包邮 ESD揭秘:静电防护原理和典型应用|3770243

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美 Steven H Voldman 著,来萍 恩云飞 肖庆中 译
图书标签:
  • 静电防护
  • ESD
  • 电子元器件
  • 可靠性
  • 电路保护
  • 工业安全
  • 防静电
  • SMT
  • 生产制造
  • 质量控制
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店铺: 互动创新图书专营店
出版社: 机械工业出版社
ISBN:9787111463658
商品编码:27156804747
丛书名: 电子与嵌入式系统设计译丛
出版时间:2014-06-01
页数:159

具体描述

 书[0名0]:  ESD揭秘:静电防护原理和典型应用|3770243
 图书定价:  59元
 图书作者:  (美)Steven H. Voldman
 出版社:   [1机1] 械工业出版社
 出版日期:  2014/6/1 0:00:00
 ISBN号:  9787111463658
 开本:  16开
 页数:  159
 版次:  1-1
 作者简介
Steven H. Voldman博士是静电放电(ESD)[0领0]域[0首0]位IEEE[0会0]士,其主要贡献在于CMOS、绝缘体上硅和硅锗技术的静电放电防护。他于1979年获得巴[0法0]罗[0大0][0学0]工程[0学0][0学0]士[0学0]位;1981年获得麻省理工[0学0]院电气工程硕士[0学0]位;在IBM固定员工研究[0学0]者进修计划的资助下,先后于1986年和1991年获得佛蒙特[0大0][0学0]工程物理[0学0]硕士[0学0]位和电气工程博士[0学0]位。 在IBM开发部门工作的25年间,Voldman一直致力于半导体器件物理、器件设计和可靠性研究(如软错误率(SER)、热电子、漏电 [1机1] 理、闩锁和静电放电等)。他进行闩锁及其抑制技术研究的时间更是长达27年。研究涉及[0[0双0]0][0极0]SRAM、CMOS DRAM、CMOS逻辑电路、绝缘体上硅(SOI)、BiCMOS、锗硅(SiGe)、射频CMOS、射频SOI、智能电源和图像处理等。2008年,进入Qimonda DRAM研发团队,从事70nm、58nm和48nm CMOS技术研究。同年,创办了自己的公司,并作为台积电(TSMC)45nm静电放电与闩锁开发团队的一员在[亲斤]竹总部工作。2009~2011年,他担任Intersil公司静电放电与闩锁研发的资深高级工程师。自2011年起,他开始在自己的公司进行专职工作,提供咨询顾问、教[0学0]和专利诉讼专家证人的服务。 1995~2000年间,Voldman博士担任美[0国0]半导体行业技术联盟(SEMATECH)ESD工作组主席,[0领0]导该组建立ESD技术基准,成立传输线脉冲(TLP)标准开发小组,制定长期发展规划,与JEDEC-ESD协[0会0]协调人体模型(HBM)标准。2000~2010年,他担任ESD协[0会0]TLP和[0超0]快TLP(VF-TLP)工作组主席,起草TLP和VF-TLP的[0第0]一份规程及标准。Voldman还是ESD协[0会0]董事[0会0]和教育委员[0会0]成员。他发起并开展了“ESD在校园”活动,该活动旨在将ESD课程带入全球各[0大0]校园,并与[0学0]校教职员工和[0学0]生开展互动。如今,该活动已在美[0国0]、[亲斤]加坡、中[0国0]台湾、马来西亚、菲律宾、泰[0国0]、印度和中[0国0]等[0国0]家或地区40多所[0大0][0学0]校园内开展。 Voldman博士在美[0国0]、中[0国0]、[亲斤]加坡、马来西亚、中[0国0]台湾、斯里兰卡和以色列等[0国0]家或地区多次举办了有关ESD、闩锁等方面的短期课程或专题报告。他还获得了240多个有关ESD和CMOS闩锁效应的美[0国0]授[0[0权0]0]专利,亦是该[0领0]域专利诉讼案中的专家证人。 Voldman博士也是《科[0学0]美[0国0]人》杂志的撰稿人,并编写了[0首0]套ESD与闩锁系列丛书,包括《ESD物理与器件》、《ESD电路与器件》、《ESD射频技术与电路》、《闩锁效应》、《ESD失效 [1机1] 理与模型》和《ESD设计与综合》。同时,他也是《锗硅——技术、建模及设计》和《纳米电子[0学0]——纳米线、分子电子[0学0]与纳米器件》等书籍的撰稿人。目前,《ESD电路与器件》和《ESD射频技术与电路》中译本已出版发行。来萍,毕业于南京电子器件研究所,是工业和信息化部电子[0第0]五研究所研究员,电子[0学0][0会0][0会0]员,IEEE[0会0]员,广东省信息技术标准化技术委员[0会0]委员。承担过十几项电子元件可靠性科研项目,在电子产[0品0]可靠性[0领0]域拥有丰富的经验。主要技术研究方向包括电子元器件失效分析、微波器件可靠技术及应用、集成电路静电放电检测与[0评0]价、电子产[0品0]制造过程中的静电防护技术等。
 内容简介
《ESD揭秘:静电防护原理和典型应用》是Steven H.Voldman博士在半导体器件静电放电(ESD)[0领0]域20多年研究和工作经验的结晶,对ESD的基本原理、现实中的ESD环境、半导体器件制造、处理和组装过程的ESD现象、半导体器件片上和片外保护技术,以及对未来纳米结构中的ESD问题展望等,进行了系统而全面的阐述,是帮助了解半导体器件ESD及其所有相关问题的一本非常好的基础性书籍。
《ESD揭秘:静电防护原理和典型应用》在介绍[0当0]今所面临的半导体芯片制造问题、ESD半导体芯片设计和系统问题,以及描述未来纳米技术的ESD现象方面是的。
《ESD揭秘:静电防护原理和典型应用》是作者在ESD保护方面系列书籍的补充。对刚进入这个[0领0]域的人员来说,本书是一个重要的参考,也可以帮助了解进入纳米电子时代后现代技术所面临的问题。
《ESD揭秘:静电防护原理和典型应用》主要内容
深入阐释静电和摩擦起电的基础,以及与[0当0]今微纳电子技术制造环境的关系;
防止ESD失效的半导体制造操作及监测工艺;
ESD、EOS、EMI、EMC及闩锁效应的半导体器件级及系统级测试,以确定产[0品0]对人体模型(HBM)、传输线模型(TLP)、放电器件模型(CDM)、人体金属模型(HMM)、电路放电事件(CDE)到系统级IEC61000-4-2测试的抵抗力;
服务器、笔记本电脑、磁盘驱动器、手 [1机1] 、数码相 [1机1] 、手持设备、汽车和空间应用的系统级问题;
[亲斤]技术的ESD设计案例,包括CMOS、BiCMOS、SOl、[0[0双0]0][0极0]工艺、高压CMOS(HVCMOS)、RF CMOS、智能电源、磁记录技术、微电 [1机1] 械(MEM)和纳米结构。
 目录

《ESD揭秘:静电防护原理和典型应用》
译者序
前言
致谢
作者简介
[0第0]1章 静电[0学0]基本原理 1
1.1 引言 1
1.2 静电[0学0] 1
1.2.1 泰勒斯和静电引力 1
1.2.2 静电[0学0]和摩擦生电序列 2
1.2.3 摩擦生电序列和吉尔伯特 3
1.2.4 摩擦生电序列和格雷 4
1.2.5 摩擦生电序列和达菲 4
1.2.6 摩擦生电序列和富兰克林 4
1.2.7 静电[0学0]——西莫和人体模型 4
1.2.8 静电[0学0]——库仑和卡文迪许 5
1.2.9 静电[0学0]——[0法0]拉[0第0]和冰桶实验 5
1.2.10 静电[0学0]——[0法0]拉[0第0]和麦克斯韦 5
1.2.11 静电[0学0]——帕邢 5
1.2.12 静电[0学0]——斯托尼与“电子” 5
1.3 摩擦生电——它是怎么发生的 6
1.4 导体、半导体和绝缘体 7
1.5 静电耗散材料 7
1.6 静电放电和材料 7
1.7 充电和库仑定律 8
1.7.1 摩擦生电 8
1.7.2 感应生电 8
1.7.3 传导生电 9
1.8 电磁[0学0]和电动力[0学0] 9
1.9 电击穿 9
1.9.1 静电放电与击穿 9
1.9.2 击穿与帕邢定律 10
1.9.3 击穿和汤森德 10
1.9.4 击穿与托普勒定律 11
1.9.5 雪崩击穿 11
1.10 电准静态和磁准静态 12
1.11 电动力[0学0]与麦克斯韦方程 13
1.12 静电放电 13
1.13 电磁兼容 13
1.14 电磁干扰 13
1.15 本章小结 14
参考文献 14
[0第0]2章 生产和静电的基本原理 18
2.1 材料、工具、人为因素和静电放电 19
2.2 制造环境和工具 19
2.3 生产设备和ESD生产问题 19
2.4 生产材料 20
2.5 测量和测试设备 20
2.6 接地及连接系统 22
2.7 工作台面 22
2.8 防静电腕带 22
2.9 在线监测仪 23
2.10 鞋类 23
2.11 地板 23
2.12 人员服装接地 23
2.13 空气离子化 24
2.14 座椅 25
2.15 推车 25
2.16 包装和运输 25
2.16.1 运输包装管 25
2.16.2 托盘 26
2.17 ESD识别 26
2.18 ESD程序管理——12步构建ESD战略 26
2.19 ESD程序审核 27
2.20 防静电片上保护 27
2.21 本章小结 28
参考文献 28
[0第0]3章 ESD、EOS、EMI、EMC和闩锁效应 32
3.1 ESD、EOS、EMI、EMC和闩锁效应 32
3.1.1 ESD 32
3.1.2 过电应力 33
3.1.3 电磁干扰 33
3.1.4 电磁兼容 33
3.1.5 闩锁效应 33
3.2 ESD模型 33
3.2.1 人体模型 34
3.2.2 [1机1] 器模型 35
3.2.3 盒式模型 36
3.2.4 充电器件模型 36
3.2.5 传输线脉冲 37
3.2.6 [0超0]快传输线脉冲 39
3.3 过电应力 39
3.3.1 EOS来源——雷击 40
3.3.2 EOS来源——电磁脉冲 40
3.3.3 EOS来源—— [1机1] 械装置 41
3.3.4 EOS来源——配电装置 41
3.3.5 EOS来源——开关、继电器和线圈 41
3.3.6 EOS设计流程和产[0品0]定义 41
3.3.7 EOS来源——设计问题 42
3.3.8 EOS失效 [1机1] 理 43
3.4 电磁干扰 45
3.5 电磁兼容 45
3.6 闩锁 45
3.7 本章小结 46
参考文献 47
[0第0]4章 系统级ESD 52
4.1 系统级测试 52
4.1.1 系统级测试目标 52
4.1.2 系统级与元器件级测试失效判据的区别 53
4.2 系统与芯片何时相互影响 54
4.3 ESD和系统级失效 54
4.3.1 ESD电流和系统级失效 55
4.3.2 ESD感应电场/感应磁场和系统级失效 55
4.4 电子系统 56
4.4.1 卡和板 56
4.4.2 系统 [1机1] 架和屏蔽 56
4.5 [0当0]前的系统级问题 57
4.5.1 便携系统 57
4.5.2 移动电话 57
4.5.3 服务器和电缆 58
4.5.4 笔记本电脑和电缆 59
4.5.5 磁盘驱动器 59
4.5.6 数码相 [1机1] 60
4.6 汽车、ESD、EOS和EMI 61
4.6.1 汽车和ESD——点火系统 61
4.6.2 汽车和EMI——电子脚踏装置 61
4.6.3 汽车和油箱起火 61
4.6.4 混合动力汽车和电动汽车 62
4.6.5 未来的汽车 62
4.7 航空航天应用 63
4.7.1 飞 [1机1] 、局部放电和闪电 63
4.7.2 卫星、飞船充电和单粒子翻转 63
4.7.3 太空登陆任务 64
4.8 ESD和系统级测试模型 65
4.9 IEC 61000-4-2 65
4.10 人体金属模型 66
4.11 带电板模型 68
4.12 电缆放电事件 69
4.12.1 电缆放电事件和范围 70
4.12.2 电缆放电事件——电缆测量设备 71
4.12.3 电缆构形——测试放置 72
4.12.4 电缆构形——移动电缆 72
4.12.5 电缆构形——手持电缆 72
4.12.6 电缆放电事件——峰值电流和充电电压的关系 72
4.12.7 电缆放电事件——电流幅度和充电电压的关系 72
4.13 本章小结 72
参考文献 73
[0第0]5章 元器件级问题——问题与解决方[0法0] 76
5.1 ESD芯片保护——问题与解决方[0法0] 76
5.2 ESD芯片级设计方案——设计综合的基本要素 76
5.2.1 ESD电路 79
5.2.2 ESD信号引脚保护网络 79
5.2.3 ESD电源钳位保护网络 80
5.2.4 ESD电源域——域电路 81
5.2.5 ESD内部信号线域——域保护电路 81
5.3 ESD芯片平面设计——设计布局和综合基础 82
5.3.1 ESD信号引脚HBM电路的布置 83
5.3.2 ESD信号引脚CDM电路布置 83
5.3.3 ESD电源钳位电路的放置 84
5.3.4 ESD VSS-VSS电路布置 85
5.4 ESD模拟电路设计 86
5.4.1 ESD模拟电路对称和共质心设计 86
5.4.2 模拟信号引脚到电源线的ESD网络 87
5.4.3 共质心模拟信号引脚到电源线的ESD网络 87
5.4.4 共质心模拟电路和ESD网络的协同综合 88
5.4.5 信号引脚到信号引脚的差分对ESD网络 89
5.4.6 共质心信号引脚差分ESD保护 89
5.5 射频ESD设计 91
5.5.1 射频ESD设计原则 91
5.5.2 ESD射频电路——信号引脚ESD网络 96
5.5.3 ESD射频电路——ESD电源钳位 97
5.5.4 ESD射频电路——ESD射频VSS-VSS网络 99
5.6 本章小结 100
参考文献 100
[0第0]6章 系统中的ESD问题及解决方案 101
6.1 ESD系统解决方案——从[0大0]到小 101
6.2 航空航天解决方案 101
6.3 油轮解决方案 101
6.4 汽车解决方案 102
6.5 计算 [1机1] 和服务器 102
6.6 主板和板卡 103
6.6.1 系统板卡插入的触点 103
6.6.2 系统级的电路板设计——接地设计 103
6.7 系统级“板上”ESD防护 104
6.7.1 火花隙 105
6.7.2 场发射器件 107
6.8 系统级瞬态解决方案 110
6.8.1 瞬态电压抑制器件 111
6.8.2 聚合物电压抑制器件 112
6.9 封装级 [1机1] 械ESD解决方案—— [1机1] 械撬棒 113
6.10 硬盘ESD解决方案 114
6.10.1 内嵌“ESD短路” 114
6.10.2 电枢– [1机1] 械“短路”——?一种内建的电气“撬棒” 114
6.11 半导体芯片级解决方案——版图布局、版图及结构 115
6.11.1 混合信号模拟和数字的版图布局 116
6.11.2 BCD版图布局 116
6.11.3 片上系统设计的版图布局 117
6.12 半导体芯片解决方案——电源栅格设计 118
6.12.1 HMM和IEC规范的电源栅格及互连设计上的考虑 118
6.12.2 ESD电源钳位设计综合——响应IEC 61000-4-2的ESD电源钳位网络 119
6.13 ESD和EMC——[0当0]芯片影响了系统 120
6.14 系统级和器件级ESD测试与系统级响应 120
6.14.1 ESD测试中的时域反射和阻抗方[0法0][0学0] 120
6.14.2 时域反射ESD测试系统[0评0]估 121
6.14.3 ESD退化系统级方[0法0]——眼图测试 125
6.15 EMC和ESD扫描 127
6.16 本章小结 129
参考文献 130
[0第0]7章 静电放电的未来 133
7.1 ESD未来如何 133
7.2 工厂与制造 133
7.3 光刻掩膜与十字线 134
7.3.1 光刻掩膜中的ESD问题 134
7.3.2 光刻掩膜的雪崩击穿 135
7.3.3 光刻掩膜的电模型 136
7.3.4 光刻掩膜中的失效缺陷 137
7.4 磁记录技术 138
7.5 微 [1机1] 电器件 140
7.6 微马达 142
7.7 微 [1机1] 电射频开关 143
7.8 微 [1机1] 电反射镜 145
7.9 晶体管 146
7.9.1 晶体管—体硅和SOI技术 146
7.9.2 晶体管和FinFET 147
7.9.3 FinFET中的ESD问题 148
7.10 硅纳米线 149
7.11 碳纳米管 149
7.12 未来的系统和系统设计 150
7.13 本章小结 150
参考文献 151
术语表 155
ESD标准 157

探寻浩瀚书海:现代工业技术与管理前沿精选书目导览 在信息爆炸的时代,知识的获取和筛选变得尤为重要。本导览旨在为您精选一系列涵盖现代工业核心技术、先进制造、质量管理、以及前沿科技应用领域的权威著作,帮助您系统性地构建知识体系,把握行业发展脉搏。 --- 第一部分:先进制造与智能控制系统 本部分精选的图书侧重于支撑当代高端制造业运行的理论基础与工程实践,涵盖了从材料科学到自动化控制的广阔范围。 1. 《精密机械设计与误差分析(第3版)》 内容概述: 本书深入剖析了现代精密机械系统的设计哲学、关键部件的结构优化,以及系统级的误差源识别与补偿技术。它不仅仅停留在理论层面,更结合了大量实际工程案例,讲解了如何运用公差配合理论、几何量化技术(GD&T)以及现代计量学方法来确保机械产品达到微米乃至纳米级的精度要求。重点章节包括:运动链误差的累积模型、动态刚度分析、以及基于有限元分析的结构优化设计方法。 适用读者: 机械设计工程师、精密仪器研发人员、质量控制专家。 2. 《工业物联网(IIoT)架构与数据融合技术》 内容概述: 随着工业4.0的推进,如何高效、安全地连接物理世界与数字世界成为核心挑战。本书系统阐述了工业物联网的整体架构,从底层传感器和边缘计算设备的数据采集,到中间层的网络通信协议(如OPC UA、MQTT)的选择与优化,再到云端的大数据存储与分析。特别详细介绍了多源异构工业数据的实时融合算法,以及如何利用时间序列分析和机器学习模型对生产过程进行预测性维护和质量追溯。书中对工业网络安全性的讨论,也为实施安全可靠的 IIoT 系统提供了坚实的基础。 适用读者: 自动化工程师、IT/OT集成专家、智能工厂规划师。 3. 《机器人学导论:动力学、运动学与控制》 内容概述: 这是一本全面介绍机器人系统核心理论的经典教材。它从机器人的几何运动学(正运动学、逆运动学、雅可比矩阵)入手,详细推导了机器人在不同坐标系间的转换关系。随后深入探讨了机器人的动力学建模,包括牛顿-欧拉法和拉格朗日法,为实现精准的轨迹跟踪和力控制打下理论基础。本书的特色在于其对先进控制策略的阐述,如自适应控制、鲁棒控制在机器人操作中的应用实例,以及人机协作机器人的安全交互设计。 适用读者: 机器人研究人员、机电一体化专业学生、高级自动化系统集成商。 --- 第二部分:先进材料与表面工程技术 高质量的产品离不开先进的材料和可靠的表面处理技术。本部分聚焦于材料科学在工程应用中的前沿进展。 4. 《高性能复合材料的制备与性能表征》 内容概述: 复合材料因其高比强度、高比模量和耐腐蚀性,在航空航天、汽车轻量化等领域占据重要地位。本书聚焦于碳纤维增强树脂基复合材料(CFRP)和金属基复合材料(MMC)的先进制备工艺,如树脂传递模塑(RTM)、真空辅助树脂灌注(VARI)以及粉末冶金技术。书中详细描述了如何通过超声波、X射线断层扫描(CT)等无损检测技术对材料内部的孔隙率、界面结合强度进行量化评估,并预测其在复杂载荷下的疲劳寿命。 适用读者: 材料科学家、结构工程师、航空航天制造领域专业人士。 5. 《真空镀膜技术:原理、设备与工艺控制》 内容概述: 表面工程是提升产品耐久性和功能性的关键。本书专注于物理气相沉积(PVD)和化学气相沉积(CVD)两大类真空镀膜技术。它详细解析了磁控溅射、电弧蒸发等不同镀膜源的工作机制,以及如何通过控制腔室真空度、气体分压和基材偏压来调控薄膜的晶体结构、应力状态和表面粗糙度。案例分析部分展示了硬质涂层(如TiN, AlCrN)在切削工具和模具上的应用效果,以及光学镀膜在精密光学元件上的实现路径。 适用读者: 表面工程技术人员、光学元件制造商、工具涂层研发工程师。 --- 第三部分:质量管理与可靠性工程 现代企业竞争力的核心在于稳定、可靠的产品交付能力。本部分提供的书籍是理解和实施现代质量管理体系的必备指南。 6. 《六西格玛方法论与DMAIC实践指南(高级篇)》 内容概述: 相比于基础介绍,本书直接切入六西格玛方法论的高级应用层面。它深入讲解了Minitab等统计软件在复杂过程能力分析(CpK, PpK)、实验设计(DOE)以及多元回归分析中的高级应用。重点阐述了如何运用“测量系统分析”(MSA)确保数据采集的准确性,以及如何使用“容差设计”(Tolerance Stacking)来系统地减少变异。书中大量的案例研究均聚焦于服务业和高科技制造业中遇到的复杂瓶颈问题,并提供了从Define到Control阶段的详细行动路线图。 适用读者: 质量经理、过程改进专家、精益六西格玛黑带、数据分析师。 7. 《产品全生命周期可靠性工程与FMEA深度解析》 内容概述: 可靠性是衡量产品价值的重要指标。本书构建了一个覆盖“设计-制造-使用-维护”全生命周期的可靠性管理框架。核心内容包括:如何基于使用场景和环境条件,应用Weibull分析进行寿命预测;如何系统地使用失效模式与影响分析(FMEA),特别是设计FMEA(DFMEA)和过程FMEA(PFMEA),识别和量化潜在失效,并制定有效的预防措施。书中对加速寿命试验(ALT)的设计与数据外推方法进行了详尽的数学建模说明。 适用读者: 可靠性工程师、产品设计师、系统安全分析师。 --- 第四部分:能源存储与可持续发展技术 面对全球能源转型挑战,高效的储能技术和可持续的工程实践成为热点。 8. 《锂离子电池电化学原理与热管理系统设计》 内容概述: 本书是深入理解现代动力电池技术的专业参考书。前半部分详细阐述了锂离子电池的正负极材料、电解液的电化学反应机理,以及影响其充放电效率和循环寿命的关键因素。后半部分则重点介绍了电池热管理系统(BTMS)的设计。内容涵盖了自然冷却、强制风冷、液冷等不同冷却方式的传热学分析,并提供了基于流体力学模拟(CFD)的电池包内部热失控蔓延的预防性设计策略。 适用读者: 电化学工程师、新能源汽车系统集成工程师、热能与流体工程师。 9. 《绿色建筑与能效优化:暖通空调(HVAC)系统的可持续设计》 内容概述: 本书将绿色建筑理念与复杂的暖通空调系统工程相结合。它不仅介绍了传统的负荷计算和设备选型,更侧重于如何通过变风量(VAV)系统优化、热回收技术以及地源热泵的应用,实现建筑能耗的最小化。书中包含了最新的ASHRAE标准在能效比(EER/COP)评估中的应用,并探讨了建筑信息模型(BIM)技术在能耗模拟和调试过程中的集成方法。 适用读者: 暖通空调设计师、绿色建筑顾问、楼宇自动化工程师。 --- 本导览所列书籍,旨在为追求技术深度和工程实践的专业人士提供高质量的阅读选择,涵盖了从微观材料到宏观系统管理的多个关键领域。希望这些推荐能为您在专业领域的探索提供有力的智力支持。

用户评价

评分

这本书的装帧设计非常引人注目,封面采用了哑光材质,触感细腻,拿在手里感觉很扎实。尤其是那个标题“包邮 ESD揭秘”,用了一种很有设计感的字体,让人一眼就能感受到内容的专业性。内页的纸张质量也相当不错,字迹清晰,印刷油墨浓淡适中,长时间阅读也不会感到眼睛疲劳。我特别欣赏作者在排版上的用心,章节之间的留白处理得很到位,使得整体阅读体验非常舒适。虽然我还没来得及深入阅读,但仅从书籍的物理质感和视觉呈现来看,这绝对是一本值得收藏的专业技术书籍。感觉作者团队对细节的把控非常到位,这种对实体书品质的重视,在现在的技术书籍中已经越来越少见了。

评分

对于初学者来说,一本好的入门或进阶参考书至关重要。我翻阅了这本书的章节结构,感觉它对知识点的循序渐进安排得非常科学。它没有一开始就抛出复杂的公式和晦涩的理论,而是似乎从基础概念开始,逐步引导读者进入更深层次的理解。这种教学的节奏感,对于理工科背景的读者来说,可以大大降低学习曲线的陡峭程度。我希望这本书能清晰地阐述ESD的防护标准是如何制定的,以及不同行业(比如医疗设备或汽车电子)对ESD的要求有何差异。如果能提供清晰的图表和流程图来辅助说明,那就更完美了。

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我最近在寻找关于电子产品可靠性设计方面的深入资料,偶然发现了这本书。虽然我对ESD(静电放电)的认识还停留在基础层面,但这本书的目录结构和前言部分给我的感觉是极具系统性和前瞻性的。它似乎不只是简单罗列技术规范,而是试图构建一个完整的理论框架,从物理机制到实际防护方案都有涵盖。我尤其关注了其中提到的“典型应用”部分,希望能从中学习到一些行业内的最佳实践案例。这本书的深度看起来非常适合需要将理论知识应用于实际工程问题的工程师和技术人员。我期待它能在帮助我优化产品设计流程方面提供实质性的帮助,而不是停留在空泛的理论讲解上。

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这本书的定价对于一本专业技术书籍来说,可以说是相当公道了。考虑到其内容深度和作者在行业内的积累,这个价格入手绝对是物超所值。我通常会比较不同渠道的价格,这次发现包邮确实省了不少额外开支,这对于经常需要采购专业书籍的读者来说是个不小的福利。而且,我非常看重内容的权威性,从这本书的出版社和作者的背景来看,其专业度是毋庸置疑的。我已经迫不及待地想深入研读其中的章节,相信它能为我未来的工作提供坚实的理论支撑。这种知识投资,从长远来看绝对是值得的。

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我关注这本书已经有一段时间了,主要是因为我对提升个人在电子设计领域的专业技能有强烈需求。这本书的书名本身就非常直白地指出了其核心价值——深入揭示ESD的防护原理。在电子行业,静电损伤是导致良率下降和产品失效的常见元凶之一,因此掌握扎实的ESD知识是工程师的必备技能。我特别好奇作者是如何将复杂的电磁场理论和实际的防护材料特性结合起来进行讲解的。这本书的深度应该能满足那些已经有一定经验,希望达到专家级别理解的专业人士的需求。我希望读完之后,不仅能知道“怎么做”,更能理解“为什么这样做”背后的物理学原理。

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