X射线衍射技术(潘峰) pdf epub mobi txt 电子书 下载 2025

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潘峰，王英华，陈超 编

图书标签:

• X射线衍射
• XRD
• 晶体结构
• 材料分析
• 粉末衍射
• 单晶衍射
• 结构解析
• 材料科学
• 物理学
• 化学

出版社： 化学工业出版社

ISBN：9787122278470

版次：1

商品编码：11973855

包装：平装

开本：16开

出版时间：2016-10-01

用纸：胶版纸

页数：410

字数：656000

正文语种：中文

内容简介

《X射线衍射技术》较为系统地阐述了晶体学基础，X射线与物质作用发生散射与衍射的理论，单晶与多晶材料的X射线衍射原理与实验方法，X射线衍射技术在材料微结构分析方面的应用等。书中反映了近年来X射线衍射领域的新成果，也介绍了非晶态材料、高分子聚合物材料、薄膜材料的衍射技术以及同步辐射技术的应用。
《X射线衍射技术》可作为材料科学与工程类专业本科生的专业教材，也可供相关专业如物理、化学、生物、机械、核能工程等本科生和研究生作教学参考书，对从事X射线衍射工作的科研、测试人员也具有参考价值。

作者简介

潘峰，清华大学材料学院，国际薄膜学会副理事长、中国材料研究学会常务理事、中国晶体学会常务理事、中国真空学会常务理事、科技部“863”计划新材料领域领域专家、"十三五”国家新材料领域发展战略与规划研究召集人，清华大学教授，博士生导师，是国家杰出青年科学基金获得者，国家创新人才推进计划重点领域创新团队负责人。1996年晋升教授。曾任清华大学材料科学与工程研究院副院长、先进材料教育部重点实验室主任、中国真空学会副理事长，现任国际薄膜学会副理事长、中国材料研究学会常务理事、中国晶体学会常务理事、中国真空学会常务理事、科技部“863”计划新材料领域专家、"十三五”国家新材料领域发展战略与规划研究召集人。长期在薄膜材料结构与性能调控技术、声表面波材料与器件、阻变存储材料、磁性材料等方向开展科学研究，曾获得2012年国家自然科学二等奖、2009年国家科技进步二等奖、2007年国家技术发明奖二等奖、1999年国家自然科学三等奖和8项省部级科研成果奖励。授权国家发明专利20余项，国际专利2项。

目录

第1章 绪论
参考文献5
第2章 X射线的基本性质
2.1X射线的本质6
2.1.1X射线的波动性7
2.1.2X射线的粒子性8
2.1.3X射线的一般性质8
2.2X射线的产生9
2.2.1X射线管10
2.2.2X射线仪12
2.3X射线谱13
2.3.1连续X射线谱13
2.3.2特征X射线谱15
2.4X射线与物质的相互作用18
2.4.1X射线的吸收19
2.4.2X射线的减弱规律20
2.4.3吸收限的应用22
2.5X射线的探测与防护24
2.5.1X射线的探测24
2.5.2X射线的防护25
思考与练习题25
参考文献26
第3章 晶体学基础
3.1晶体结构与空间点阵27
3.1.1晶体结构概述27
3.1.2空间点阵28
3.1.3阵矢30
3.1.4阵胞31
3.1.5空间点阵的种类32
3.1.6晶胞与晶体结构35
3.2晶面和晶向指数37
3.2.1阵胞中的点37
3.2.2阵胞内的直线38
3.2.3阵胞中的平面39
3.2.4晶胞内的等价点、晶向和晶面40
3.2.5六方晶系中的晶面指数40
3.2.6晶面间距43
3.3晶体中的对称操作与对称元素43
3.3.1宏观对称操作与对称元素44
3.3.2微观对称操作与对称元素48
3.4点群与空间群51
3.4.1点群的概念51
3.4.2点群符号52
3.4.3空间群的概念与符号56
3.4.4空间群图表简介57
3.5晶体的投影58
3.5.1球面投影59
3.5.2极射投影60
3.5.3吴氏网与标准投影61
3.6倒易点阵70
3.6.1倒易点阵的概念70
3.6.2倒易点阵与正点阵之间的倒易关系72
3.6.3利用倒易矢量计算晶面间距与晶面夹角75
3.6.4晶带与倒易面77
思考与练习题79
参考文献82
第4章 X射线的散射、干涉与衍射
4.1单个电子对X射线的散射83
4.1.1相干散射83
4.1.2非相干散射87
4.2散射线的干涉88
4.2.1相位差与散射矢量88
4.2.2合成振幅与强度89
4.3单个原子对X射线的散射92
4.3.1单电子原子的散射93
4.3.2多电子原子的散射94
4.4原子群体的散射97
4.4.1散射振幅与强度97
4.4.2多原子气体与“粉尘”的散射98
4.5晶体的衍射101
4.5.1晶胞对X射线的散射102
4.5.2小晶体的衍射103
4.6X射线的衍射方向106
4.6.1干涉方程107
4.6.2布拉格定律107
4.6.3厄瓦尔德图解109
4.7结构因子与消光条件111
4.7.1点阵消光与结构消光111
4.7.2点阵消光条件112
4.7.3结构消光条件113
4.7.4加权倒易点阵114
4.8获得衍射线的方法概述116
4.8.1连续谱X射线117
4.8.2转动晶体法117
4.8.3发散X射线束118
4.8.4粉末多晶法119
思考与练习题120
参考文献121
第5章 衍射线的强度分析
5.1晶体的嵌镶块结构122
5.2实际小晶体的衍射积分强度123
5.3多晶体的衍射线强度126
5.4影响衍射强度的因素128
5.4.1洛伦兹因子128
5.4.2吸收因子128
5.4.3多重因子132
5.4.4温度因子133
5.4.5晶体结构的影响134
5.4.6消光的影响135
5.4.7粉末多晶法的积分强度与相对强度136
5.5衍射强度的计算实例137
5.5.1列表计算衍射线的相对强度137
5.5.2利用计算机计算衍射线的相对强度138
思考与练习题141
参考文献141
第6章 多晶体衍射信息的获取方法
6.1德拜法142
6.1.1德拜法原理142
6.1.2德拜相机144
6.1.3德拜照片的计算与标定145
6.1.4其他照相方法148
6.2衍射仪法150
6.2.1测角仪151
6.2.2探测器153
6.2.3控制和数据处理系统158
6.2.4晶体单色器160
6.2.5衍射仪161
6.3衍射图样的获得164
6.3.1试样制备要求164
6.3.2衍射全图的获得165
6.3.3单峰测试166
6.4衍射信息的获取167
6.4.1衍射线的线位167
6.4.2衍射线的强度169
6.4.3衍射线的宽度170
6.5衍射线的线形分析172
6.5.1实测线形与真实线形172
6.5.2Kα双线的分离173
6.5.3吸收、温度和角因子的校正178
6.5.4仪器因数的校正180
思考与练习题186
参考文献187
第7章 单晶体衍射信息的获取方法
7.1劳厄法188
7.1.1劳厄法照相188
7.1.2劳厄照片的特征190
7.2劳厄法的应用191
7.2.1单晶取向的测定191
7.2.2透射劳厄法测定单晶取向193
7.2.3背射劳厄法测定单晶取向195
7.2.4单晶体的定向切割198
7.2.5塑性变形的研究200
7.3四圆单晶衍射仪法203
7.3.1四圆单晶衍射仪简介203
7.3.2四圆单晶衍射仪的晶体结构分析过程205
7.3.3四圆单晶衍射仪的衍射几何205
7.3.4衍射几何转换矩阵207
7.4二维面探测器210
思考与练习题212
参考文献212
第8章 物相分析
8.1定性相分析213
8.1.1PDF卡片214
8.1.2PDF检索215
8.1.3定性相分析方法217
8.2定量相分析221
8.2.1外标法222
8.2.2内标法223
8.2.3自标法225
8.2.4其他方法举例229
8.3衍射全谱拟合法与Rietveld结构精修229
8.3.1全谱拟合的原理230
8.3.2Rietveld方法中的拟合函数232
8.3.3Rietveld结构精修步骤234
8.3.4Rietveld定量相分析方法235
思考与练习题237
参考文献237
第9章 点阵常数的精确测定
9.1基本原理238
9.2衍射仪法的主要误差240
9.2.1测角仪引起的误差240
9.2.2试样引起的误差242
9.2.3其他误差243
9.3外推法消除系统误差244
9.3.1外推法原理244
9.3.2外推函数的选择245
9.3.3外推判据246
9.3.4柯亨最小二乘法248
思考与练习题249
参考文献249
第10章 宏观应力的测定
10.1基本原理250
10.1.1应力-应变关系250
10.1.2X射线衍射方法测定应力的原理252
10.1.3表面应力状态的确定254
10.1.4用X射线衍射方法测定应力的特点254
10.2衍射仪法测定宏观应力256
10.2.1基本方法257
10.2.2半聚焦法测应力258
10.2.3平行光束法测应力258
10.2.4边倾斜法测应力259
10.2.5应力测试实例260
思考与练习题261
参考文献261
第11章 微晶尺寸与微观应力的测定
11.1微晶尺寸的测定262
11.1.1微晶引起的宽化效应262
11.1.2微晶尺寸的计算263
11.1.3微晶尺寸的确定264
11.2微观应力的测定266
11.2.1微观应力的倒易空间描述267
11.2.2微观应力的计算268
11.2.3微观应力的测定实例269
11.3微晶宽化和微观应力宽化的分离269
11.3.1近似函数法270
11.3.2傅里叶分析法272
11.3.3方差分解法277
思考与练习题278
参考文献278
第12章 织构的测定
12.1织构及其表示方法279
12.1.1织构与织构的分类279
12.1.2织构的表示方法281
12.2正极图的获得286
12.2.1照相法测正极图286
12.2.2衍射仪法测正极图289
12.3反极图的获得与分析297
12.3.1反极图的获得297
12.3.2反极图数据的归一化处理300
12.3.3各向异性的计算303
12.4极分布图的测定305
12.4.1极分布图305
12.4.2极分布图的测定305
12.4.3回摆曲线的测定307
思考与练习题307
参考文献308
第13章 薄膜材料分析
13.1概述309
13.2薄膜分析中的常用X射线方法310
13.2.1常规粉末衍射法310
13.2.2掠入射X射线衍射310
13.2.3小角X射线散射312
13.2.4双晶衍射仪313
13.3掠入射X射线衍射313
13.3.1掠入射X射线衍射全反射314
13.3.2多层膜结构对X射线的反射317
13.3.3薄膜性质对X射线反射率的影响318
13.3.4X射线反射测定薄膜厚度321
13.4薄膜生长取向的测定322
13.4.1Φ扫描322
13.4.2薄膜材料中极图的测定323
思考与练习题324
参考文献325
第14章 高分子材料分析
14.1高分子材料概述326
14.1.1高分子晶体的特点326
14.1.2高分子链段的组成及其堆砌结构328
14.1.3高分子聚合物晶体结构模型329
14.2高分子聚合物结晶度的测定331
14.2.1基本原理331
14.2.2作图法331
14.2.3Ruland法333
14.2.4拟合分峰法335
14.2.5回归线法337
14.3高分子材料的小角X射线散射338
14.3.1基本原理339
14.3.2小角散射强度公式340
14.3.3小角散射的实验技术与方法348
14.3.4Guinier作图法352
思考与练习题353
参考文献353
第15章 非晶材料分析
15.1非晶态及其结构描述354
15.1.1非晶态354
15.1.2径向分布函数356
15.2单原子系统的径向分布函数357
15.2.1原子径向分布函数的表达式357
15.2.2液体钠的径向分布函数359
15.3多元非晶系统的径向分布函数360
15.3.1径向分布函数的有效电子密度表示法360
15.3.2多元系统的全径向分布函数与偏径向分布函数362
15.4径向分布函数实验数据的处理366
15.4.1实验数据的获得366
15.4.2实验数据的处理367
15.4.3径向分布函数的获得370
15.5测试实例371
15.5.1Gd�睩e系的径向分布函数371
15.5.2炭黑的径向分布函数372
思考与练习题374
参考文献374
第16章 同步辐射的应用
16.1同步辐射X射线源375
16.1.1同步辐射概述375
16.1.2同步辐射光源的发展过程377
16.1.3同步辐射装置的现状378
16.2X射线吸收精细结构379
16.2.1XAFS基本原理379
16.2.2近边谱(XANES)381
16.2.3扩展谱(EXAFS)384
思考与练习题386
参考文献387
附录
1.国际相对原子质量表388
2.晶体结构资料389
3.某些化合物和固溶体的晶体结构392
4.某些元素的特征谱与吸收限波长393
5.钨的特征L谱线394
6. Kα双线分离度(θα2-θα1)395
7.质量吸收系数和密度397
8.原子散射因子f399
9.原子散射因子在吸收限近旁的减小值Δf402
10.洛伦兹-偏振因子1+cos22θ/sin2θcosθ402
11.德拜-瓦洛温度因子e-(Bsin2θ)/λ2405
12.米勒指数的二次式405
13.晶面间距与点阵参数的关系406
14.常用矢量关系与有关公式的证明407
15.高聚物结晶度计算公式反校正因子408
16.聚芳醚酮类聚合物(PAEKs)结晶度计算公式410

前言/序言

利用X射线衍射对材料进行分析，是人们认识物质微观结构的重要途径和权威方法之一。自1912年劳厄发现晶体X射线衍射以来，X射线已被迅速用于单晶材料与多晶材料的结构分析之中。近年来，随着认识的深入、设备的发展和分析技术的进步，X射线衍射技术被广泛应用于材料微结构分析的各个方面，如物相分析，点阵参数测定，宏观残余应力、微观应力与微晶尺寸的测定，织构表征，高分子与非晶物质的分析，薄膜、纤维等低维材料的分析等，为X射线衍射技术增添了更为强大的生命力，使其在材料科学、物理、化学、生物、制药、信息等领域发挥着不可替代的作用。
本书从X射线衍射技术的应用原理出发，介绍了X射线技术的发展历程与X射线的基本性质以及X射线衍射的晶体学基础，详细阐述了X射线与物质作用发生散射的相关理论，进而推导出X射线衍射的理论强度，并基于作者及其合作者多年来在教学与研究工作中的认识与体会，分章节介绍了X射线衍射技术在实际材料分析过程中的应用原理与实例，以期对读者掌握X射线衍射技术的相关理论、从事相关的分析工作有所帮助。
全书共16章。第1章为绪论，介绍X射线衍射技术的发展历程与应用背景；第2章为X射线的基本性质，包括X射线的波粒二象性、X射线的产生和谱学特性以及与物质的相互作用等；第3章为晶体学基础，为探讨X射线在晶体中的衍射现象提供基本的晶体学知识；第4章为X射线的散射、干涉与衍射，为整个X射线衍射的核心理论基础，详细阐述了X射线与物质发生相互作用时的散射强度与方向，推导出干涉方程、布拉格定律以及点阵消光规律；第5章为衍射线的强度分析，包括实际小晶体和多晶体衍射强度的分析以及实际实验中影响衍射强度的因素；第6章为多晶体衍射信息的获取方法，包括早期应用的德拜法的分析原理与过程，后续发展并广泛应用的衍射仪的原理与构造，多晶衍射的制样和测试过程，以及衍射信息的处理与校正；第7章为单晶体衍射信息的获取方法，阐述了劳厄法获取单晶衍射信息的原理、过程与应用，并结合技术的发展，介绍了用于单晶衍射分析的四圆单晶衍射仪以及二维面探测器；第8章为物相分析，介绍了定性相分析、定量相分析以及计算机进行全谱拟合和结构精修的原理与过程；第9章为点阵常数的测定，阐明了点阵常数测定的基本原理，并讨论了衍射仪法的误差来源与消除方法；第10章为宏观应力的测定，分析了宏观应力的测试原理和衍射仪法测试的过程；第11章为微晶尺寸与微观应力的测定，包含测定微晶尺寸和微观应力的方法以及二者对衍射线贡献的分离方法；第12章为织构的测定，介绍了织构的表征方式与测试过程；第13章为薄膜材料分析，介绍了针对薄膜样品所发展出来的一系列测试方法；第14章为高分子材料分析，分析了X射线衍射技术在高分子材料结构分析中的应用；第15章为非晶材料分析，介绍了非晶材料X射线散射分析的原理与过程；第16章为同步辐射的应用，以实际研究为例，介绍了同步辐射技术在材料分析中的应用。
本书的撰写得到了国内材料科学许多专家学者的参与和支持，其中包括清华大学曾飞副教授、宋成副教授、刘雪静博士。此外，须感谢王英华先生等编著的《X光衍射技术基础》一书为本书的编著提供了诸多参考，同时也要感谢清华大学材料科学与工程研究院中心实验室的陶琨先生、苗伟副教授为本书提供了不少的素材与数据，给予我们很大的支持。刘雪静博士、博士生李凡等为本书的审稿和编辑做出重大贡献。
本书介绍的部分研究成果是作者及其合作者在“973”计划、“863”计划、国家自然科学基金、教育部重大项目、清华大学教改项目的大力支持下完成的。作者在此谨向所有给予支持的学者、朋友致以诚挚的感谢。
由于对内容的理解有限，书中难免有不妥之处，恳请读者批评指正。

编者
2016年6月

X射线衍射技术 (潘峰) 书籍简介 本书深入探讨了X射线衍射（XRD）技术在材料科学、化学、物理学、地质学、生物学等众多领域的核心应用与理论基础。通过严谨而清晰的论述，本书旨在为读者构建一个全面而深入的XRD知识体系，使其能够熟练掌握X射线衍射仪的原理、操作方法，并能准确解读衍射图谱，从而解决实际科学研究和工程应用中的问题。 核心内容概述 X射线的产生与性质： 书籍首先会详细介绍X射线的产生机制，包括X射线管的工作原理、不同类型X射线的特性（如波长、能量），以及X射线与物质相互作用的基本方式，为后续的衍射现象奠定理论基础。 晶体结构与衍射原理： 本部分将详细阐述晶体的周期性结构是X射线衍射现象的根本原因。内容将涵盖布拉格方程（Bragg's Law）的推导及其在解释衍射现象中的关键作用，并深入讲解衍射角、晶面间距、倒空间等概念。此外，还会介绍不同晶系的特点以及如何通过衍射数据推断晶体结构。 X射线衍射仪的工作原理与构造： 书籍将详细解析现代X射线衍射仪的各个组成部分，包括X射线源、样品台、探测器、测角仪等，并阐述它们各自的功能和工作流程。读者将了解不同类型的衍射仪（如粉末衍射仪、单晶衍射仪）的特点及适用范围。 样品制备与实验操作： 准确的实验结果离不开高质量的样品制备。本书将提供关于粉末样品、薄膜样品、单晶样品等不同类型样品制备的详细指导，并介绍X射线衍射实验的标准操作流程，包括仪器参数的选择、样品放置、数据采集等关键步骤。 衍射图谱的解析与应用： 这是本书的核心重点之一。读者将学习如何系统地分析X射线衍射图谱，包括识别衍射峰的位置、强度、宽度等信息。内容将涵盖： 定性分析： 如何通过与标准数据库（如JCPDS/ICDD）的比对，准确识别样品中的物相组成。 定量分析： 如何根据衍射峰的强度比例，计算样品中各物相的含量。 晶体结构分析： 如何从衍射数据中确定晶胞参数、空间群，并进行晶体结构解析（尤其针对单晶衍射）。 其他结构参数的测定： 包括晶粒尺寸、微应变、择优取向（织构）、堆积层错、残余应力等重要参数的计算方法及其物理意义。 X射线衍射技术的特定应用： 书籍将重点介绍XRD在不同领域的具体应用案例，例如： 材料科学： 研究金属合金、陶瓷、聚合物、纳米材料等的相结构、相变过程、力学性能与结构的关系。 化学： 鉴定有机、无机化合物，研究催化剂、药物的晶体结构和物相变化。 地质学与矿物学： 分析岩石、矿物的组成和结构，研究地质过程。 生物学与医学： 确定生物大分子（如蛋白质、DNA）的三维结构，研究生物矿化。 工业应用： 质量控制、失效分析、新材料开发等。 高级XRD技术与前沿进展： 本部分将简要介绍一些更高级的XRD技术，如同步辐射X射线衍射、中子衍射、x射线散射（SAXS/WAXS）、高温/低温/高压原位XRD等，并展望XRD技术未来的发展趋势和在新兴领域的应用前景。 本书特色 本书力求理论与实践相结合，既有对基础原理的深刻阐释，又不乏具体的实验操作指南和图谱解析案例。清晰的逻辑结构、丰富的图表配合，以及对常见问题和难点的深入剖析，将帮助读者逐步掌握X射线衍射技术的精髓，成为一名熟练的XRD使用者。无论您是初学者还是有一定基础的研究者，本书都将是您在X射线衍射领域深入探索的宝贵参考。

评分☆☆☆☆☆

作为一名从事科学研究多年的学者，我对各类专业书籍有着比较苛刻的要求。《X射线衍射技术(潘峰)》这本书，在我接触过的众多XRD相关著作中，无疑是佼佼者。它所展现出的深度和广度，以及作者在技术细节上的精益求精，都让我赞叹不已。潘峰老师在书中对于衍射理论的阐述，远超一般的入门教材。他不仅详细介绍了布拉格方程等基本原理，还深入探讨了劳厄方程、Ewald球等更复杂的衍射动力学理论，并将其与实际的衍射现象紧密联系起来。我尤其对书中关于多晶体衍射和单晶体衍射的对比分析印象深刻，这让我能够更清晰地理解不同样品类型所带来的衍射特征差异，以及如何根据这些差异选择合适的分析方法。书中在晶体结构解析部分的内容，更是达到了教科书级别的严谨。从晶体学基础，到Patterson函数、直接法、重原子法等经典的晶体结构解析技术，再到现代的利用衍射数据进行结构精修的方法，都进行了详尽的介绍。每一个步骤的逻辑都非常清晰，每一个公式的推导都严谨合理，这对于需要进行高精度晶体结构分析的研究者来说，是不可多得的参考资料。我还注意到书中对于各种衍射峰展宽原因的分析，例如晶粒尺寸效应、微晶尺寸效应、应变效应等，以及如何通过峰形分析来定量表征这些因素，这在材料表征中是非常关键的一环。书中提供的多种衍射峰拟合方法和模型，以及对不同模型的优缺点分析，都让我受益匪浅，能够根据自己的研究对象和数据特点，选择最合适的拟合策略。此外，书中对衍射技术在不同应用领域的案例分析，也非常具有启发性，让我能够看到XRD技术在解决实际科学问题中的强大潜力，并从中获得新的研究灵感。

评分☆☆☆☆☆

《X射线衍射技术(潘峰)》这本书，就像一位循循善诱的老师，引领我一步步走进X射线衍射的奇妙世界。作为一名对材料科学充满热情的学生，我一直渴望深入了解XRD技术的原理和应用。这本书的出现，恰好满足了我的这一需求。潘峰老师在书中对衍射原理的阐述，严谨而又不失趣味。他从X射线的产生和性质讲起，到X射线与晶体中原子相互作用的机制，再到衍射图样的形成和解析，每一步都解释得非常清楚。我尤其对书中关于衍射强度与结构因子之间关系的阐述印象深刻，这让我能够理解为什么不同的衍射峰具有不同的强度，以及这些强度变化背后所蕴含的原子信息。在晶体结构分析部分，书中详细介绍了各种解析方法，从经典的Patterson法到现代的直接法，都进行了详尽的介绍。我曾利用书中介绍的方法来解析一些简单的晶体结构，并取得了成功，这极大地增强了我对XRD技术的信心。书中还提供了大量的实例分析，涵盖了各种不同类型的材料，从金属到陶瓷，从聚合物到生物分子，都进行了深入的探讨。这让我看到了XRD技术的广泛应用前景，并从中获得了新的研究灵感。此外，书中对衍射数据处理和软件应用的介绍，也为我提供了实用的工具，让我能够更有效地进行实验数据分析。总而言之，这本书不仅仅是一本技术手册，更是一本能够激发读者探索精神，并提供强大支持的书籍。

评分☆☆☆☆☆

阅读《X射线衍射技术(潘峰)》这本书，让我体验到一种从“知其然而不知其所以然”到“知其然更知其所以然”的飞跃。我曾经在实验室里操作过XRD仪器，也见过衍射图谱，但对于背后复杂的物理原理，却一直感到模糊。这本书以一种非常独特的方式，将抽象的物理概念与生动的实际应用相结合，为我揭示了X射线衍射技术的奥秘。潘峰老师在书中对衍射原理的讲解，层次分明，深入浅出。他从X射线的产生、性质讲起，到X射线与晶体中原子相互作用的机制，再到衍射图样的形成和解析，每一步都解释得非常清楚。我尤其对书中关于结构因子和原子因子之间关系的阐述印象深刻，这让我能够理解为什么不同的衍射峰具有不同的强度，以及这些强度变化背后所蕴含的原子信息。在晶体结构分析部分，书中详细介绍了各种解析方法，从经典的Patterson法到现代的直接法，都进行了详尽的介绍。我曾利用书中介绍的方法来解析一些简单的晶体结构，并取得了成功，这极大地增强了我对XRD技术的信心。书中还提供了大量的实例分析，涵盖了各种不同类型的材料，从金属到陶瓷，从聚合物到生物分子，都进行了深入的探讨。这让我看到了XRD技术的广泛应用前景，并从中获得了新的研究灵感。此外，书中对衍射数据处理和软件应用的介绍，也为我提供了实用的工具，让我能够更有效地进行实验数据分析。总而言之，这本书不仅仅是一本技术手册，更是一本能够激发读者探索精神，并提供强大支持的书籍。

评分☆☆☆☆☆

这部《X射线衍射技术(潘峰)》的书，我拿到手的时候，就有一种沉甸甸的期待感。我是一名材料学领域的初学者，一直对材料的晶体结构和微观性质充满了好奇，而X射线衍射（XRD）正是探索这些奥秘的钥匙。拿到这本书，我首先被其厚重的篇幅和严谨的排版所吸引。翻开第一页，潘峰老师的序言就如同一位经验丰富的向导，为我描绘了XRD技术的宏大图景及其在现代科学研究中的重要地位。他深入浅出地阐述了XRD的基本原理，从布拉格定律的优雅推导，到衍射花样背后蕴含的丰富信息，都以一种清晰易懂的方式呈现。我尤其欣赏书中对于衍射峰的解析部分的详述，不同晶系、不同取向的晶体如何产生独特的衍射图谱，以及如何通过这些图谱反推出晶体结构参数，例如晶格常数、晶粒尺寸、晶体缺陷等等，这些内容都让我受益匪浅。书中列举的案例也十分丰富，涵盖了金属材料、陶瓷材料、高分子材料甚至生物材料等多个领域，让我看到了XRD技术的普适性和强大生命力。当我遇到自己研究中遇到的某个材料样品，不知道如何着手分析时，这本书就像一个宝库，总能提供我所需的理论指导和实践思路。书中关于衍射仪器的介绍也十分到位，从不同类型仪器的原理、构造到操作注意事项，都做了细致的讲解，这对于我这样需要上手操作的实验者来说，无疑是雪中送炭。我曾花了好几个小时去理解不同探测器的工作原理，书中对此的详细描述，比我在网上零散查找的信息要系统和权威得多。此外，书中对数据处理和软件应用的部分也给予了足够的篇幅，各种拟合算法、晶体结构数据库的使用技巧，都为我解决实际问题提供了强大的支持。总而言之，这本书不仅仅是一本技术手册，更是一部引导读者深入理解XRD精髓的学术著作，它为我铺就了一条通往晶体学世界的清晰道路。

评分☆☆☆☆☆

初识《X射线衍射技术(潘峰)》这本书，是在一个深夜的图书馆里。当时我正为一篇关于纳米材料表征的论文而苦思冥想，其中涉及到大量的XRD数据处理和解释。这本书以其详尽的内容和深入的分析，很快吸引了我。潘峰老师在书中对于衍射理论的讲解，不仅仅局限于理论公式的罗列，而是更注重其物理意义和实际应用。例如，在讲解衍射矢量和倒易空间的概念时，他用形象的比喻和图示，将抽象的空间几何转化为直观的物理过程，让我能够轻松理解晶体结构与倒易空间之间的对应关系。我尤其对书中关于衍射峰宽化机制的详细分析印象深刻，包括微晶尺寸、晶格畸变、应力等多种因素对衍射峰宽的影响，以及如何通过谢乐公式、沃伦公式等进行定量分析。这对于我理解和解释纳米材料的衍射峰展宽现象至关重要。书中还详细介绍了各种衍射数据处理软件的应用，并提供了丰富的案例分析，让我能够快速掌握如何从原始衍射数据中提取出有用的信息，例如晶粒尺寸、微晶尺寸、微应力、择优取向等。我曾花费大量时间去摸索某个软件的功能，而这本书中的介绍，往往能够直击要害，帮助我事半功倍。书中对衍射技术在不同材料体系中的应用，如高分子材料、薄膜材料、生物材料等，都进行了详细的阐述，这让我看到了XRD技术的广泛应用前景，并从中获得了启发。总而言之，这本书不仅仅是一本技术指南，更是一本能够激发读者探索精神，并提供强大工具的书籍，它为我的研究提供了坚实的支持。

评分☆☆☆☆☆

在一次偶然的机会下，我接触到了《X射线衍射技术(潘峰)》这本书，那时的我正在为一项关于新合金材料的性能表征而犯愁。我了解到X射线衍射技术是研究材料微观结构最重要的方法之一，但当时我对这项技术的掌握仅限于皮毛，理论基础非常薄弱。这本书的出现，恰似及时雨，它以一种逻辑清晰、条理分明的叙述方式，引导我一步步深入了解XRD技术的各个层面。我印象最深的是书中关于衍射动力学理论部分的阐述，它不仅仅停留在教科书式的公式推导，而是通过大量的图示和类比，将复杂的衍射过程形象化，让我能够理解为何会产生不同强度的衍射峰，以及这些强度变化背后反映的原子排列规律。潘峰老师的讲解，没有那种令人望而却步的艰深晦涩，而是处处流露出对初学者的关怀，用最贴近实际的语言去解释最抽象的物理概念。例如，在讲解衍射晶面指数时，他并没有直接给出公式，而是从空间直角坐标系出发，一步步引导读者去理解如何确定晶面，以及不同晶面的衍射角差异。这使得我能够更直观地理解布拉格方程的几何意义，而不仅仅是记住一个公式。书中的实验部分也让我眼前一亮，从样品的制备、仪器的选择，到衍射数据的采集和初步处理，都提供了非常实用的操作指南。我曾经在进行样品研磨时遇到困难，不知道什么样的粒度才能获得最好的衍射效果，书中关于样品制备的要求和建议，直接帮我解决了这个问题，大大提高了实验的效率和数据的可靠性。此外，书中还详细介绍了多种常见的XRD分析软件，并给出了详细的操作步骤和案例分析，这对于我这样的初学者来说，是极其宝贵的资源，让我能够快速上手，独立完成数据分析。这本书的价值，不仅仅在于它所包含的知识本身，更在于它能够激发读者对XRD技术产生浓厚的兴趣，并为深入研究打下坚实的基础。

评分☆☆☆☆☆

接触《X射线衍射技术(潘峰)》这本书，是我在材料分析领域探索过程中的一个重要转折点。在此之前，我对X射线衍射技术的理解，停留在比较表面的层面，例如知道它可以用来识别材料的晶体结构，但对于其背后的原理和详细操作，却知之甚少。这本书以其系统性、全面性和前瞻性，极大地提升了我对XRD技术的认知水平。潘峰老师在书中对衍射原理的阐述，非常到位。他从X射线的产生机制出发，逐步深入到X射线与晶体的相互作用，再到衍射图样的形成和解析，逻辑清晰，层层递进。我尤其对书中关于衍射动力学理论的介绍印象深刻，这让我能够理解在复杂情况下，衍射峰的强度和形状会发生怎样的变化，以及如何从中提取有用的信息。书中在晶体结构分析部分的内容，让我受益匪浅。从晶系和空间群的确定，到各种衍射数据处理和结构精修技术，都进行了详细的介绍。我曾尝试利用书中介绍的软件工具来解析一些陌生的材料衍射图谱，并取得了成功，这让我对XRD技术在未知材料结构解析方面的强大能力有了切身的体会。此外，书中对衍射技术在不同应用领域的广泛介绍，也拓宽了我的视野。从材料科学到地质学，从生物学到药物研发，XRD技术都展现出了其不可替代的重要性。我对书中关于高分辨XRD和X射线成像等前沿技术的介绍尤为感兴趣，这让我看到了XRD技术未来的发展方向。这本书不仅仅是知识的传授，更是一种思维的引导，它让我能够以更科学、更严谨的态度去对待材料分析工作。

评分☆☆☆☆☆

在我的学术生涯中，有几本书籍对我产生了深远的影响，《X射线衍射技术(潘峰)》无疑是其中之一。这本书的独特之处在于，它并没有将X射线衍射技术视为一个孤立的研究领域，而是将其置于材料科学、物理学、化学等多个学科的交叉点上进行解读。潘峰老师在书中对于衍射原理的阐述，从基础的X射线产生和探测，到复杂的衍射现象和理论模型，都进行了系统而深入的介绍。我尤其对书中关于结构因子和原子因子相互作用的讲解印象深刻，这让我能够更深刻地理解衍射强度与晶体内部原子排列之间的关系。书中在晶体结构分析部分的内容，堪称经典。从晶系分类、空间群确定，到各种晶体结构解析方法的介绍，都具有极高的学术价值。我曾花了很多时间去理解如何利用Patterson函数和直接法来解析未知晶体结构，书中详细的推导过程和实例分析，为我提供了宝贵的指导。此外，书中对于衍射技术在各种材料研究中的应用案例，也十分丰富。从金属合金的相分析，到陶瓷材料的晶体结构鉴定，再到高分子材料的结晶度分析，都进行了深入的探讨。这让我能够看到XRD技术在解决实际科学问题中的强大能力。我还注意到书中对衍射数据质量控制的重视，从样品制备到仪器参数的优化，都给出了详细的建议，这对于保证实验结果的准确性和可靠性至关重要。这本书不仅是我学习XRD技术的入门指南，更是我进行深入研究的宝贵参考资料，它为我打开了通往微观世界的大门。

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这本书《X射线衍射技术(潘峰)》给我带来的，不仅仅是知识的增添，更是一种思维方式的启迪。作者潘峰先生在书中，以一种非常独特的方式，将抽象的物理概念与生动的实际应用相结合。我一直对晶体学感到好奇，但却苦于找不到一本既有深度又不至于过于枯燥的书籍。这本书恰好满足了我的需求。书中关于X射线与晶体相互作用的物理机制的讲解，让我对衍射现象有了更深刻的理解。它不仅仅停留在布拉格方程的层面，而是深入到X射线的波动性和粒子性，以及其与晶体中电子云的相互作用。我尤其对书中关于衍射强度与结构因子之间关系的阐述印象深刻，这让我能够理解为什么不同的衍射峰具有不同的强度，以及这些强度变化背后所蕴含的原子信息。在晶体结构分析的部分，书中详细介绍了各种解析方法，从传统的Patterson法到现代的直接法，都进行了详尽的介绍。我曾尝试利用书中介绍的方法来解析一些简单的晶体结构，并取得了成功，这极大地增强了我对XRD技术的信心。书中还提供了大量的实例分析，涵盖了各种不同类型的材料，从金属到陶瓷，从聚合物到生物分子，都进行了深入的探讨。这让我看到了XRD技术的广泛应用前景，并从中获得了新的研究灵感。此外，书中对衍射数据处理和软件应用的介绍，也为我提供了实用的工具，让我能够更有效地进行实验数据分析。总而言之，这本书不仅仅是一本技术手册，更是一本能够激发读者探索精神，并提供强大支持的书籍。

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我曾花了很多时间和精力去学习X射线衍射技术，但总感觉理论与实践之间存在一道鸿沟。《X射线衍射技术(潘峰)》这本书，以其独特的视角和深刻的洞察力，有效地弥合了这一差距。这本书并没有将XRD技术简单地视为一种测量工具，而是将其置于更广阔的科学背景下进行解读。潘峰老师在开篇就阐述了X射线与物质相互作用的基本原理，从X射线的产生、性质，到其与晶体中电子云的相互作用，都进行了非常细致的讲解。这使得我对XRD的理解不再停留在“输入X射线，输出衍射图”的层面，而是能够深入到其微观物理机制。书中关于衍射强度与原子因子、结构因子、洛伦兹因子等参数的关系，都进行了深入的剖析，这让我能够理解为何某些衍射峰会比其他峰更强，以及这些强度变化背后所蕴含的原子位置和电子密度信息。我特别欣赏书中关于衍射数据质量控制部分的讨论，它指出了在实验过程中可能出现的各种误差来源，例如样品制备不当、仪器稳定性问题、计数统计误差等，并给出了相应的解决方案。这对于我来说，是极其宝贵的经验，让我能够避免在实验中走弯路，提高实验数据的可靠性。书中在衍射图谱解析部分，不仅仅是介绍如何识别峰位，还深入探讨了如何通过峰强的变化来判断晶体缺陷、织构以及相变等信息。这使得我能够从衍射图中提取出比简单晶体结构信息更丰富的内容，为我的研究提供更深入的见解。此外，书中对于高分辨X射线衍射（HRXRD）和X射线小角散射（SAXS）等衍生技术的介绍，也拓宽了我的视野，让我了解到了XRD技术在不同尺度和不同精度下的应用潜力。

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还行还行好像还行

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好

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应该是挺好的，还没仔细看

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书的印刷质量是不错的 希望继续优惠

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红红火火恍恍惚惚呵呵哈哈哈哈哈哈哈红红火火恍恍惚惚呵呵哈哈哈哈哈哈哈

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书质量不错，快递也给力！！

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还不错吧，经常在京东买书

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不错的专业书，我受益匪浅

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好书啊