薄膜材料：应力、缺陷的形成和表面演化 pdf epub mobi txt 电子书 下载 2025

简体网页||繁体网页

☆☆☆☆☆

[美] L.B.Freund，S.Suresh 著，卢磊 等 译，王中光 校

图书标签:

• 薄膜材料
• 应力
• 缺陷
• 表面演化
• 材料科学
• 材料物理
• 薄膜技术
• 界面科学
• 微观结构
• 材料表征

出版社： 科学出版社

ISBN：9787030134271

版次：1

商品编码：12042625

包装：平装

开本：16开

出版时间：2007-01-01

用纸：胶版纸

页数：628

字数：769000

正文语种：中文

编辑推荐

适读人群 ：材料物理专业，物理学专业的研究生和高年级的本科生
　　薄膜在微电子器件、磁存储介质和表面封装等技术应用领域发挥着重要作用，《薄膜材料：应力、缺陷的形成和表面演化》全面阐述了薄膜中的应力以及因其产生的缺陷形成和表面演化等问题。《薄膜材料：应力、缺陷的形成和表面演化》内容兼顾理论、实验和计算机模拟，适合工程技术人员、材料科学和物理学研究人员阅读。《薄膜材料：应力、缺陷的形成和表面演化》英文版被美国哈佛大学、布朗大学、麻省理工学院、斯坦福大学等大学用作研究生教材。

内容简介

　　《薄膜材料：应力、缺陷的形成和表面演化》总结了过去几十年里薄膜材料的研究进展，同时将重点放在薄膜中内应力的起源、发展及其影响等诸多方面，书中不仅系统考虑了薄膜。基底系统或多层膜系统的整体变形及薄膜的断裂、脱层和翘曲，而且还考虑了更小尺度上薄膜中位错的形成及非弹性变形。薄膜中应力的影响与薄膜材料结构之间的联系贯穿于整书的讨论。通过举例计算和有实际意义的实例分析及讨论，更加具体地阐明了书中的基本概念，并于每章后附有习题。
　　《薄膜材料：应力、缺陷的形成和表面演化》可供从事材料科学和工程及相关研究领域工作，特别是从事薄膜材料研究的科技人员和微电子机械领域从事设计制造的工程技术人员阅读，也可作为有关专业的研究生和大学高年级本科生的教材和参考书。《薄膜材料：应力、缺陷的形成和表面演化》英文版被美国哈佛大学、布朗大学、麻省理工学院、斯坦福大学等大学用作研究生教材。

内页插图

目录

第1章 引言和总论
1．1 薄膜组态分类
1．2 薄膜沉积方法
1．2．1 物理气相沉积
1．2．2 化学气相沉积
1．2．3 热喷涂沉积
1．2．4 实例：热障涂层
1．3 气相沉积薄膜的生长方式
1．3．1 从气相到吸附原子
1．3．2 从吸附原子到薄膜生长
1．3．3 自由表面或界面的能量密度
1．3．4 表面应力
1．3．5 基于表面能的生长方式
1．4 薄膜微观结构
1．4．1 外延膜
1．4．2 实例：垂直孔洞表面发射激光
1．4．3 多晶体膜
1．4．4 实例：磁存储介质薄膜
1．5 微电子结构的制备
1．5．1 光刻
1．5．2 铜互联体的大马士革加工
1．6 MEMS结构的制备
1．6．1 整体微加工
1．6．2 表面微加工
1．6．3 成型加工
1．6．4 NEMS结构
1．6．5 实例：振动梁细菌探测器
1．7 薄膜应力源
1．7．1 薄膜应力的分类
1．7．2 外延薄膜中的应力
1．8 多晶体薄膜中的生长应力
1．8．1 岛合并前的压缩应力
1．8．2 实例：表面覆盖的影响
1．8．3 岛接触引起的拉应力
1．8．4 连续生长过程中的压缩应力
1．8．5 最终应力与晶粒结构间的关系
1．8．6 应力演变的其他机制
1．9 薄膜应力的后果
1．10 习题

第2章 薄膜应力和基底曲率
2．1 stoney方程
2．1．1 实例：外延应变引起的曲率
2．1．2 实例：热应变引起的曲率
2．2 薄膜厚度对双层薄膜曲率的影响
2．2．1 任意薄膜厚度的基底曲率
2．2．2 实例：双层薄膜最大热应力
2．2．3 温度调节双金属片的历史记录
2．3 曲率测量方法
2．3．1 扫描激光法
2．3．2 多束光学应力敏感技术
2．3．3 光栅反射法
2．3．4 相干梯度传感器方法
2．4 层状和成分梯度薄膜
2．4．1 非均匀错配应变和弹性性能
2．4．2 错配应变中的恒定梯度
2．4．3 实例：成分梯度薄膜的应力
2．4．4 周期多层薄膜
2．4．5 实例：多层薄膜整体热弹性响应
2．4．6 微小总厚度的多层薄膜
2．4．7 实例：薄多层膜中的应力
2．5 几何非线性变形范围
2．5．1 线性范围的极限
2．5．2 非线性范围内的轴对称变形
2．6 平衡形状的分叉
2．6．1 均匀曲率的分叉分析
2．6．2 均匀曲率状态的可视化
2．6．3 -般曲率变化的分叉
2．6．4 基底曲率变形图
2．6．5 实例：Cu／Si系统的曲率图
2．7 习题

第3章 各向异性和图形薄膜中的应力
3．1 弹性各向异性
……
第4章 脱层和断裂
第5章 薄膜的翘曲、鼓包和剥离
第6章 外延系统中的位错形成
第7章 位错交互作用和应变弛豫
第8章 表面的平衡和稳定性
第9章 应力在传质中的作用
参考文献
英汉名词索引

前言/序言

　　《薄膜材料》英文版（第一版）于2003年12月由英国剑桥大学出版社出版，我们对世界各地的同行和研究人员给予该书的反馈信息深表感谢。
　　《薄膜材料》中文版的出版为我们提供了一个特别的机会，把我们对这种有趣并且有用的材料的理解以他们自己的语言传播给中国的学生、研究人员和工程师，他们辛勤工作在一个科学技术和教育等领域正经历翻天覆地变化的国度里。我们感谢中国科学院金属研究所的同行对这本书细致的翻译工作。我们特别感谢卢磊研究员的热忱奉献和在开展这项翻译工作中的杰出组织领导：特别感谢金属研究所疲劳与断裂国家重点实验室前主任王中光研究员，在本书整个的翻译过程中，他提供了宝贵的帮助、意见和建议。
　　我们还要真诚地感谢卢磊研究员以及她的同事，包括陶乃镕博士、张广平博士、史亦农博士、张磊博士、王镇波博士，他们为完成本书的翻译付出了艰辛的劳动。感谢中国工程院前副院长、中国国家自然科学基金委员会顾问师昌绪先生。他热情地为本书中文版作序。感谢中国科学出版社为本书的出版提供了财政支持。同时我们也感谢剑桥大学出版社在组织这次翻译中的合作和协助。

薄膜材料：应力、缺陷的形成与表面演化 引言 薄膜材料，作为现代科技领域不可或缺的关键组成部分，其应用范围已深入到电子、光学、能源、生物医学等众多前沿产业。从微电子器件中的绝缘层和导体层，到高性能光学涂层，再到太阳能电池的活性层，薄膜材料的性能直接决定了器件的效率、稳定性和寿命。然而，薄膜材料的制备和应用过程并非一帆风顺，其中蕴含着复杂的物理化学机制，尤其是在应力、缺陷的形成以及随之而来的表面演化等方面，更是对薄膜性能产生着决定性影响。 本书旨在深入剖析薄膜材料在生长过程中所经历的应力产生、发展及其释放机制，探讨各类缺陷（如空位、间隙原子、位错、晶界、相界等）的成因、结构和对材料性能的影响，并重点阐述这些因素如何协同作用，驱动薄膜表面发生复杂的形貌和结构演变。通过对这些核心问题的系统性研究，本书期望为相关领域的科研人员、工程师以及研究生提供一个全面而深入的视角，以期更好地理解薄膜材料的行为，优化制备工艺，设计出具有特定功能的先进薄膜。 第一章 薄膜应力的起源与演化 薄膜应力是薄膜材料中最普遍存在的现象之一，它对薄膜的附着力、力学性能、电学和光学特性都有着至关重要的影响。本章将从薄膜应力的基本概念出发，详细阐述其主要的产生机制。 生长应力（Growth Stress）: 在薄膜生长过程中，原子或分子在基底表面沉积并逐渐堆积，由于原子间的相互作用、基底与薄膜之间的晶格失配，以及沉积过程中能量的不均匀释放，都会导致内部应力的产生。本书将深入分析不同沉积方法（如物理气相沉积PVD、化学气相沉积CVD、原子层沉积ALD等）下生长应力的具体来源，例如原子动能、溅射粒子能量、化学反应热等。 热应力（Thermal Stress）: 薄膜与基底通常具有不同的热膨胀系数。在薄膜生长过程中，如果基底和薄膜处于不同的温度下，或者在冷却过程中，两者之间就会产生因温度变化而引起的应力。本书将重点讲解热膨胀系数失配如何导致张应力或压应力，并分析不同沉积温度和冷却速率对热应力的影响。 相变应力（Phase Transformation Stress）: 某些薄膜材料在生长或后续处理过程中会发生相变。相变过程中体积的变化会产生额外的应力，尤其是在固态相变的情况下。本书将探讨相变点、相变驱动力以及相变过程中的应力释放机制。 晶格失配应力（Lattice Mismatch Stress）: 当薄膜材料的晶格常数与基底材料的晶格常数不匹配时，特别是在外延生长过程中，会在薄膜内部产生由晶格畸变引起的应力。本书将介绍弹性理论在描述晶格失配应力中的应用，以及如何通过引入位错来缓解这种应力。 内禀应力（Intrinsic Stress）: 薄膜材料在生长过程中，由于原子键的形成、原子排列的密度等因素，即使在没有外力作用的情况下，也会存在一种内在的应力。本书将剖析内禀应力的微观来源，并与生长应力进行区分。 本章还将深入讨论薄膜应力的演化过程，包括应力随薄膜厚度的变化、应力弛豫机制（如位错滑移、空位扩散、形变、裂纹形成等），以及外部条件（如温度、气氛、应变率）对薄膜应力状态的影响。 第二章 薄膜缺陷的形成机制与结构表征 缺陷是薄膜材料中普遍存在的微观结构特征，它们不仅影响薄膜的力学性能，还会显著改变其电学、光学和磁学性能。本章将系统地介绍各类薄膜缺陷的形成原因、结构特点及其表征方法。 点缺陷（Point Defects）: 包括空位（Vacancy）、间隙原子（Interstitial Atom）和取代原子（Substitutional Atom）。本书将探讨在不同生长环境下，这些点缺陷是如何形成的，例如由于原子化学计量比失调、掺杂、以及能量粒子轰击等。点缺陷的浓度和分布对薄膜的扩散、电荷传输和发光特性有着直接影响。 线缺陷（Line Defects）: 主要指位错（Dislocation）。位错是晶体结构中一种重要的线性缺陷，它的存在会显著降低材料的屈服强度，但同时也是实现塑性变形的重要机制。本书将详细介绍刃位错、螺位错以及混合位错的结构，并重点分析它们在薄膜生长过程中的形成机制，例如由于晶格失配、基底粗糙度、以及原子沉积的不均匀性。位错的运动和湮灭也是薄膜应力弛豫的重要途径。 面缺陷（Planar Defects）: 包括晶界（Grain Boundary）、相界（Phase Boundary）、孪晶界（Twinning Boundary）和堆积层错（Stacking Fault）。 晶界: 在多晶薄膜中，相邻晶粒之间的界面。晶界是原子排列高度无序的区域，具有较高的表面能，容易吸附杂质，并且对电荷和晶格扩散起到阻碍或促进作用，具体取决于材料性质和晶界结构。本书将讨论晶界网络的形成、晶界能以及不同倾角和取向的晶界对薄膜性能的影响。 相界: 不同晶相或原子结构区域之间的界面。相界的形成是材料发生相变的重要标志，其结构和能量对相变过程和最终相组成至关重要。 孪晶界: 原子排列呈镜像对称关系的界面。孪晶的形成通常与应力或相变有关，并对材料的力学性能和相稳定性产生影响。 堆积层错: 晶体层错排列不正确形成的缺陷，通常发生在具有层状结构的材料中。 体缺陷（Volume Defects）: 如微裂纹（Microcracks）、空洞（Voids）、夹杂物（Inclusions）等。这些宏观或亚微观缺陷通常对薄膜的力学强度和可靠性造成严重破坏。本书将分析这些缺陷在制备过程中产生的根源，以及它们如何影响薄膜的完整性。 本书还将重点介绍多种先进的表征技术，用于识别和分析薄膜中的缺陷，包括透射电子显微镜（TEM）及其高分辨率成像技术，扫描电子显微镜（SEM）观察表面形貌和断口，X射线衍射（XRD）分析晶体结构和位错密度，原子探针断层扫描（APT）提供三维原子尺度的缺陷信息，以及拉曼光谱、X射线光电子能谱（XPS）等对缺陷相关的化学环境进行分析。 第三章 薄膜表面演化与形貌控制 薄膜的表面形貌是其最终应用性能的直接体现。应力、缺陷以及生长动力学共同作用，驱动薄膜表面发生复杂而动态的演化。本章将深入探讨薄膜表面演化的基本规律，并介绍实现表面形貌可控的策略。 生长模式与表面形貌: 不同薄膜材料和生长条件下的原子吸附、扩散和成核行为，决定了薄膜的生长模式，例如层状生长（Frank-van der Merwe）、岛状生长（Volmer-Weber）和层状-岛状混合生长（Stranski-Krastanov）。本书将分析不同生长模式如何导致平整表面、岛状结构、阶梯状表面或粗糙表面。 应力诱导的表面重构与图案化: 薄膜内部的应力，特别是应力梯度，可以驱动表面原子的迁移和重排，导致表面出现周期性的波纹、沟槽或岛状结构，形成自发的表面图案化。本书将探讨驱动这种重构的物理机制，如弹性能量最小化、表面扩散等。 缺陷对表面形貌的影响: 表面缺陷（如吸附位、台阶边缘）是新的原子成核或扩散的优先位置。内部缺陷（如位错端部）也可以通过影响局部应力或扩散路径，对表面形貌的形成产生影响。本书将分析缺陷与表面粗糙度、晶粒尺寸等表面特征之间的关联。 再结晶与退火处理: 退火处理是一种常用的后处理技术，旨在通过加热来降低薄膜中的缺陷浓度、弛豫应力并改善晶粒结构。然而，不当的退火条件可能导致薄膜表面发生粗化、形成多孔结构或发生相分离，从而劣化性能。本书将深入研究再结晶过程中晶粒生长、晶界迁移以及表面形貌演变的动力学。 表面粗糙度的控制与优化: 表面粗糙度会影响薄膜的光学反射率、电学接触电阻、以及催化活性等。本书将介绍通过控制生长参数（如沉积速率、衬底温度、气体压力）、优化表面清洗和预处理，以及利用纳米结构设计等手段来精确控制薄膜的表面粗糙度。 自组织生长与纳米结构形成: 在特定的生长条件下，薄膜表面可以发生自组织生长，形成周期性的纳米结构，如纳米线、纳米柱、量子点等。本书将探讨驱动这些自组织过程的动力学机制，并介绍如何利用这些机制来制备具有特殊光、电、磁功能的纳米材料。 表面化学与界面演化: 薄膜表面与周围环境的化学反应，以及与基底的界面演化，同样是影响表面形貌和性能的重要因素。本书将讨论表面氧化、吸附、腐蚀等过程，以及界面处的扩散和互扩散如何影响薄膜的稳定性。 结论 本书围绕薄膜材料的应力、缺陷形成和表面演化三大核心主题，进行了由宏观到微观，再到介观尺度的深入探讨。通过理解这些相互关联的物理过程，我们能够更有效地设计和制备高质量的薄膜材料，从而推动相关高科技领域的持续进步。本书期望为读者提供一个坚实的理论基础和丰富的实践指导，助力他们在薄膜科学与技术的研究与应用中取得更大的成就。

评分☆☆☆☆☆

阅读《薄膜材料：应力、缺陷的形成和表面演化》的过程中，我发现作者在叙述上有着非常独特的节奏感。他不会一开始就抛出复杂的概念，而是循序渐进，从简单的物理现象入手，逐步引入更深层次的理论。例如，在讲解表面能时，他会先从宏观的液体表面张力说起，然后逐渐过渡到薄膜表面的原子排列和配位失调，最终解释表面能对薄膜生长和演化的影响。这种“抽丝剥茧”的叙述方式，极大地降低了阅读门槛，即使是对薄膜材料不太熟悉的读者，也能随着作者的思路，逐渐进入核心的研究领域。

评分☆☆☆☆☆

最让我着迷的部分，莫过于“表面演化”这一章节。这本书之所以命名为《薄膜材料：应力、缺陷的形成和表面演化》，恰恰点明了其核心的研究脉络。作者从宏观到微观，从静态到动态，全方位地展示了薄膜表面是如何随着时间和环境的变化而不断“呼吸”和“成长”的。他详细分析了不同生长模式（如层状生长、岛状生长）如何影响表面粗糙度和形貌，以及应力如何驱动表面重构，甚至催生纳米结构的自组装。我尤其喜欢他对原子尺度表面动力学的描述，比如表面扩散、蒸发-凝结过程，以及这些微观过程如何累积演变成宏观的表面形态。读到这里，我仿佛能“看到”那些原子在表面上跳跃、迁移，最终“雕刻”出迷人的表面纹理。

评分☆☆☆☆☆

这本书并非仅仅是对薄膜材料“是什么”的介绍，更重要的是它解释了“为什么会这样”。作者在阐述每一个现象时，都追溯其根本原因。例如，他探讨了应力产生的原因，不仅有工艺参数的直接影响，还涉及到材料本身的晶体结构、化学键合等内在因素。同样，缺陷的形成也与材料的生长环境、杂质含量等息息相关。这种“追根溯源”的写作方式，使得读者能够真正理解薄膜材料的内在规律，而不是死记硬背一些结论。这种深入的思考和分析，对于培养批判性思维至关重要，也让我受益匪浅。

评分☆☆☆☆☆

作为一名研究薄膜材料的学生，我常常在文献中遇到各种各样的理论模型，但往往难以将其融会贯通。《薄膜材料：应力、缺陷的形成和表面演化》这本书在这方面做得非常出色。作者并没有将理论模型孤立地呈现，而是将它们置于解决实际问题的框架之下。他详细解释了各种模型的物理意义，以及它们在描述应力、缺陷和表面演化方面的适用性。例如，他对Stranski-Krastanov生长模式的深入解析，结合了热力学和动力学两个层面的考量，让我对薄膜生长过程有了更全面的理解。书中还涉及了有限元分析、分子动力学模拟等计算方法，为读者提供了解决实际问题的工具。

评分☆☆☆☆☆

这本书的行文风格与其内容一样，充满深度和广度。我喜欢作者在论述复杂概念时，总能穿插恰当的比喻和类比，这让那些原本枯燥的物理化学原理变得生动易懂。例如，在解释应力对表面形貌的影响时，他将薄膜比作一张拉伸的橡皮膜，细微的形变就可能导致表面出现褶皱，这形象地说明了表面重构的本质。同时，作者在引用前人的研究成果时，也做到了既尊重又批判，他不仅梳理了已有的理论，更指出了其中的不足之处，并在此基础上提出了自己的见解，这是一种非常成熟的学术态度，也让本书充满了前瞻性。

评分☆☆☆☆☆

这本书的另一个亮点在于其丰富的实例分析。作者在理论论述的间隙，插入了许多具有代表性的薄膜材料的案例，比如半导体薄膜、金属薄膜、介质薄膜等等。他结合这些具体材料的实际应用场景，详细阐述了应力、缺陷和表面演化对它们性能的影响。比如，在解释应力对半导体薄膜载流子迁移率的影响时，他会以应变工程为例，说明如何通过引入人为应力来提高器件性能。这些生动的实例，不仅巩固了书中的理论知识，也让我看到了薄膜材料在科技前沿领域的广泛应用前景。

评分☆☆☆☆☆

这本《薄膜材料：应力、缺陷的形成和表面演化》真是一部令人叹为观止的著作！从拿到书的那一刻起，我就被它厚重的体量和严谨的编排所吸引。翻开第一页，仿佛进入了一个全新的微观世界，作者以极其生动形象的语言，描绘了薄膜材料在各种内外应力作用下，那些肉眼不可见的细微变化。他对“应力”这个概念的剖析，绝不仅仅停留在教科书式的定义，而是深入到材料内部原子间的相互作用，热应力、机械应力、化学应力等等，都得到了详尽的论述。我尤其印象深刻的是，作者并非简单地罗列各种应力类型，而是巧妙地将它们置于真实的制备和使用环境中，比如在沉积过程中，原子如何在基底上“安家落户”，又如何因为能量的不均而产生初始应力，这对于理解后续的薄膜性能至关重要。

评分☆☆☆☆☆

书中所探讨的“缺陷”的形成，更是让我大开眼界。我一直以为缺陷只是材料性能的“瑕疵”，但在这本书中，我看到了它们的多样性和复杂性。作者将原子空位、间隙原子、位错、晶界等等，都如数家珍般一一展现，并且详细阐述了它们是如何在应力驱动下产生的。他并没有回避那些“棘手”的问题，例如在薄膜生长后期，应力积累到一定程度时，如何诱发表面形核、应力释放而产生的微裂纹，甚至是在某些特殊情况下，某些“缺陷”反而可以作为应力缓和剂，起到意想不到的作用。他对于这些缺陷的形成机制的解析，逻辑严谨，论证充分，引用的实验数据和理论模型也十分丰富，让我对薄膜材料的内在品质有了更深刻的认识。

评分☆☆☆☆☆

总而言之，《薄膜材料：应力、缺陷的形成和表面演化》是一部极具价值的学术专著。它以其深刻的洞察力、严谨的逻辑、生动的论述和丰富的实例，为读者构建了一个关于薄膜材料的完整知识体系。这本书不仅满足了我对薄膜材料的求知欲，更点燃了我对科学探索的热情。我强烈推荐给所有对薄膜材料感兴趣的读者，无论你是初学者还是资深研究者，相信你都能从中获得丰厚的收获。

评分☆☆☆☆☆

对于想要深入研究薄膜材料领域的学者和工程师来说，这本书绝对是一本不可多得的参考书。它不仅提供了扎实的理论基础，更引导读者去思考材料的内在机制和演化规律。书中的每一页都凝聚着作者深厚的学术功底和严谨的治学态度，大量的参考文献和详细的公式推导，都为读者提供了进一步深入研究的线索。更重要的是，它激发了我对薄膜材料的好奇心，让我看到了这个领域无限的可能性，也让我对未来的研究方向有了更清晰的规划。