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基本信息
书名:半导体材料标准汇编(2014版) 基础、产品和管理标准分册
定价:230.00元
作者:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料
出版社:中国标准出版社
出版日期:2014-11-01
ISBN:9787506677516
字数:
页码:
版次:1
装帧:平装
开本:大16开
商品重量:0.4kg
编辑推荐
内容提要
半导体材料是指介于金属和绝缘体之间的电导率为10-3Ω·cm~108Ω·cm的一种具有极大影响力的功能材料,广泛应用于制作晶体管、集成电路、电力电子器件、光电子器件等领域,支撑着通信、计算机、信息家电、网络技术、国防军工以及近年来兴起的光伏、LED等行业的发展。半导体材料及其应用已成为现代社会各个领域的核心和基础。
目录
一、基础标准
GB/T 8756-1988 锗晶体缺陷图谱
GB/T 13389-1992 掺硼掺磷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算规程
GB/T 14264-2009 半导体材料术语
GB/T 14844-1993 半导体材料牌号表示方法
GB/T 16595-1996 晶片通用网格规范
GB/T 16596-1996 确定晶片坐标系规范
GB/T 30453-2013 硅材料原生缺陷图谱
YS/T 28-1992 硅片包装
二、产品标准
GB/T 5238-2009 锗单晶和锗单晶片
GB/T 10117-2009 高纯锑
GB/T 10118-2009 高纯镓
GB/T 11069-2006 高纯二氧化锗
GB/T 11070-2006 还原锗锭
GB/T 11071-2006 区熔锗锭
GB/T 11072-2009 锑化铟多晶、单晶及切割片
GB/T 11093-2007 液封直拉法砷化镓单晶及切割片
GB/T 11094-2007 水平法砷化镓单晶及切割片
GB/T 12962-2005 硅单晶
GB/T 12963-2009 硅多晶
GB/T 12964-2003 硅单晶抛光片
GB/T 12965-2005 硅单晶切割片和研磨片
GB/T 14139-2009 硅外延片
GB/T 20228-2006 砷化镓单晶
GB/T 20229-2006 磷化镓单晶
GB/T 20230-2006 磷化铟单晶
GB/T 25074-2010 太阳能级多晶硅
GB/T 25075-2010 太阳能电池用砷化镓单晶
GB/T 25076-2010 太阳电池用硅单晶
GB/T 26065-2010 硅单晶抛光试验片规范
GB/T 26069-2010 硅退火片规范
GB/T 26071-2010 太阳能电池用硅单晶切割片
GB/T 26072-2010 太阳能电池用锗单晶
GB/T 29054-2012 太阳能级铸造多晶硅块
GB/T 29055-2012 太阳电池用多晶硅片
GB/T 29504-2013 300mm硅单晶
GB/T 29506-2013 300mm硅单晶抛光片
GB/T 29508-2013 300mm硅单晶切割片和磨削片
GB/T 30854-2014 LED发光用氮化镓基外延片
GB/T 30855-2014 LED外延芯片用磷化镓衬底
GB/T 30856-2014 LED外延芯片用砷化镓衬底
GB/T 30858-2014 蓝宝石单晶衬底抛光片
GB/T 30861-2014 太阳能电池用锗衬底片
YS/T 13-2007 高纯四氯化锗
YS/T 43-2011 高纯砷
YS 68-2004 砷
YS/T 99-1997 三氧化二砷
YS/T 222-2010 碲锭
YS/T 223-2007 硒
YS/T 257-2009 铟锭
YS/T 264-2012 高纯铟
YS/T 265-2012 高纯铅
YS/T 300-2008 锗精矿
YS/T 651-2007 二氧化硒
YS/T 724-2009 硅粉
YS/T 792-2012 单晶炉用碳/碳复合材料坩埚
YS/T 816-2012 高纯硒
YS/T 817-2012 高纯碲
YS/T 838-2012 碲化镉
YS/T 916-2013 高纯镉
三、管理标准
GB/T 23522-2009 再生锗原料
GB/T 23523-2009 再生锗原料中锗的测定方法
GB 29413-2012 锗单位产品能源消耗限额
GB 29447-2012 多晶硅企业单位产品能源消耗限额
YS 783-2012 红外锗单晶单位产品能源消耗限额
YS/T 840-2012 再生硅料分类和技术条件
作者介绍
文摘
序言
说实话,我购买这套书主要是冲着“产品标准分册”去的。我们公司正在进行下一代存储芯片的研发,对高k介质薄膜的沉积前材料要求极为苛刻。这本分册里关于光刻胶、掩模版基板以及溅射靶材的规格描述,细致到了令人发指的地步。我印象特别深的是其中关于特定金属杂质含量的ppm/ppb级别的控制标准,这些数据直接指导了我们采购部门的筛选流程,避免了大量的试错成本。不同于市面上那些零散的技术手册,这套汇编提供了一个权威的、经过官方认可的基准线。翻阅过程中,我发现它对不同应用场景下的材料性能要求做了明确的区分,比如射频器件和逻辑器件对材料的介电常数和损耗角正切的要求就各有侧重。对于我这种需要从材料源头控制良率的研发人员来说,这套书的实用价值已经远远超出了其定价。它更像是一个“标准操作流程的圣经”,让人在面对复杂的材料认证时,心中有数。
评分管理标准分册的价值,在我看来,是其“隐形”的竞争力所在。很多技术人员往往只关注材料的性能参数,却忽略了整个供应链和质量控制体系的规范性。这本分册里关于半导体材料的储存、运输、可追溯性以及报废处理的流程规范,为我们建立内部的ISO管理体系提供了绝佳的参考框架。举个例子,书中对洁净室环境下的材料交接流程的描述,非常具有操作性,我们直接借鉴了一部分内容来优化了我们内部的物料流转卡制度。此外,它对供应商审计的标准也给出了清晰的指导意见,不再是凭感觉去判断一个供应商是否合格,而是有了一套硬性的指标来衡量其管理水平。这套书的“管理”部分,其实是将先进的行业最佳实践固化了下来,使得整个生产过程的风险被系统性地降低。对于那些希望将自己的生产体系提升到国际一流水平的企业来说,这部分内容比纯技术标准更有长期指导意义。
评分这次的汇编版本,相较于前几年的版本,在“标准化”的思维上有了明显的进步。它不再仅仅是各国标准的简单堆砌,而是开始尝试建立一种跨标准组织(如JEDEC、SEMI等)的统一解释框架。我记得在对比几项关于晶圆平整度(TTV)的标准时,发现旧版标准在不同测绘方法间的差异很大,而2014版对此进行了解释和调和,极大地提高了我们在国际合作项目中的沟通效率。阅读这套书的过程,更像是在进行一场关于“质量语言”的学习。它帮助我理解了,在半导体这个高度依赖精度和一致性的行业里,“标准”本身就是一种最核心的生产力。那种将复杂的技术指标抽象并固化成易于执行的规范的能力,是这套汇编最让人敬佩的地方。每一次查阅,都能发现一些之前忽略的细节,这些细节往往是决定产品成败的关键。
评分总而言之,这套《正版世半导体材料标准汇编(2014版)》在我个人的工具箱中,已经占据了不可替代的位置。它厚重、详尽,并且充满了实践的智慧。对于任何一个想在半导体产业链中深耕的人来说,它都是一份值得长期投资的资料。我用它来指导新材料的选型、优化现有工艺的控制点,甚至作为新员工培训的指定教材。虽然技术总是在迭代,但建立在坚实标准之上的工程能力才是最持久的。这本书的价值不在于提供最新的“黑科技”配方,而在于提供了一个稳定、可靠、经过时间检验的“参照系”。它的存在,让我们的工作有了一个明确的锚点,使得我们在追求创新的同时,不会迷失在技术细节的海洋里。可以说,它为整个行业的规范化发展奠定了坚实的基础,是一本难得的工程参考巨著。
评分这本《正版世半导体材料标准汇编(2014版)》真是让人眼前一亮。我最近一直在研究硅材料的提纯工艺,手里拿着的这套书,可以说是我的“救命稻草”。首先,它在基础标准的梳理上做得极其扎实,对于那些刚踏入半导体行业的新人来说,简直就是一本宝典。我记得我刚开始看的时候,光是那些关于晶圆切割精度和表面形貌的标准,就让我对行业的要求有了更深刻的理解。它不仅仅是罗列条文,更像是在构建一个完整的知识体系。特别是关于超纯水和特种气体纯度的那些细则,对于我们这些做后端制程的工程师来说,简直是如获至宝。我特别欣赏它对不同标准体系之间的交叉引用,使得我们在查阅资料时,能够迅速定位到最核心的规范。虽然是2014年的版本,但很多基础物理和化学参数的标准,至今依然具有极高的参考价值,体现了编写者深厚的行业积累。如果说有什么不足,或许是对于近些年新兴的第三代半导体材料标准覆盖得稍微有些滞后,但这对于一本汇编性质的工具书来说,已经非常出色了。
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