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内容简介

　　《半导体科学与技术丛书：半导体光谱分析与拟合计算》在简要介绍半导体光谱测量基本手段后，比较系统地阐述了几种常用的半导体光谱分析方法，同时对光谱的拟合方法作了理论探讨和具体介绍。《半导体科学与技术丛书：半导体光谱分析与拟合计算》还介绍了一些作者自行编写的光谱拟合程序，用这些程序可以方便地在计算机上进行光谱拟合与分析，从而定量地得到材料或器件的物理参数。除了文字及图表论述外，《半导体科学与技术丛书：半导体光谱分析与拟合计算》还特别提供一张包含所有程序以及运行范例的光盘。书本与光盘的有机结合将极大地方便读者对光谱知识的掌控以及在自己工作中的运用。
　　《半导体科学与技术丛书：半导体光谱分析与拟合计算》适合从事半导体光谱研究的科研工作者阅读，对该领域的研究生也会有所裨益。

内页插图

目录

第1章 光谱的测量
1．1 棱镜分光
1．2 光栅分光
1．3 傅里叶变换分光
1．4 基于傅里叶变换光谱的调制光谱
1．5 光谱测量技巧拾零
参考文献

第2章 半导体物理基础和光学特性
2．1 半导体及其纳米结构
2．2 包络函数及有效质量近似
2．3 晶格振动和声子谱
2．4 光电相互作用和半导体光谱
2．5 有效介电常数和光谱分析
参考文献

第3章 透射光谱与反射光谱
3．1 基本概念与原理
3．2 薄膜样品的透射光谱与反射光谱
3．3 晶格振动红外反射光谱l——赝谐振子模型
3．4 晶格振动红外反射光谱Il——Kramers-Kronig关系
3．5 赝谐振子模型与Kramers-Kroni9关系综合应用
3．6 薄膜材料的晶格振动与载流子特性表征
参考文献

第4章 光荧光光谱
4．1 基本概念与原理
4．2 带间荧光光谱
4．3 低维材料的电子态和光跃迁
4．4 量子线材料的荧光光谱
4．5 量子点的荧光光谱
参考文献

第5章 调制光谱
5．1 光调制光谱
5．2 热调制光谱
5．3 压电调制光谱
参考文献

第6章 量子阱红外探测器的光谱表征
6．1 荧光光谱
6．2 光调制反射谱
6．3 量子阱结构厚度无损检测法
6．4 光电导谱
6．5 自由电子激光激发下的光电流
参考文献

第7章 数值方法与计算程序
7．1 光谱分析中的全域最小值求解
7．2 一维薛定谔方程的传输矩阵求解
7．3 由实验远红外反射、透射光强求远红外反射率、透射率：IRRT
7．4 赝谐振子模型拟合红外反射光谱：IRREFL
7．5 Kramers-Kroni9光谱分析：KK
7．6 光谱高斯一洛伦兹线形拟合：GLN
7．7 调制反射光谱洛伦兹线形拟合：PRLOREN
7．8 调制光谱高斯线形拟合：PRGAUSS
7．9 荧光光谱拟合：PL
7．10 考虑带尾态的荧光光谱拟合：TAILPL
7．11 转移矩阵方法：WORK
参考文献

附录A 常用物理常量及换算公式
A．1 幂次前缀符号
A．2 能量表达变换
A．3 原子单位、自然单位和量纲
附录B 常见半导体性质
汉英对照索引

前言/序言

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