基本信息
书名:半导体物理性能手册 第3卷(下)
定价:138.00元
作者:(日)足立贞夫
出版社:哈尔滨工业大学出版社
出版日期:2014-04-01
ISBN:9787560345192
字数:
页码:
版次:1
装帧:平装
开本:16开
商品重量:0.4kg
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内容提要
《半导体物理性能手册》介绍了各族半导体、化合物半导体的物理性能,包括:StructuralProperties结构特性ThermalProperties热学性质ElasticProperties弹性性质PhononsandLatticeVibronicProperties声子与晶格振动性质CollectiveEffectsandRelatedProperties集体效应及相关性质Energy-BandStructure:Energy-BandGaps能带结构:能带隙Energy-BandStructure:ElectronandHoleEffectiveMasses能带结构:电子和空穴的有效质量ElectronicDeformationPotential电子形变势ElectronAffinityandSchottkyBarrierHeight电子亲和能与肖特基势垒高度OpticalProperties光学性质Elastooptic,Electrooptic,andNonlinearOpticalProperties弹光、电光和非线性光学性质CartierTransportProperties载流子输运性质适用对象包括材料、微电子学、电子科学与技术等专业的本科生和研究生,以及从事半导体研究的专业人员。
目录
PrefaceAcknowledgementsContents of Other Volumes10 Cubic Cadmium Sulphide (c-CdS)11 Wurtzite Cadmium Sulphide (w-CdS)12 Cubic Cadmium Selenide (c-CdSe)13 Wurtzite Cadmium Selenide (w-CdSe)14 Cadmium Telluride (CdTe)15 Cubic Mercury Sulphide (β-HgS)16 Mercury Selenide (HgSe)17 Mercury Telluride (HgTe)
作者介绍
文摘
序言
这本书的章节组织,简直是为资深研究人员量身定制的逻辑流。它没有遵循我们大学教材那种从晶体结构到载流子运动的传统线性展开,而是更多地聚焦于功能性的模块划分。比如,它会专门开辟一整块内容来系统性地梳理“高频特性下的材料损耗模型”,这在很多综合性教材中往往是被一带而过的内容。我发现,当我在设计高Q值的射频滤波器时,书中对于介质损耗正切角(tanδ)随频率变化的详细建模和实验数据对比,帮我快速确定了最佳工作温度区间和材料配比。更令人称赞的是,它对于不同制造工艺带来的缺陷效应分析也做得非常到位,比如离子注入的损伤、薄膜沉积的界面态密度变化等,都配有相关的分析图谱和修正因子。这种高度的实用性和针对性,说明编写者对实际生产和研发过程中遇到的“疑难杂症”有着深刻的体会,使得这本书在面对前沿工程挑战时,能提供即时且富有洞察力的解决方案。
评分我得承认,一开始我对“手册”这个定位是持保留态度的,总觉得手册就是各种数据的堆砌,缺乏系统性的理论深度。但这本书完全颠覆了我的认知。它并非仅仅罗列出硅、锗、砷化镓等材料的电导率、介电常数等静态参数,而是巧妙地将这些参数的推导过程、温度依赖性、掺杂浓度影响等动态变化规律融入了其中。举个例子,当讨论P-N结的反向击穿机制时,它不仅给出了击穿电压的经验公式,还深入剖析了雪崩倍增和齐纳击穿的微观机制,甚至引用了最新的量子隧穿效应模型进行佐证。这种既有宏观数据支撑,又有微观机理剖析的“双螺旋”结构,使得这本书的参考价值远远超出了普通手册的范畴。它迫使你不能仅仅停留在“查数据”的层面,而是必须理解数据背后的物理根源。对于我们实验室里进行新材料筛选和器件结构优化的工作来说,这种深度是不可或缺的,它为你提供的是“为什么”而不是仅仅“是什么”。
评分作为一名常年与高温半导体材料打交道的科研人员,我对书籍中对第三代半导体(如GaN、SiC)的论述尤为关注。令人惊喜的是,这本书并未将它们视为简单的补充材料,而是给予了足够的篇幅和深度。例如,在讨论GaN的高电子迁移率晶体管(HEMT)时,书中详细分析了其二维电子气(2DEG)的形成机制,以及如何通过AlGaN/GaN异质结的极性效应来调控载流子密度。尤其让我印象深刻的是,书中对工作在极端环境下的材料稳定性进行了详尽的阐述,包括在高温高湿条件下的界面钝化失效机理。这些内容往往是通用型半导体书籍所缺乏的,因为这些前沿材料的研究热点变化快,普通教材难以跟进。这本书的及时更新和深入探讨,体现了哈尔滨工业大学出版社在跟踪国际前沿技术方面的决心和能力,它不仅仅是一本记录历史的文献,更像是为我们探索未来半导体器件性能极限而提供的最新地图和指南针。
评分这本书的封面设计简直是一场视觉的盛宴,那种深邃的蓝色调与封面上那些复杂的电路图、晶体结构示意图交织在一起,立刻就能让人感受到其中蕴含的专业深度。我记得第一次翻开它的时候,那种纸张的质感就非常棒,厚实而细腻,完全不像那种廉价的印刷品,一看就是出版社用心打磨的作品。当然,光有好看的外表是没用的,我更关心的是内页的排版。他们对于公式的排布、图表的插入都处理得极其精妙,即便是面对那些涉及到能带理论、载流子输运的复杂数学表达,也不会让人感到眼花缭乱。特别是那些高精度的能带结构图,色彩的过渡和细节的刻画简直是教科书级别的典范,清晰到你几乎能“看”出电子是如何在晶格中跳跃的。这种对细节的极致追求,让我这个常年和半导体打交道的工程师,在查阅特定参数时能迅速定位,极大地提高了我的工作效率,而不是像某些参考书那样,为了凑字数而把版面搞得一团糟。可以说,光从物理层面上对这本书的“界面”进行评价,它已经超越了普通的参考书范畴,更像是一件精密的科学仪器,需要你以敬畏之心去对待。
评分这本书的翻译质量,老实说,在我接触过的所有引进的日系半导体技术书籍中,几乎是数一数二的。通常日文技术著作的特点是逻辑严密,但如果翻译不佳,那种晦涩感会成倍增加,让人抓耳挠腮。然而,这本《半导体物理性能手册》的译者团队显然对半导体领域有着深刻的理解,他们没有采取那种逐字翻译的僵硬手法,而是真正做到了“信、达、雅”的统一。比如,涉及到一些特定的半导体器件操作现象,比如“陷阱态”的描述,译者用了非常贴合国内工程语境的词汇,而不是生硬地直译过去,这使得我们在理解那些微妙的物理过程时,少走了很多弯路。我尤其欣赏其中对一些经典实验结果的描述部分,即便是没有配图,仅仅通过文字的梳理,你也能构建出一个清晰的实验场景和数据分析路径。这种高水准的文字功底,让这本书不仅仅是一本工具书,更像是一位经验丰富的前辈在耳边细细讲解,那种亲切感和准确性是机器翻译无论如何也无法比拟的,这对于我们这些需要将理论快速转化为实际应用的人来说,至关重要。
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