特徵譜與吸收限波長393
5.鎢的特徵L譜綫394
6. Kα雙綫分離度(θα2-θα1)395
7.質量吸收係數和密度397
8.原子散射因子f399
9.原子散射因子在吸收限近旁的減小值Δf402
10.洛倫茲-偏振因子1+cos22θ/sin2θcosθ402
11.德拜-瓦洛溫度因子e-(Bsin2θ)/λ2405
12.米勒指數的二次式405
13.晶麵間距與點陣參數的關係406
14.常用矢量關係與有關公式的證明407
15.高聚物結晶度計算公式反校正因子408
16.聚芳醚酮類聚閤物(PAEKs)結晶度計算公式410

前言/序言

利用X射綫衍射對材料進行分析，是人們認識物質微觀結構的重要途徑和權威方法之一。自1912年勞厄發現晶體X射綫衍射以來，X射綫已被迅速用於單晶材料與多晶材料的結構分析之中。近年來，隨著認識的深入、設備的發展和分析技術的進步，X射綫衍射技術被廣泛應用於材料微結構分析的各個方麵，如物相分析，點陣參數測定，宏觀殘餘應力、微觀應力與微晶尺寸的測定，織構錶徵，高分子與非晶物質的分析，薄膜、縴維等低維材料的分析等，為X射綫衍射技術增添瞭更為強大的生命力，使其在材料科學、物理、化學、生物、製藥、信息等領域發揮著不可替代的作用。
本書從X射綫衍射技術的應用原理齣發，介紹瞭X射綫技術的發展曆程與X射綫的基本性質以及X射綫衍射的晶體學基礎，詳細闡述瞭X射綫與物質作用發生散射的相關理論，進而推導齣X射綫衍射的理論強度，並基於作者及其閤作者多年來在教學與研究工作中的認識與體會，分章節介紹瞭X射綫衍射技術在實際材料分析過程中的應用原理與實例，以期對讀者掌握X射綫衍射技術的相關理論、從事相關的分析工作有所幫助。
全書共16章。第1章為緒論，介紹X射綫衍射技術的發展曆程與應用背景；第2章為X射綫的基本性質，包括X射綫的波粒二象性、X射綫的産生和譜學特性以及與物質的相互作用等；第3章為晶體學基礎，為探討X射綫在晶體中的衍射現象提供基本的晶體學知識；第4章為X射綫的散射、乾涉與衍射，為整個X射綫衍射的核心理論基礎，詳細闡述瞭X射綫與物質發生相互作用時的散射強度與方嚮，推導齣乾涉方程、布拉格定律以及點陣消光規律；第5章為衍射綫的強度分析，包括實際小晶體和多晶體衍射強度的分析以及實際實驗中影響衍射強度的因素；第6章為多晶體衍射信息的獲取方法，包括早期應用的德拜法的分析原理與過程，後續發展並廣泛應用的衍射儀的原理與構造，多晶衍射的製樣和測試過程，以及衍射信息的處理與校正；第7章為單晶體衍射信息的獲取方法，闡述瞭勞厄法獲取單晶衍射信息的原理、過程與應用，並結閤技術的發展，介紹瞭用於單晶衍射分析的四圓單晶衍射儀以及二維麵探測器；第8章為物相分析，介紹瞭定性相分析、定量相分析以及計算機進行全譜擬閤和結構精修的原理與過程；第9章為點陣常數的測定，闡明瞭點陣常數測定的基本原理，並討論瞭衍射儀法的誤差來源與消除方法；第10章為宏觀應力的測定，分析瞭宏觀應力的測試原理和衍射儀法測試的過程；第11章為微晶尺寸與微觀應力的測定，包含測定微晶尺寸和微觀應力的方法以及二者對衍射綫貢獻的分離方法；第12章為織構的測定，介紹瞭織構的錶徵方式與測試過程；第13章為薄膜材料分析，介紹瞭針對薄膜樣品所發展齣來的一係列測試方法；第14章為高分子材料分析，分析瞭X射綫衍射技術在高分子材料結構分析中的應用；第15章為非晶材料分析，介紹瞭非晶材料X射綫散射分析的原理與過程；第16章為同步輻射的應用，以實際研究為例，介紹瞭同步輻射技術在材料分析中的應用。
本書的撰寫得到瞭國內材料科學許多專傢學者的參與和支持，其中包括清華大學曾飛副教授、宋成副教授、劉雪靜博士。此外，須感謝王英華先生等編著的《X光衍射技術基礎》一書為本書的編著提供瞭諸多參考，同時也要感謝清華大學材料科學與工程研究院中心實驗室的陶琨先生、苗偉副教授為本書提供瞭不少的素材與數據，給予我們很大的支持。劉雪靜博士、博士生李凡等為本書的審稿和編輯做齣重大貢獻。
本書介紹的部分研究成果是作者及其閤作者在“973”計劃、“863”計劃、國傢自然科學基金、教育部重大項目、清華大學教改項目的大力支持下完成的。作者在此謹嚮所有給予支持的學者、朋友緻以誠摯的感謝。
由於對內容的理解有限，書中難免有不妥之處，懇請讀者批評指正。

編者
2016年6月

X射綫衍射技術 (潘峰) 書籍簡介 本書深入探討瞭X射綫衍射（XRD）技術在材料科學、化學、物理學、地質學、生物學等眾多領域的核心應用與理論基礎。通過嚴謹而清晰的論述，本書旨在為讀者構建一個全麵而深入的XRD知識體係，使其能夠熟練掌握X射綫衍射儀的原理、操作方法，並能準確解讀衍射圖譜，從而解決實際科學研究和工程應用中的問題。 核心內容概述 X射綫的産生與性質： 書籍首先會詳細介紹X射綫的産生機製，包括X射綫管的工作原理、不同類型X射綫的特性（如波長、能量），以及X射綫與物質相互作用的基本方式，為後續的衍射現象奠定理論基礎。 晶體結構與衍射原理： 本部分將詳細闡述晶體的周期性結構是X射綫衍射現象的根本原因。內容將涵蓋布拉格方程（Bragg's Law）的推導及其在解釋衍射現象中的關鍵作用，並深入講解衍射角、晶麵間距、倒空間等概念。此外，還會介紹不同晶係的特點以及如何通過衍射數據推斷晶體結構。 X射綫衍射儀的工作原理與構造： 書籍將詳細解析現代X射綫衍射儀的各個組成部分，包括X射綫源、樣品颱、探測器、測角儀等，並闡述它們各自的功能和工作流程。讀者將瞭解不同類型的衍射儀（如粉末衍射儀、單晶衍射儀）的特點及適用範圍。 樣品製備與實驗操作： 準確的實驗結果離不開高質量的樣品製備。本書將提供關於粉末樣品、薄膜樣品、單晶樣品等不同類型樣品製備的詳細指導，並介紹X射綫衍射實驗的標準操作流程，包括儀器參數的選擇、樣品放置、數據采集等關鍵步驟。 衍射圖譜的解析與應用： 這是本書的核心重點之一。讀者將學習如何係統地分析X射綫衍射圖譜，包括識彆衍射峰的位置、強度、寬度等信息。內容將涵蓋： 定性分析： 如何通過與標準數據庫（如JCPDS/ICDD）的比對，準確識彆樣品中的物相組成。 定量分析： 如何根據衍射峰的強度比例，計算樣品中各物相的含量。 晶體結構分析： 如何從衍射數據中確定晶胞參數、空間群，並進行晶體結構解析（尤其針對單晶衍射）。 其他結構參數的測定： 包括晶粒尺寸、微應變、擇優取嚮（織構）、堆積層錯、殘餘應力等重要參數的計算方法及其物理意義。 X射綫衍射技術的特定應用： 書籍將重點介紹XRD在不同領域的具體應用案例，例如： 材料科學： 研究金屬閤金、陶瓷、聚閤物、納米材料等的相結構、相變過程、力學性能與結構的關係。 化學： 鑒定有機、無機化閤物，研究催化劑、藥物的晶體結構和物相變化。 地質學與礦物學： 分析岩石、礦物的組成和結構，研究地質過程。 生物學與醫學： 確定生物大分子（如蛋白質、DNA）的三維結構，研究生物礦化。 工業應用： 質量控製、失效分析、新材料開發等。 高級XRD技術與前沿進展： 本部分將簡要介紹一些更高級的XRD技術，如同步輻射X射綫衍射、中子衍射、x射綫散射（SAXS/WAXS）、高溫/低溫/高壓原位XRD等，並展望XRD技術未來的發展趨勢和在新興領域的應用前景。 本書特色 本書力求理論與實踐相結閤，既有對基礎原理的深刻闡釋，又不乏具體的實驗操作指南和圖譜解析案例。清晰的邏輯結構、豐富的圖錶配閤，以及對常見問題和難點的深入剖析，將幫助讀者逐步掌握X射綫衍射技術的精髓，成為一名熟練的XRD使用者。無論您是初學者還是有一定基礎的研究者，本書都將是您在X射綫衍射領域深入探索的寶貴參考。

評分☆☆☆☆☆

初識《X射綫衍射技術(潘峰)》這本書，是在一個深夜的圖書館裏。當時我正為一篇關於納米材料錶徵的論文而苦思冥想，其中涉及到大量的XRD數據處理和解釋。這本書以其詳盡的內容和深入的分析，很快吸引瞭我。潘峰老師在書中對於衍射理論的講解，不僅僅局限於理論公式的羅列，而是更注重其物理意義和實際應用。例如，在講解衍射矢量和倒易空間的概念時，他用形象的比喻和圖示，將抽象的空間幾何轉化為直觀的物理過程，讓我能夠輕鬆理解晶體結構與倒易空間之間的對應關係。我尤其對書中關於衍射峰寬化機製的詳細分析印象深刻，包括微晶尺寸、晶格畸變、應力等多種因素對衍射峰寬的影響，以及如何通過謝樂公式、沃倫公式等進行定量分析。這對於我理解和解釋納米材料的衍射峰展寬現象至關重要。書中還詳細介紹瞭各種衍射數據處理軟件的應用，並提供瞭豐富的案例分析，讓我能夠快速掌握如何從原始衍射數據中提取齣有用的信息，例如晶粒尺寸、微晶尺寸、微應力、擇優取嚮等。我曾花費大量時間去摸索某個軟件的功能，而這本書中的介紹，往往能夠直擊要害，幫助我事半功倍。書中對衍射技術在不同材料體係中的應用，如高分子材料、薄膜材料、生物材料等，都進行瞭詳細的闡述，這讓我看到瞭XRD技術的廣泛應用前景，並從中獲得瞭啓發。總而言之，這本書不僅僅是一本技術指南，更是一本能夠激發讀者探索精神，並提供強大工具的書籍，它為我的研究提供瞭堅實的支持。

評分☆☆☆☆☆

在我的學術生涯中，有幾本書籍對我産生瞭深遠的影響，《X射綫衍射技術(潘峰)》無疑是其中之一。這本書的獨特之處在於，它並沒有將X射綫衍射技術視為一個孤立的研究領域，而是將其置於材料科學、物理學、化學等多個學科的交叉點上進行解讀。潘峰老師在書中對於衍射原理的闡述，從基礎的X射綫産生和探測，到復雜的衍射現象和理論模型，都進行瞭係統而深入的介紹。我尤其對書中關於結構因子和原子因子相互作用的講解印象深刻，這讓我能夠更深刻地理解衍射強度與晶體內部原子排列之間的關係。書中在晶體結構分析部分的內容，堪稱經典。從晶係分類、空間群確定，到各種晶體結構解析方法的介紹，都具有極高的學術價值。我曾花瞭很多時間去理解如何利用Patterson函數和直接法來解析未知晶體結構，書中詳細的推導過程和實例分析，為我提供瞭寶貴的指導。此外，書中對於衍射技術在各種材料研究中的應用案例，也十分豐富。從金屬閤金的相分析，到陶瓷材料的晶體結構鑒定，再到高分子材料的結晶度分析，都進行瞭深入的探討。這讓我能夠看到XRD技術在解決實際科學問題中的強大能力。我還注意到書中對衍射數據質量控製的重視，從樣品製備到儀器參數的優化，都給齣瞭詳細的建議，這對於保證實驗結果的準確性和可靠性至關重要。這本書不僅是我學習XRD技術的入門指南，更是我進行深入研究的寶貴參考資料，它為我打開瞭通往微觀世界的大門。

評分☆☆☆☆☆

閱讀《X射綫衍射技術(潘峰)》這本書，讓我體驗到一種從“知其然而不知其所以然”到“知其然更知其所以然”的飛躍。我曾經在實驗室裏操作過XRD儀器，也見過衍射圖譜，但對於背後復雜的物理原理，卻一直感到模糊。這本書以一種非常獨特的方式，將抽象的物理概念與生動的實際應用相結閤，為我揭示瞭X射綫衍射技術的奧秘。潘峰老師在書中對衍射原理的講解，層次分明，深入淺齣。他從X射綫的産生、性質講起，到X射綫與晶體中原子相互作用的機製，再到衍射圖樣的形成和解析，每一步都解釋得非常清楚。我尤其對書中關於結構因子和原子因子之間關係的闡述印象深刻，這讓我能夠理解為什麼不同的衍射峰具有不同的強度，以及這些強度變化背後所蘊含的原子信息。在晶體結構分析部分，書中詳細介紹瞭各種解析方法，從經典的Patterson法到現代的直接法，都進行瞭詳盡的介紹。我曾利用書中介紹的方法來解析一些簡單的晶體結構，並取得瞭成功，這極大地增強瞭我對XRD技術的信心。書中還提供瞭大量的實例分析，涵蓋瞭各種不同類型的材料，從金屬到陶瓷，從聚閤物到生物分子，都進行瞭深入的探討。這讓我看到瞭XRD技術的廣泛應用前景，並從中獲得瞭新的研究靈感。此外，書中對衍射數據處理和軟件應用的介紹，也為我提供瞭實用的工具，讓我能夠更有效地進行實驗數據分析。總而言之，這本書不僅僅是一本技術手冊，更是一本能夠激發讀者探索精神，並提供強大支持的書籍。

評分☆☆☆☆☆

接觸《X射綫衍射技術(潘峰)》這本書，是我在材料分析領域探索過程中的一個重要轉摺點。在此之前，我對X射綫衍射技術的理解，停留在比較錶麵的層麵，例如知道它可以用來識彆材料的晶體結構，但對於其背後的原理和詳細操作，卻知之甚少。這本書以其係統性、全麵性和前瞻性，極大地提升瞭我對XRD技術的認知水平。潘峰老師在書中對衍射原理的闡述，非常到位。他從X射綫的産生機製齣發，逐步深入到X射綫與晶體的相互作用，再到衍射圖樣的形成和解析，邏輯清晰，層層遞進。我尤其對書中關於衍射動力學理論的介紹印象深刻，這讓我能夠理解在復雜情況下，衍射峰的強度和形狀會發生怎樣的變化，以及如何從中提取有用的信息。書中在晶體結構分析部分的內容，讓我受益匪淺。從晶係和空間群的確定，到各種衍射數據處理和結構精修技術，都進行瞭詳細的介紹。我曾嘗試利用書中介紹的軟件工具來解析一些陌生的材料衍射圖譜，並取得瞭成功，這讓我對XRD技術在未知材料結構解析方麵的強大能力有瞭切身的體會。此外，書中對衍射技術在不同應用領域的廣泛介紹，也拓寬瞭我的視野。從材料科學到地質學，從生物學到藥物研發，XRD技術都展現齣瞭其不可替代的重要性。我對書中關於高分辨XRD和X射綫成像等前沿技術的介紹尤為感興趣，這讓我看到瞭XRD技術未來的發展方嚮。這本書不僅僅是知識的傳授，更是一種思維的引導，它讓我能夠以更科學、更嚴謹的態度去對待材料分析工作。

評分☆☆☆☆☆

這部《X射綫衍射技術(潘峰)》的書，我拿到手的時候，就有一種沉甸甸的期待感。我是一名材料學領域的初學者，一直對材料的晶體結構和微觀性質充滿瞭好奇，而X射綫衍射（XRD）正是探索這些奧秘的鑰匙。拿到這本書，我首先被其厚重的篇幅和嚴謹的排版所吸引。翻開第一頁，潘峰老師的序言就如同一位經驗豐富的嚮導，為我描繪瞭XRD技術的宏大圖景及其在現代科學研究中的重要地位。他深入淺齣地闡述瞭XRD的基本原理，從布拉格定律的優雅推導，到衍射花樣背後蘊含的豐富信息，都以一種清晰易懂的方式呈現。我尤其欣賞書中對於衍射峰的解析部分的詳述，不同晶係、不同取嚮的晶體如何産生獨特的衍射圖譜，以及如何通過這些圖譜反推齣晶體結構參數，例如晶格常數、晶粒尺寸、晶體缺陷等等，這些內容都讓我受益匪淺。書中列舉的案例也十分豐富，涵蓋瞭金屬材料、陶瓷材料、高分子材料甚至生物材料等多個領域，讓我看到瞭XRD技術的普適性和強大生命力。當我遇到自己研究中遇到的某個材料樣品，不知道如何著手分析時，這本書就像一個寶庫，總能提供我所需的理論指導和實踐思路。書中關於衍射儀器的介紹也十分到位，從不同類型儀器的原理、構造到操作注意事項，都做瞭細緻的講解，這對於我這樣需要上手操作的實驗者來說，無疑是雪中送炭。我曾花瞭好幾個小時去理解不同探測器的工作原理，書中對此的詳細描述，比我在網上零散查找的信息要係統和權威得多。此外，書中對數據處理和軟件應用的部分也給予瞭足夠的篇幅，各種擬閤算法、晶體結構數據庫的使用技巧，都為我解決實際問題提供瞭強大的支持。總而言之，這本書不僅僅是一本技術手冊，更是一部引導讀者深入理解XRD精髓的學術著作，它為我鋪就瞭一條通往晶體學世界的清晰道路。

評分☆☆☆☆☆

這本書《X射綫衍射技術(潘峰)》給我帶來的，不僅僅是知識的增添，更是一種思維方式的啓迪。作者潘峰先生在書中，以一種非常獨特的方式，將抽象的物理概念與生動的實際應用相結閤。我一直對晶體學感到好奇，但卻苦於找不到一本既有深度又不至於過於枯燥的書籍。這本書恰好滿足瞭我的需求。書中關於X射綫與晶體相互作用的物理機製的講解，讓我對衍射現象有瞭更深刻的理解。它不僅僅停留在布拉格方程的層麵，而是深入到X射綫的波動性和粒子性，以及其與晶體中電子雲的相互作用。我尤其對書中關於衍射強度與結構因子之間關係的闡述印象深刻，這讓我能夠理解為什麼不同的衍射峰具有不同的強度，以及這些強度變化背後所蘊含的原子信息。在晶體結構分析的部分，書中詳細介紹瞭各種解析方法，從傳統的Patterson法到現代的直接法，都進行瞭詳盡的介紹。我曾嘗試利用書中介紹的方法來解析一些簡單的晶體結構，並取得瞭成功，這極大地增強瞭我對XRD技術的信心。書中還提供瞭大量的實例分析，涵蓋瞭各種不同類型的材料，從金屬到陶瓷，從聚閤物到生物分子，都進行瞭深入的探討。這讓我看到瞭XRD技術的廣泛應用前景，並從中獲得瞭新的研究靈感。此外，書中對衍射數據處理和軟件應用的介紹，也為我提供瞭實用的工具，讓我能夠更有效地進行實驗數據分析。總而言之，這本書不僅僅是一本技術手冊，更是一本能夠激發讀者探索精神，並提供強大支持的書籍。

評分☆☆☆☆☆

我曾花瞭很多時間和精力去學習X射綫衍射技術，但總感覺理論與實踐之間存在一道鴻溝。《X射綫衍射技術(潘峰)》這本書，以其獨特的視角和深刻的洞察力，有效地彌閤瞭這一差距。這本書並沒有將XRD技術簡單地視為一種測量工具，而是將其置於更廣闊的科學背景下進行解讀。潘峰老師在開篇就闡述瞭X射綫與物質相互作用的基本原理，從X射綫的産生、性質，到其與晶體中電子雲的相互作用，都進行瞭非常細緻的講解。這使得我對XRD的理解不再停留在“輸入X射綫，輸齣衍射圖”的層麵，而是能夠深入到其微觀物理機製。書中關於衍射強度與原子因子、結構因子、洛倫茲因子等參數的關係，都進行瞭深入的剖析，這讓我能夠理解為何某些衍射峰會比其他峰更強，以及這些強度變化背後所蘊含的原子位置和電子密度信息。我特彆欣賞書中關於衍射數據質量控製部分的討論，它指齣瞭在實驗過程中可能齣現的各種誤差來源，例如樣品製備不當、儀器穩定性問題、計數統計誤差等，並給齣瞭相應的解決方案。這對於我來說，是極其寶貴的經驗，讓我能夠避免在實驗中走彎路，提高實驗數據的可靠性。書中在衍射圖譜解析部分，不僅僅是介紹如何識彆峰位，還深入探討瞭如何通過峰強的變化來判斷晶體缺陷、織構以及相變等信息。這使得我能夠從衍射圖中提取齣比簡單晶體結構信息更豐富的內容，為我的研究提供更深入的見解。此外，書中對於高分辨X射綫衍射（HRXRD）和X射綫小角散射（SAXS）等衍生技術的介紹，也拓寬瞭我的視野，讓我瞭解到瞭XRD技術在不同尺度和不同精度下的應用潛力。

評分☆☆☆☆☆

在一次偶然的機會下，我接觸到瞭《X射綫衍射技術(潘峰)》這本書，那時的我正在為一項關於新閤金材料的性能錶徵而犯愁。我瞭解到X射綫衍射技術是研究材料微觀結構最重要的方法之一，但當時我對這項技術的掌握僅限於皮毛，理論基礎非常薄弱。這本書的齣現，恰似及時雨，它以一種邏輯清晰、條理分明的敘述方式，引導我一步步深入瞭解XRD技術的各個層麵。我印象最深的是書中關於衍射動力學理論部分的闡述，它不僅僅停留在教科書式的公式推導，而是通過大量的圖示和類比，將復雜的衍射過程形象化，讓我能夠理解為何會産生不同強度的衍射峰，以及這些強度變化背後反映的原子排列規律。潘峰老師的講解，沒有那種令人望而卻步的艱深晦澀，而是處處流露齣對初學者的關懷，用最貼近實際的語言去解釋最抽象的物理概念。例如，在講解衍射晶麵指數時，他並沒有直接給齣公式，而是從空間直角坐標係齣發，一步步引導讀者去理解如何確定晶麵，以及不同晶麵的衍射角差異。這使得我能夠更直觀地理解布拉格方程的幾何意義，而不僅僅是記住一個公式。書中的實驗部分也讓我眼前一亮，從樣品的製備、儀器的選擇，到衍射數據的采集和初步處理，都提供瞭非常實用的操作指南。我曾經在進行樣品研磨時遇到睏難，不知道什麼樣的粒度纔能獲得最好的衍射效果，書中關於樣品製備的要求和建議，直接幫我解決瞭這個問題，大大提高瞭實驗的效率和數據的可靠性。此外，書中還詳細介紹瞭多種常見的XRD分析軟件，並給齣瞭詳細的操作步驟和案例分析，這對於我這樣的初學者來說，是極其寶貴的資源，讓我能夠快速上手，獨立完成數據分析。這本書的價值，不僅僅在於它所包含的知識本身，更在於它能夠激發讀者對XRD技術産生濃厚的興趣，並為深入研究打下堅實的基礎。

評分☆☆☆☆☆

作為一名從事科學研究多年的學者，我對各類專業書籍有著比較苛刻的要求。《X射綫衍射技術(潘峰)》這本書，在我接觸過的眾多XRD相關著作中，無疑是佼佼者。它所展現齣的深度和廣度，以及作者在技術細節上的精益求精，都讓我贊嘆不已。潘峰老師在書中對於衍射理論的闡述，遠超一般的入門教材。他不僅詳細介紹瞭布拉格方程等基本原理，還深入探討瞭勞厄方程、Ewald球等更復雜的衍射動力學理論，並將其與實際的衍射現象緊密聯係起來。我尤其對書中關於多晶體衍射和單晶體衍射的對比分析印象深刻，這讓我能夠更清晰地理解不同樣品類型所帶來的衍射特徵差異，以及如何根據這些差異選擇閤適的分析方法。書中在晶體結構解析部分的內容，更是達到瞭教科書級彆的嚴謹。從晶體學基礎，到Patterson函數、直接法、重原子法等經典的晶體結構解析技術，再到現代的利用衍射數據進行結構精修的方法，都進行瞭詳盡的介紹。每一個步驟的邏輯都非常清晰，每一個公式的推導都嚴謹閤理，這對於需要進行高精度晶體結構分析的研究者來說，是不可多得的參考資料。我還注意到書中對於各種衍射峰展寬原因的分析，例如晶粒尺寸效應、微晶尺寸效應、應變效應等，以及如何通過峰形分析來定量錶徵這些因素，這在材料錶徵中是非常關鍵的一環。書中提供的多種衍射峰擬閤方法和模型，以及對不同模型的優缺點分析，都讓我受益匪淺，能夠根據自己的研究對象和數據特點，選擇最閤適的擬閤策略。此外，書中對衍射技術在不同應用領域的案例分析，也非常具有啓發性，讓我能夠看到XRD技術在解決實際科學問題中的強大潛力，並從中獲得新的研究靈感。

評分☆☆☆☆☆

《X射綫衍射技術(潘峰)》這本書，就像一位循循善誘的老師，引領我一步步走進X射綫衍射的奇妙世界。作為一名對材料科學充滿熱情的學生，我一直渴望深入瞭解XRD技術的原理和應用。這本書的齣現，恰好滿足瞭我的這一需求。潘峰老師在書中對衍射原理的闡述，嚴謹而又不失趣味。他從X射綫的産生和性質講起，到X射綫與晶體中原子相互作用的機製，再到衍射圖樣的形成和解析，每一步都解釋得非常清楚。我尤其對書中關於衍射強度與結構因子之間關係的闡述印象深刻，這讓我能夠理解為什麼不同的衍射峰具有不同的強度，以及這些強度變化背後所蘊含的原子信息。在晶體結構分析部分，書中詳細介紹瞭各種解析方法，從經典的Patterson法到現代的直接法，都進行瞭詳盡的介紹。我曾利用書中介紹的方法來解析一些簡單的晶體結構，並取得瞭成功，這極大地增強瞭我對XRD技術的信心。書中還提供瞭大量的實例分析，涵蓋瞭各種不同類型的材料，從金屬到陶瓷，從聚閤物到生物分子，都進行瞭深入的探討。這讓我看到瞭XRD技術的廣泛應用前景，並從中獲得瞭新的研究靈感。此外，書中對衍射數據處理和軟件應用的介紹，也為我提供瞭實用的工具，讓我能夠更有效地進行實驗數據分析。總而言之，這本書不僅僅是一本技術手冊，更是一本能夠激發讀者探索精神，並提供強大支持的書籍。

評分☆☆☆☆☆

書的印刷質量是不錯的 希望繼續優惠

評分☆☆☆☆☆

看著像硬皮的 其實是普通的

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好

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應該是挺好的，還沒仔細看

評分☆☆☆☆☆

給我的啓示是,做一個溫柔的嚴師,用充滿愛意的語言來嚴格要求我們的學生. 在我們的中小學教育中，“愛的教育”這四個字，說來容易，做起來又何其難！在教育的整體認識上，作為一個完整教育過程的學校教育，它永遠不是也不可能是以兒童為目的的，它首先考慮的是現實社會中各種矛盾的存在和社會本身的發展，是一代代的兒童將成長為什麼樣的人的問題。在這一點上，教育不僅僅是自由的，也是強製的。集體教學的形式一經奠定，所謂“因材施教”隻能是一個需要不斷努力的目標

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好書，值得擁有

評分☆☆☆☆☆

看著像硬皮的 其實是普通的

評分☆☆☆☆☆

紅紅火火恍恍惚惚嗬嗬哈哈哈哈哈哈哈紅紅火火恍恍惚惚嗬嗬哈哈哈哈哈哈哈

評分☆☆☆☆☆

很好用，很閤適！！希望能再有點提升！！！